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電阻率測定儀產品及廠家

北京表面和體積電阻率測試儀
北京表面和體積電阻率測試儀一、(1)適用標準:gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》;en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》;gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》(與國際標準iec93-1980等效);fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》
更新時間:2025-09-09
廠家表面和體積電阻率測試儀
廠家表面和體積電阻率測試儀適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
FT-300C 碳素材料電導率測試儀
ft-300c 碳素材料電導率測試儀測試精度高,速度快。
更新時間:2025-09-09
FT-351高溫電阻率測試儀
ft-351高溫電阻率測試儀測試效率高,重復性好。
更新時間:2025-09-09
體積電阻率測試儀
體積電阻率測試儀適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
表面電阻率測試儀
表面電阻率測試儀適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流
更新時間:2025-09-09
絕緣材料表面電阻率測試儀
絕緣材料表面電阻率測試儀適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
2683經濟型表面電阻和體積電阻測試儀
2683經濟型表面電阻和體積電阻測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
表面電阻和體積電阻測試儀
表面電阻和體積電阻測試儀 適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
2683數顯絕緣電阻測試儀+三環電極
2683數顯絕緣電阻測試儀+三環電極適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
絕緣材料表面電阻測試儀
絕緣材料表面電阻測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
高溫電阻率測試儀
高溫電阻率測試儀適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ito)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-09-09
高溫導電陶瓷電阻率測試儀
高溫導電陶瓷電阻率測試儀適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ito)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-09-09
硅片高溫方阻測試儀
硅片高溫方阻測試儀適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ito)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-09-09
鍺單晶(棒料、晶片)電阻率測試儀
鍺單晶(棒料、晶片)電阻率測試儀適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ito)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-09-09
高溫四探針測試儀
高溫四探針測試儀 適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ito)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-09-09
半導體高溫電阻測試儀
半導體高溫電阻測試儀適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ito)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據.
更新時間:2025-09-09
材料高溫電阻率測試儀
材料高溫電阻率測試儀適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.
更新時間:2025-09-09
高溫電阻率測試系統
高溫電阻率測試系統適用行業:廣泛用于:生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.
更新時間:2025-09-09
高溫高阻儀
高溫高阻儀 適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
高溫絕緣電阻率測試儀
高溫絕緣電阻率測試儀 適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
高溫體積電阻測試儀
高溫體積電阻測試儀 適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
表面電阻高溫測試儀
表面電阻高溫測試儀適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
高溫表面和體積電阻率測試系統
高溫表面和體積電阻率測試系統 適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
絕緣材料高溫表面電阻測試系統
絕緣材料高溫表面電阻測試系統適用范圍:適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-09-09
四探針測量儀
四探針測量儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
方阻測試儀
方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
表面電阻測試儀
表面電阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
體積電阻測試儀
體積電阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
鋁箔直流電阻測試儀
鋁箔直流電阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
四探針方阻測試儀
四探針方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
電阻測試儀
電阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
方阻儀
方阻儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
方塊電阻測試儀
方塊電阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
方塊電阻測定儀
方塊電阻測定儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
雙電測四探針測試儀
雙電測四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
四探針測試儀
四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09
雙電四探針方阻測試儀
雙電四探針方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-09-09

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