X射線衍射儀產品及廠家
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-08-18
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。q -6154
更新時間:2025-08-18
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
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島津x射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。q -6154
更新時間:2025-08-18
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
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cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，鈦白粉行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。采用了新型x光管――第二代陶瓷x光管；新型測角儀――采用dops直接光學定位傳感器精確定位的高精度測角儀，有最優化的控制臺及簡單易操作、功能強大的窗口軟件industry。2010年更推出新的高速衍射儀 cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最新開發出的專門用于工業領域開發與質量控制的x射線衍射儀。
更新時間:2025-08-18
x'pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， x'pert pro mrd/ xl 滿足半導體、led、薄膜和高級工業材料的所有高分辨xrd分析需要。xl可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析，并有精密的自動晶片裝載選擇；xl成為薄膜生產發展的先進的分析手段，led的業界標準。
更新時間:2025-08-18
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發的x光管，最先進的測角儀的、獨特的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。世界上第一個衍射平臺上的三維探測系統， pixcel3d 探測器將使用于這一多功能的x-射線衍射系統上，將面探測技術與ct技術平民化。
更新時間:2025-08-18
儀器簡介： x'pert powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。超高頻x射線發生器采用第二代陶瓷x光管專利技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換x光管后無需重新校準路立式測角儀，采用dops直接光學位置編碼專利技術
更新時間:2025-08-18
全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
更新時間:2025-08-18
x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是第一款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
更新時間:2025-08-18
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