場發射掃描電鏡產品及廠家
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標準。
更新時間:2025-09-05
jem-3200fs場發射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場發射電子槍（feg）和鏡筒內置式ω型能量過濾器，能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時間:2025-09-05
jem-f200 場發射透射電子顯微鏡，以節能環保、減排低碳為理念開發的jem-f200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-09-05
zeiss商業化電鏡的歷史和經驗已超過60年，其技術先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。zeiss不斷追求、推出新的技術和新的產品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2025-09-03
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發射掃描電鏡。目前歐美地區比較推崇熱場發射電鏡，而日本較熱衷于冷場發射電鏡。該場發射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2025-09-03
日立肖特基場發射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素擴展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號的64倍。利用這一功能，可憑借一張數據圖像有效評估多處局部的細微結構。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據測量樣品與需求調整觀察條件。調整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數據質量與效率差異的因素之一。此系列產品標配自動調整功能，可避免人為操作導
更新時間:2025-08-26
日立大型掃描電鏡近年來為了實現各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優化材料的微細結構。目sem的應用除了以往的研究開發以外，已擴展到質量和生產管理方面，使用頻率日益高漲。同時市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求，以進一步減輕操作人員的負擔 此次發
更新時間:2025-08-26
可根據不同樣品設置不同的觀察條件 樣品倉內的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據需求自行設置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認等一系列操作過程（選配） 在樣品倉上可選配光學相機，樣品開始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實現照片導航功能。
更新時間:2025-08-26
日立高新熱場式場發射掃描電鏡這次新開發的"su5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細節觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設置好。除此之外，使用經驗豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時間:2025-08-26
日立肖特基場發射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領
更新時間:2025-08-26
日立高新熱場式場發射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日
更新時間:2025-08-26
日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測試 可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對 大高度為80mm、重量為2k
更新時間:2025-08-26
日立臺式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術和材料等領域得到廣泛應用。該系列由日立高新技術于2005年4月開始銷售，可放在辦公桌上，
更新時間:2025-08-26
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大
更新時間:2025-08-26
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業研發中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區化學成分。電子光學系統：業配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，大
更新時間:2025-08-25
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業研發中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區化學成分。電子光學系統：專業級配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三級電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，最大
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設備的同時確保高分辨成像功能的應用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區域，同時實現納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有.效地提高檢測速度。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-08-25
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業研發中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區化學成分。電子光學系統：業配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，大
更新時間:2025-08-25
現有機型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。
更新時間:2025-08-22
su7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、in-situ觀察等fe-sem的眾多卓越性能。su7000是一臺實現了信息獲取量大化的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。
更新時間:2025-08-22
最新一代的tescan mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
最新一代的tescan mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
最新一代的tescan mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
全新設計的s8000超高分辨場發射掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于高端的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。
更新時間:2025-08-21
tescan s9000 是一款功能極其強大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。s9000 配置 triglav™ 型 sem 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用于不導電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品，以及在半導體光敏樣品。
更新時間:2025-08-21
maia3 model 2016產品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。
更新時間:2025-08-21
最新一代的tescan mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
maia3 model 2016產品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。
更新時間:2025-08-21
基于高分辨率肖特基feg-sem鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒，lyra3 fib-sem是一款sem與fib良好結合的一體化系統，能夠滿足高要求客戶的需要。
更新時間:2025-08-21
最新一代的tescan mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著最高的性價比
更新時間:2025-08-21
最新一代的tescan mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
vega 3 easyprobe可分為高真空型和可變真空型，其運用的領域非常廣泛，適合各類高等院校或公司選擇。easyprobe是sem/eds一體化機型，實現了one-touch式的操作，使得操作非常簡單，甚至沒有經驗的人員也可以在一天內學會操作。此外，easyprobe可以說是性價比最高的一款sem/eds一體機，軟件配置完整，硬件延續原有的vega并得到進一步發展，是值得信賴的一款sem/eds一體機。
更新時間:2025-08-21
世界第一個完全集成式xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----fera3，提供了超高離子束束流（最高束流為2μa），其濺射速度比ga離子源高50多倍。對于目前浪費時間或不可能進行的需要刻蝕的材料，fera3型儀器是一個不錯的選擇。
更新時間:2025-08-21
tescan s9000 是一款功能極其強大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。s9000 配置 triglav? 型 sem 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度，非常適用于不導電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品，以及在半導體光敏樣品。此外，s9000 配備肖特基場發射電子槍，能夠提供高達 400 na 的束流，結合 triglav? 型 sem 鏡筒所具備的出色納米尺度分析性能和高穩定性，為微分析和長耗時樣品的分析應用提供了最佳條件。
更新時間:2025-08-21
全新設計的s8000超高分辨場發射掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于高端的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。
更新時間:2025-08-21
s8000g是tescan最新s8000系列掃描電鏡的第一個新成員，是一款超高分辨雙束fib-sem系統，它可以提供無與倫比的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以極佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。
更新時間:2025-08-21
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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