X熒光光譜儀產(chǎn)品及廠家
天瑞儀器針對edx1800在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款xrf檢測儀edx1800b。應用新代的高壓電源和x光管，提高產(chǎn)品的性；利用新x光管的大功率提高儀器的測試效率。
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器針對edx1800重金屬rohs儀器 在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款edx1800b。應用新代的高壓電源和x光管，提高產(chǎn)品的性；利用新x光管的大功率提高儀器的測試效率。
更新時間:2025-05-14
thick 800a鋁鍍銅層測厚儀 元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。 分析含量般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器針對edx1800在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款edx1800b。應用新代的高壓電源和x光管，提高產(chǎn)品的性；利用新x光管的大功率提高儀器的測試效率。
更新時間:2025-05-14
thick800a金屬鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款厚度測試儀器，配備移動平臺，可自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加，高清攝像系統(tǒng)，整個測試系統(tǒng)更加清晰。
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器在edx3600b引進美產(chǎn)的鹵素測試x光管，利用高信噪比的電子線路單元和鹵素測試專用x熒光分析軟件,鹵素測試專用配件是針對鹵族元素(特別是氯元素)的測試而開發(fā)。經(jīng)過多次實驗無鹵分析所得數(shù)據(jù)分析，無鹵分析的結果十分接近標準值，edx3600b rohs環(huán)保檢測設備可廣泛應用于各種類型的無鹵測試。
更新時間:2025-05-14
thick800a是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時間:2025-05-14
thick800a鍍層測厚儀是天瑞儀器集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加。
更新時間:2025-05-14
x熒光檢測儀由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)生產(chǎn)x熒光檢測儀,測量元素范圍：從鈉（na）到鈾（u）；元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）；同時分析元素：次性可測幾十種元素；測量時間：60秒-200秒
更新時間:2025-05-14
edx1800b是款專門rohs檢測儀器，其核心光路系統(tǒng)集合內(nèi)外幾十年edxrf尖端技術，核心部件采用美進口，軟件算法采用美edxrf前沿技術，儀器所用標準樣品均有權威三方檢測機構報告；heleexe8精密度高、度、檢出限等技術參數(shù)面超過內(nèi)外同類儀器。
更新時間:2025-05-14
thick800a鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加。
更新時間:2025-05-14
天瑞x－ray光譜膜厚儀，采用了高次數(shù)率的比例接收器，可以在沒有標準片的情況下，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出的測量，另外在winftm basic 軟件的支持下，可測量多至24元素，這是其他品牌所不能的。天瑞x－ray光譜膜厚儀的穩(wěn)定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時間及次數(shù)，便于管理儀器，并提高生產(chǎn)效率.應用范圍廣泛，包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層。
更新時間:2025-05-14
天瑞公司的thick80a鍍層測厚儀使用上照設計，開放樣品腔，自動平臺定位功能，滿足各種金屬鍍層的厚度測試。測試范圍0-50微米之間，分析速度30秒。
更新時間:2025-05-14
古董元素分析儀為用戶提供了種操作方便且性價比極高的檢測技術，無需將檢測工具探入到被測樣件的材料中，也不會損壞被測樣件，更不需要熔樣或細微的損壞,即可獲得樣件的古董中的化學成份信息。與化學試劑測試法相比，使用x r f對古董進行分析是種更迅速、更經(jīng)濟的多元素檢測方法。該分析儀是古文物檢測必備的科學檢測儀器。中歷史博物館、收藏家協(xié)會等都是用戶。
更新時間:2025-05-14
天瑞手持式光譜儀用于考古發(fā)掘，文物及藝術品保護等領域已有五十多年的歷史。但直到近功能強大的手持式設備的開發(fā)，才使得這項非破壞性檢測技術在該領域得以充分發(fā)展。由于可應用于現(xiàn)場的分析工作，手持熒光光譜儀在可檢測的樣品上也有了大的拓展。
更新時間:2025-05-14
rohs檢測儀器的性能特點是下照式，能可滿足各種形狀樣品的測試需求 。采用多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 。精細的手動移動平臺，方便定位測試點 。高分辨率探測器，提高分析的性 。新代的高壓電源和x光管，性能穩(wěn)定，高達100w的功率實現(xiàn)更高的測試效率。 咨詢edx1800b價格請聯(lián)系天瑞儀器。
更新時間:2025-05-14
edx1800b型 x熒光分析儀具有分析精度高、測試速度快、測試簡單等優(yōu)點。可完滿足rohs/weee相關管控要求，符合際電工委員會iec62321標準及中環(huán)保標準所規(guī)定的技術要求和技術規(guī)范。
更新時間:2025-05-14
天瑞rohs儀器由初的代edx3000系列，到目前的edx1800系列，經(jīng)過十年多年的技術開發(fā)和生產(chǎn)結晶，目前已經(jīng)成為環(huán)保rohs測試的標準測試機。新代大功率x光管和天瑞專利技術信噪比增強器能夠極大的提高x熒光信號的計數(shù)率。以云計算為核心的fp軟件算法能夠很好的將熒光信號轉換成元素的含量比。
更新時間:2025-05-14
rohs環(huán)保設備edx1800b可以測試重金屬，同時可以用于鋼鐵檢測、元素分析、有害元素檢測（rohs、鹵素等）
更新時間:2025-05-14
rohs環(huán)保檢測儀edx1800e是款集rohs指令/鹵素指令/八大重金屬指令體的x熒光光譜儀。對鉛、汞、鎘、鉻、溴、氯、砷、銻、硒、鋇等元素有很好的檢測下限以及精度。
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內(nèi)容等各個方面為客戶提供的服務。
更新時間:2025-05-14
thick800a x射線熒光鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款金屬鍍層測試儀器，配備移動平臺，可自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加。重量：90 kg
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器針對edx 1800b在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款edx 1800e。應用新代的高壓電源和x光管，提高產(chǎn)品的性；利用新x光管的大功率提高儀器的測試效率。
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器鍍層測厚儀thick800a是天瑞生產(chǎn)研發(fā)的款專業(yè)鍍層測厚儀。鍍層膜厚是電鍍產(chǎn)品的重要技術指標，關系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。 thick800a鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款膜厚測試儀器，配備移動平臺，可自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加。
更新時間:2025-05-14
x射線鍍層厚度分析儀thick800a是款通用型能量色散型x射線熒光光譜儀（edxrf)，專門用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美進口，軟件算法采用美edxrf前沿技術，儀器所用標準樣品均有權威三方檢測機構報告；精密度、度、檢出限等技術參數(shù)面超過內(nèi)外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到的測試效果。
更新時間:2025-05-14
手持式有害元素分析儀器由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)生產(chǎn)手持式有害元素分析儀器,探險者explorer手持式x熒光分析儀(手持式光譜儀)是天瑞儀器結合10年手持xrf技術研發(fā)經(jīng)驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產(chǎn)權的新代手持xrf產(chǎn)品。
更新時間:2025-05-14
天瑞儀器針對edx1800在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款edx1800b。應用新代的高壓電源和x光管，提高產(chǎn)品的性；利用新x光管的大功率提高儀器的測試效率。
更新時間:2025-05-14
氯和溴檢測儀主要由激發(fā)源x射線管產(chǎn)生入射x射線(次x射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每種元素會放射出二次x射線，并且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次x射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
更新時間:2025-05-14
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