X射線衍射儀產品及廠家
x射線衍射儀arl 9900是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
更新時間:2025-08-18
集成 xrd 功能的arl 9900 xrf 系列是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制，arl 9900 能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
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集成 xrd 功能的 thermo scientific arl 9900 xrf 系列是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制，能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。還可通過峰面積計算進行定量分析，通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-08-18
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
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島津x射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。q -6154
更新時間:2025-08-18
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
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cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，鈦白粉行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。采用了新型x光管――第二代陶瓷x光管；新型測角儀――采用dops直接光學定位傳感器精確定位的高精度測角儀，有最優化的控制臺及簡單易操作、功能強大的窗口軟件industry。2010年更推出新的高速衍射儀 cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最新開發出的專門用于工業領域開發與質量控制的x射線衍射儀。
更新時間:2025-08-18
x'pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， x'pert pro mrd/ xl 滿足半導體、led、薄膜和高級工業材料的所有高分辨xrd分析需要。xl可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析，并有精密的自動晶片裝載選擇；xl成為薄膜生產發展的先進的分析手段，led的業界標準。
更新時間:2025-08-18
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發的x光管，最先進的測角儀的、獨特的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。世界上第一個衍射平臺上的三維探測系統， pixcel3d 探測器將使用于這一多功能的x-射線衍射系統上，將面探測技術與ct技術平民化。
更新時間:2025-08-18
儀器簡介： x'pert powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。超高頻x射線發生器采用第二代陶瓷x光管專利技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換x光管后無需重新校準路立式測角儀，采用dops直接光學位置編碼專利技術
更新時間:2025-08-18
全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
更新時間:2025-08-18
x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是第一款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
更新時間:2025-08-18
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