激光共聚焦顯微鏡產品及廠家
smartproof 5快速轉盤共聚焦顯微鏡以共聚焦光學為基本原理，采用獨創的高速轉盤掃描技術為成像方法，將高分辨率與速度完美結合在一起，是一款能夠快速提供工業零部件表面三維輪廓，并可實現非接觸式表面粗糙度測量的精密分析儀器。
更新時間:2025-09-03
激光共聚焦顯微鏡 ncf950 是一款簡單、高效、高度集成的共聚焦顯微鏡。ncf950是為實驗室科學研究設計的重要的基礎工具，提供了強大而穩定的成像能力以及高度集成的電動化能力。共聚焦顯微鏡的應用廣泛，實驗數據可靠，分析處理軟件功能豐富。在細胞及分子生物學、藥物篩選、大腦和神經科學、免疫學、形態學、食品衛生、發酵、遺傳學、藥理學等域具有重要的作用。
更新時間:2025-09-03
激光共聚焦顯微鏡ncf950是一款簡單、高效、高度集成的國產品牌共聚焦顯微鏡。ncf950 是為實驗室科學研究設計的重要的基礎工具，提供了強大而穩定的成像能力以及高度集成的電動化能力。共聚焦顯微鏡的應用廣泛，實驗數據可靠，分析處理軟件功能豐富。在細胞及分子生物學、藥物篩選、大腦和神經科學、免疫學、形態學、食品衛生、發酵、遺傳學、藥理學等域具有不可替代的作用。
更新時間:2025-09-03
imagexpress confocal ht.ai 智能化共聚焦高內涵成像分析系統imagexpress confocal ht.ai 智能化共聚焦高內涵成像分析系統采用了具有 8 個成像通道的 7 色激光光源，實現了高擴展性的多通道成像
更新時間:2025-08-23
imagexpress micro confocal共聚焦高內涵成像系統共聚焦高內涵成像系統ixm-c是目前功能較為靈活的高內涵系統。得益于共聚焦成像清晰的特點，實驗者可以對活細胞或固定后的細胞進行更好的定量分析。利用這套系統實驗者可以輕易
更新時間:2025-08-23
納米檢測顯微鏡 lext ols4500lext ols4500大大縮短了獲取影像時間的同時保護了探針，并且不用擔心觀測目標的丟失。另外，這種一體的革新設計可以實現對同一對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結果分析解釋的準確性和可信度！
更新時間:2025-08-22
高性能fib-sem系統 ethos nx5000采用日立高新的核心技術--全球先的高亮度冷場發射電子槍及新研發的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現高分辨觀察，還可以在fib加工時實現實時觀察。sem鏡筒內標配3個探測器，可同時觀察到二次電子信號的形貌像以及背散射電子信號的成分襯度像；可非常方便的幫助fib找尋到納米尺度的目標物，對其觀察以及加工分析。
更新時間:2025-08-22
高精度實時三維分析fib-sem三束系統nx9000通過自動重復使用fib制備截面和進行sem觀察，采集一系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。采用理想的鏡筒布局，從先進材料、先進設備到生物組織——在寬廣的域范圍內實現傳統機型難以企及的高精度三維結構分析。
更新時間:2025-08-22
在尖端設備及高性能納米材料的評價和分析域，fib-sem已成為不可或缺的工具。近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。日立高新公司，整合了高性能fib技術和高分辨sem技術，再加上加工方向控制技術以及triple beam®＊1（選配）技術，推出了新一代產品nx2000
更新時間:2025-08-22
高性能聚焦離子束系統mi4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統：新型電子光學系統，可達到高水準的sim像分辨率・大束流使加工速度得以提升・提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質tem樣品制備成為可能。可用于截面加工觀察，高品質tem樣品制備，電路修復，vector scan加工，微納米微細圖形及磨具加工，利用沉積功能制作3維構造等眾多樣品加工應用。
更新時間:2025-08-22
共聚焦顯微鏡hsr-8000可對待測物的表面進行非接觸式三維形貌掃描，獲取2d/3d表面形貌、分析微觀輪廓幾何尺寸、粗糙度、平整度、曲率、面形精度等參數指標，提供依據iso/asme/eur/gbt/四大國內外標準共計300余種2d、3d參數作為評價標準。
更新時間:2025-08-21
日本lasertec公司提供的eccs b310/b320型電化學反應可視化共焦系統，可以實現充放電狀態下，鋰電池的電化學反應進程分布的觀察、定量化。本系統使用共焦顯微鏡技術，觀察充放電狀態的鋰電池內部，活性物質的膨脹、收縮、不均勻的反應分布，樹枝晶、氣體產生能夠容易地可視化、定量化，原本需要花費數周、數月的電池初期評價可以縮短數天
更新時間:2025-08-20
梅特勒托利多hs84 dsc顯微熱臺是一種廣泛使用，在樣品加熱或冷卻時觀測所有熱效應的有效方法。樣品加熱或冷卻時對其進行觀測，以便更好地了解轉變的物理特性。
更新時間:2025-08-20
梅特勒-托利多采用 fbrm 技術的顆粒分析利用在線顆粒尺寸、形狀與數目跟蹤技術可以改進過濾性能，避免批次間不一致性及不合格批次。 基于探頭的系統可進行一致性測量，保證從實驗室到中試直至生產的穩定性。
更新時間:2025-08-20
gaia3 是一款完全由計算機控制的鎵離子源聚焦離子束 - 超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注射系統，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的電子光學性能，清晰的數字化圖像，成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點。基于windows平臺的操作軟件提供了簡單的電鏡操作和圖像采集，可以保存標準文件格式的圖片，可以對圖像進行管理、處理和測量，實現了電鏡的自動設置和其它許多自動操作。
更新時間:2025-08-18
solarix xr傅里葉變換離子回旋共振質譜 - 開創質譜領域新時代布魯克高分辨ftms技術讓研究者可以看見他們之前從未看到的信息。這項技術滿足了多種需要超高分辨率的市場需求（如藥物、石油、食品安全等）。solarix xr的價值在于能夠為客戶展現化合物的同位素精細結構。通過布魯克專利的“和諧阱”核心技術獲取同位素結構信息，快速高效、性價比高。
更新時間:2025-08-18
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點特征：--質量穩定：實行過程質量監控，細致入微，方位檢測！--價格合理：高效內部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進生產流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2025-08-16
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點特征：--質量穩定：實行過程質量監控，細致入微，方位檢測！--價格合理：高效內部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進生產流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2025-08-16
上海巴玖提供的共聚焦顯微鏡，具有以下幾點特征：--質量穩定：實行過程質量監控，細致入微，方位檢測！--價格合理：高效內部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！--交貨快捷：先進生產流水線，充足的備貨，縮短了交貨期！
更新時間:2025-08-16
picofemto透射電鏡原位stm-tem力電一體測量系統picofemto透射電子顯微鏡原位tem-stm測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
更新時間:2025-08-15
很低維護成本：設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結構已實現模塊化量產，維護成本低；很大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流；成熟的技術支持網絡：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術支持網點，24小時提供技術支持。
更新時間:2025-08-15
picofemto透射電鏡原位mems氣氛加熱測量系統picofemto透射電鏡原位mems氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 bar & 800 ℃的端觀測條件。
更新時間:2025-08-15
picofemto透射電鏡原位mems液體電化學測量系統，采用全新的o圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。芯片電聯通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學測試環境。
更新時間:2025-08-15
picofemto透射電鏡原位mems低溫電學測量系統，是在標配mems芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
更新時間:2025-08-15
您可輕松調用之的顯微鏡設置并通過獨特的軟件功能“保存和調用”(store and recall) 即時復制成像參數。適用于任何類型的樣本。一鍵式“智能自動化”可讓您輕松搞定重復性工作。這些具有記憶功能的顯微鏡可幫您減少培訓時間、改進工作流程和獲得出色的成像結果 — 始終如一。
更新時間:2025-08-15
徠卡正置式智能顯微鏡dm6m，全自動數字顯微鏡系列為用戶提供了很多所未有的解決方案，其中凸出的一點就是幫助用戶簡化顯微鏡的操作，使顯微鏡使用簡單，準確，得心應手。智能化的設計幫助您以簡單的操作完成復雜的調節程序，實現多種多樣的研究及診斷。
更新時間:2025-08-15
徠卡 dm8000 m 提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (ouv, 隨檢uv 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于新的 led 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 led的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 后的使用成本
更新時間:2025-08-15
該機照明 基于新的 led 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 led的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 后的使用成本.
更新時間:2025-08-15
如果您想要研究晶體結構，偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容，完成您的研究或質量保證任務。
更新時間:2025-08-15
您需要一些組件來實現偏光研究目標。以下都是重要的組件：無應力光學部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學部件led 照明至關重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉臺幫助您對準樣品和光軸您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務的補償器
更新時間:2025-08-15
如果您想要研究晶體結構，偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容，完成您的研究或質量保證任務。令樣品呈現水晶般清晰透亮
更新時間:2025-08-15
徠卡dm750 m是一臺理想地適用于基礎材料應用的工業實驗室或材料科學的光學設備。它的萬能載物臺和反射光系統適合幾乎所有的樣品來獲取高品質圖像。
更新時間:2025-08-15
在競爭中保持先是您事業進的動力。無論您從事金相學、醫療設備制造還是微電子域，速度都顯得至關重要。您可根據自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡優異的光學品質、豐富的對比度模式以及直觀易用的軟件集于一身，有助于加速您的工作流程。
更新時間:2025-08-15
徠卡dmilm倒置金相顯微鏡可配多種觀察筒,適應不同的要求與檢測觀察方式,操作簡單,檢測快捷高效。光學設計上采用先進的hcs無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，徹底消除雜散光等干擾因素；整個光學系統內, 對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等) 進行優化組合，實現圖像分辨率和反差的優化，得到銳利圖像的同時追求高分辨率。
更新時間:2025-08-15
徠卡s系列體視顯微鏡包含s9系列體視顯微鏡s9e/s9d/s9i及s apo為了保持競爭力，持續改進生產、保持低缺陷率以及滿足客戶要求都具挑戰性。徠卡開發的s系列體視顯微鏡系列可助您戰勝這些挑戰
更新時間:2025-08-15
借助徠卡m80，操作者可以看到大型樣品的預覽圖，在顯微鏡下舒適工作，輕松采集重要細節的圖像。利用徠卡 m80的鎖定光圈，可為重復性任務創建可追蹤的測量步驟。
更新時間:2025-08-15
徠卡dvm6視頻顯微鏡，也是一款可單手操作的數碼顯微鏡：攝像頭像素高分辨率高達1000萬，圖像更清晰；16:1的變倍比，更換放大倍率更快；兩個物鏡可覆蓋所有倍率區間。
更新時間:2025-08-15
emspira 3數碼顯微鏡在同一個系統中結合了執行全面的目視檢查所需的所有功能，包括比較、測量和文檔共享。使用emspira 3數碼顯微鏡檢查不同的樣本，快速達到高要求、高通量的目標。 有助高效做出決定，獲益于文檔的安全存儲和輕松分享——無論您以獨立模式還是與計算機相連進行檢查。emspira 3數碼顯微鏡設計堅固，您可以在生產和實驗室環境中充滿信心地注于您的檢查工作。
更新時間:2025-08-15
可容納大樣品尺寸50*50*10mm，可獲得有效切割截面面積>4mm*1mm 三把離子槍，離子束能量1kev-10kev，切割速率150um/h離子束處理過程中樣品位置固定，無需偏轉運動，無投影效應，熱傳導性好
更新時間:2025-08-15
stellaris 8 crs為您提供了一個完全集成的系統， 讓您除了共聚焦熒光強度和壽命信息以外，還可以獲取和關聯各種生化與生理對比，從而充分利用實驗樣品。
更新時間:2025-08-15
徠卡顯微系統采用獨特的設計方法，使您可以在一個系統中進行共聚焦和光片成像， 實現柔和的單平面照明。 我們的數字光片系統(dls)采用垂直設計，可以集成到 stellaris 5 和 stellaris 8 系統中，也可以作為兩種系統的升。 這樣，您就可以受益于完整功能的共聚焦和易于使用的光片顯微鏡， 從而能夠進行更多樣化的研究。
更新時間:2025-08-15
特別的工作任務需要個性化解決方案：根據個人應用配置顯微鏡系統，切勿本末倒置。有了 leica m 系列體視顯微鏡，您可以選擇豐富的附件，讓您的顯微鏡切合應用需求，無論是材料測試還是生命科學研究。
更新時間:2025-08-15
leica em fsp（冷凍替代驅動器），是為leica em afs2特別設計的自動化試劑處理系統，可為冷凍替代和梯度變溫過程自動稀釋和更換試劑。樣品室內部和體視顯微鏡下都裝有led照明燈，觀察和定位樣品簡單方便。
更新時間:2025-08-15
artos 3d (序列斷層成像解決方案) 通過掃描電鏡 (sem) 自動創建并收集數以百計完全適用于序列斷層成像的連續切片帶。節省生物樣品制備和 sem 設置環節的時間和精力，因此您可快速獲得圖像來解答關鍵的研究問題。
更新時間:2025-08-15
配置為濺射鍍膜機或碳絲蒸發鍍膜機后，可以在全自動化系統中獲得可重復的結果，實現了一臺真空鍍膜機設備em ace200具有噴金儀，噴碳儀，蒸鍍儀三種功能。如果您的分析需要這兩種方法，徠卡顯微系統在一臺儀器中提供可互換機頭的組合儀表。
更新時間:2025-08-15
3d白光干涉共焦顯微鏡，集成共聚焦的橫向分辨率和白光干涉儀的縱向分辨率，可快速、準確的獲取高精度表面三維形貌信息，并進行高精度測量和數據分析。
更新時間:2025-08-15
徠卡三維共聚焦干涉顯微鏡dcm8產品特點：leica dcm8采用了*新的非接觸式三維光學表面測量技術。設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術優點的多功能雙核系統。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技
更新時間:2025-08-15
picofemto透射電鏡原位stm-tem低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
更新時間:2025-08-15
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