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元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家

智能型LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀
cht3570系列 lcr數(shù)字電橋是采用新測(cè)量原理打造的新款低頻元件測(cè)量?jī)x器,其高精度高測(cè)量速度,大字符液晶顯示屏,表面貼裝技術(shù),人性化的菜單設(shè)置,出色的外觀,無論是應(yīng)用于生產(chǎn)線的質(zhì)量控制,來料檢驗(yàn)和元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)均游刃有余。 rs-232c及handler接口配置為遠(yuǎn)程控制及組建系統(tǒng)提供了技術(shù)平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-09-08
LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀
cht3570 lcr數(shù)字電橋是采用最新測(cè)量原理打造的新款低頻元件測(cè)量?jī)x器,其高精度高測(cè)量速度,大字符液晶顯示屏,表面貼裝技術(shù),人性化的菜單設(shè)置,出色的外觀,無論是應(yīng)用于生產(chǎn)線的質(zhì)量控制,來料檢驗(yàn)和元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)均游刃有余。 rs-232c及handler接口配置為遠(yuǎn)程控制及組建系統(tǒng)提供了技術(shù)平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-09-08
USB2.0測(cè)試平臺(tái),測(cè)試服務(wù),硬件測(cè)試,一致性測(cè)試 USB3.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 USB3.0眼圖測(cè)試 USB3.0一致性
usb3.0、usb2.0一致性測(cè)試、lfps測(cè)試、lfps測(cè)試、眼圖與抖動(dòng)測(cè)試、ssc測(cè)試
更新時(shí)間:2025-09-07
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備本儀器系統(tǒng)由:電磁鐵、電磁鐵電源、*精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦,控溫儀,系統(tǒng)軟件。
更新時(shí)間:2025-09-06
QJ36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀
qj36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀具有價(jià)格低廉、測(cè)量精度高、性能穩(wěn)、使用方便等特點(diǎn),它適用于測(cè)量各種電線、電纜的電阻值、各類線圈、電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻,特別是具有自校功能,提高儀器的精度,省去了操作人員的送檢時(shí)間。因此該儀器廣泛應(yīng)用工廠、科研單位的工作場(chǎng)地和實(shí)驗(yàn)室。
更新時(shí)間:2025-09-06
信號(hào)完整性測(cè)試SI 電源完整性測(cè)試P HDMI接口一致性測(cè)試 USB3.0一致性測(cè)試 以太一致性測(cè)試
spi測(cè)試,硬件測(cè)試服務(wù),信號(hào)完整性測(cè)試,電源完整性測(cè)試
更新時(shí)間:2025-09-05
QK9008D 全自動(dòng)太陽能光伏接線盒綜合測(cè)試儀
qk9008d全自動(dòng)太陽能接線盒測(cè)試儀,使用單片機(jī)控制,智能測(cè)試。采用高速a/d轉(zhuǎn)換器,測(cè)試轉(zhuǎn)換在10ms內(nèi)完成,從而達(dá)到快速測(cè)試。采用線性電源,電壓,電流穩(wěn)定時(shí)間都在10ms內(nèi),而采用開關(guān)電源的測(cè)試儀都在200ms以上。高速測(cè)試,因而測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確反應(yīng)被測(cè)試制品真實(shí)性能,避免了長(zhǎng)時(shí)間加載導(dǎo)致的漂移。
更新時(shí)間:2025-09-05
電子元器件
更新時(shí)間:2025-09-05
電子元器件
slf-41t-p1.3e電子元器件
更新時(shí)間:2025-09-05
電子元器件
slf-01t-p1.3e電子元器件
更新時(shí)間:2025-09-05
三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀
三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀氧化鋅避雷器帶線測(cè)試儀是用于檢測(cè)氧化鋅避雷器電氣性能的用儀器,該儀器適用于各種電壓等的氧化鋅避雷器的帶電或停電檢測(cè),從而及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部絕緣受潮及閥片老化等危險(xiǎn)缺陷。
更新時(shí)間:2025-09-05
石英鐘表精密測(cè)試儀
cx- zb-5 用途:廣泛用于石英鐘表工業(yè)屆的精密測(cè)量的儀器,主要用于測(cè)量鐘表用的石英晶體頻率的精度,及測(cè)量各類石英鐘表,主機(jī)板,pda,dsc,筆記本電腦時(shí)間準(zhǔn)確度的儀器.
更新時(shí)間:2025-09-05
熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)
熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害,減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間,快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。
更新時(shí)間:2025-09-05
元器件模型提取
元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(eda)中,從實(shí)際的元器件(如電阻、電容、晶體管等)或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過程。這一過程通常用于電路仿真,以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3(NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CBB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
PCIE5.0 夾具 驗(yàn)證,調(diào)試和一到性測(cè)試解決方案
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
更新時(shí)間:2025-09-05
FT838NB1 5W充電器/適配器IC方案
ft838nb1 內(nèi)飾npn 5w 充電器方案fmd 代理 大量庫存,聯(lián)系電話:18476656316 曾小姐
更新時(shí)間:2025-09-04
奉化 DT4電工純鐵圓鋼  工業(yè)純鐵棒材
山西盛龍華電磁純鐵用于電器、電訊中的各種類型繼電器的電芯、銜鐵軛鐵;盛龍華電磁鐵的鐵芯材料;儀器、儀表導(dǎo)磁元件;直流電機(jī)的鐵芯和殼體;汽車、拖拉機(jī)和車床的 電器或磁件;制動(dòng)器,離合器。磁屛避器材,如各類磁屛避罩或?qū)伪芎校蟾邔伪茉O(shè)備。密封材料等。
更新時(shí)間:2025-09-03
嘉興DT4C純鐵盤圓
山西盛龍華磁材有限公司成立于2006年,是以純鐵加工、純鐵銷售為主純鐵貿(mào)易公司,公司每年純鐵銷售量高達(dá)10000噸以上。公司主要經(jīng)營電磁純鐵dt系列dt4(a、e、c)及原料純鐵yt0(yt01)系列產(chǎn)品,為用戶提供各種規(guī)格、型號(hào)的電磁純鐵圓鋼、純鐵薄板、純鐵卷料、純鐵中厚板、純鐵鍛材、純鐵冷拔直條、純鐵冷拉光圓,純鐵盤條、爐料純鐵板坯、爐料純鐵方坯、爐料純鐵圓鋼等。
更新時(shí)間:2025-09-03
半導(dǎo)體CMTI測(cè)試系統(tǒng)
?pps-cmtix系列半導(dǎo)體cmti測(cè)試系統(tǒng)是基于全參數(shù)化可調(diào)的半導(dǎo)體共模瞬態(tài)抗擾度(cmti)測(cè)試系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-09-02
大電壓脈沖源表
hvp系列大電壓脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,z大脈沖電壓達(dá)3000v,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中。大電壓源表適用于各行各業(yè)使用者,特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
更新時(shí)間:2025-09-01
LED管iv測(cè)試數(shù)字源表
led必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為i-v特性。通過對(duì)led電特性的測(cè)試,可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓(vf)、反向電壓(vr)及漏電流(ir)等參數(shù),以及相應(yīng)的i-v曲線。led管iv測(cè)試數(shù)字源表找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2025-09-01
源表應(yīng)用之LDO芯片電學(xué)特性測(cè)試
ldo常用的電性能參數(shù)測(cè)試,主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于ldo的測(cè)試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù),因此一般情況下,測(cè)試系統(tǒng)至少需要配置2臺(tái)smu,并采用上位機(jī)軟件(psssmutools)進(jìn)行控制,源表應(yīng)用之ldo芯片電學(xué)特性測(cè)試找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2025-09-01
數(shù)字源表應(yīng)用之LED電性能測(cè)試
led必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為i-v特性。通過對(duì)led電特性的測(cè)試,可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓(vf)、反向電壓(vr)及漏電流(ir)等參數(shù),以及相應(yīng)的i-v曲線。常用的測(cè)試方法一般為在led器件的兩端,加電壓測(cè)試電流,或者加電流測(cè)試電壓,led電性能測(cè)試數(shù)字源表找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2025-09-01
VCSEL測(cè)試設(shè)備
pl系列 vcsel測(cè)試設(shè)備是針對(duì)大功率激光器liv測(cè)試而研制的,觸摸顯示屏全圖形化操作,高靈敏度寬帶光功率檢測(cè),內(nèi)置liv測(cè)試軟件加速用戶完成測(cè)試,具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流大、支持脈沖光功率檢測(cè)等功能
更新時(shí)間:2025-09-01
氣敏電阻電性能測(cè)試數(shù)字源表
普賽斯儀表氣敏電阻電性能測(cè)試數(shù)字源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身,廣泛用于各類精密器件的測(cè)量:半導(dǎo)體ic或元器件,功率器件,傳感器,有機(jī)材料與納米材料等特性測(cè)試和分析。
更新時(shí)間:2025-09-01
數(shù)字源表iv測(cè)試氣敏電阻
數(shù)字源表iv測(cè)試氣敏電阻找武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,普賽斯s型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),單通道,不支持脈沖輸出,觸摸屏操作,支持多種通訊方式,rs-232、gpib及以太網(wǎng);z大輸出電壓達(dá)300v,z小測(cè)試電流達(dá)100pa,支持usb存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告,s系列源表價(jià)格優(yōu)勢(shì)明顯;
更新時(shí)間:2025-09-01
VCSEL測(cè)試系統(tǒng)
pl系列vcsel測(cè)試系統(tǒng)是為大功率激光器liv測(cè)試而研制的,大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時(shí)發(fā)熱嚴(yán)重,而激光器受溫度影響非常大,直流或?qū)捗}沖下的測(cè)試結(jié)果并不能反映器件特性。
更新時(shí)間:2025-09-01
功率器件CV測(cè)試儀
普賽斯功率器件cv測(cè)試儀主要由源表、lcr 表、矩陣開關(guān)和上位機(jī)軟件組成。lcr表支持的測(cè)量頻率范圍在0.1hz~1mhz,源表(smu)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關(guān)加載在待測(cè)件
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晶圓微電流測(cè)試數(shù)字源表
晶圓微電流測(cè)試數(shù)字源表是電學(xué)測(cè)試的必備儀器之一,是一種多用途儀器、特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、太陽能電池、印刷電子技術(shù)等域
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功率器件測(cè)試系統(tǒng)
普賽斯igbt功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),集多種測(cè)量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測(cè)量igbt功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uq精確測(cè)量、na電流測(cè)量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。功率器件測(cè)試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
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最新產(chǎn)品

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