表面阻抗分析儀產品及廠家
型號：mcp-t370中文名稱：低阻抗率計 mcp-t370型 (手提式)英文名稱：loresta-ax廠牌：日東精工分析科技供應商：南北貿易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學分析科技) 臺灣總代理相關網頁
更新時間:2025-08-26
型號：mcp-ht800中文名稱：高阻抗率計 mcp-ht800型 (桌上型)英文名稱：hiresta-ux廠牌：日東精工分析科技供應商：南北貿易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學分析科技) 臺灣總代理相關網頁
更新時間:2025-08-26
型號：mcp-pd51中文名稱：粉體阻抗測定系統 mcp-pd51英文名稱：mcp-pd51廠牌：日東精工分析科技供應商：南北貿易有限公司 日東精工分析科技(三菱化學分析科技) 臺灣總代理相關網頁
更新時間:2025-08-26
產品摘要：mcp-t700特性：基于4探針測試原理可以精準而快速的測試材料的低電阻特性;4-pin測試原理可以有效消除探頭接觸樣品的接觸電阻及導線的電阻；mcp系列鍍金彈簧探針針距恒定，且與測試樣品接觸的壓力恒定。用途：用于工程生產、質量控制、研發mcp-t700應用域：1、導電涂料
更新時間:2025-08-26
低阻雙電四探針測定儀廠家采用四探針法測試的導電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質要求測量的材料。低阻雙電四探針測定儀可以測試到1uω方阻值。低阻雙電四探針測定提供中文或英文語言版本。
更新時間:2025-08-25
導電粉末電阻率四端法測試儀的的生產粉末電阻率四端法測試儀可以顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算.適用于鋰電池材料、石墨烯、石墨類、碳素粉末、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導電粉末樣品質量的一種工具。
更新時間:2025-08-25
絕緣材料體積電阻率測試儀現貨，絕緣材料體積電阻率測試儀測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、靜電產品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計算機房靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。
更新時間:2025-08-25
系列絕緣粉末電阻率測試儀詳情介紹實時測量粉末樣品受到壓力后，體積變化過程中電阻，電阻率，的變化，直至壓實至穩定體積狀態；即空隙率很小接近于零.
更新時間:2025-08-25
石墨烯粉末電阻率測試系統采用pc軟件過程數據分析.直接粉體粉體壓強、電阻值、電阻率、電導率值的變化圖譜關系.運行模式為自動運行模式.測試的功能是粉末比電阻、電阻率、電導率分析為一體.
更新時間:2025-08-25
金屬涂層表面電阻（方阻）測試儀適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層。
更新時間:2025-08-25
雙電四探針粉末電阻率測試儀（智能型）使用說明， 全程采用pc軟件操作，粉體壓縮前及壓縮后壓力增減過程中粉體因自身特性內聚力反彈形變或恢復過程變化曲線圖譜；自動測試過程數據曲線及圖譜分析，實時分析壓強/壓力與電阻。
更新時間:2025-08-25
絕緣材料表面/體積電阻率測試儀詳情介紹絕緣材料表面/體積電阻率測試儀是測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、靜電產品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計算機房靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-08-25
ft-303b型表面電阻率測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-08-25
四探針測試儀品牌@市場快訊采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表。
更新時間:2025-08-25
ft-336型四探針電阻率測試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-08-25
智能炭塊電阻率測定儀，采用步進定位90度或120度旋轉測量系統,壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數據,可編輯報表生成,自動分析均值,偏差值等數據. 一體化設計結構.人性化模塊操作界面.
更新時間:2025-08-25
四點探針測試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國a.s.t.m 標準。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針法粉末測試平臺參照gbt308
更新時間:2025-08-25
全量程四探針測試儀，四探針法，可測微歐到兆歐方阻值量程，采用ad芯片控制，恒流輸出， pc軟件運行，自動數據測量和系數修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導率數據；中文或英文語言版本；具有屏蔽功能；參考美國 a.s.t.m 標準。單晶硅物理測試方法
更新時間:2025-08-25
導體和絕緣材料電阻率測試儀，具有寬量程測試范圍，覆蓋從導體材料至絕緣材料測試的測量；pc軟件對數據處理和分析，直讀電阻，電阻率和電導率數據，具有屏蔽保護功能，一體化結構設計，配備低阻和高阻測量治具；232通訊端口，標準電阻校準儀器；提供中文或英文操作界面.
更新時間:2025-08-25
自動鋰電池片電導率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設定； pc軟件界面操作，實現壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；
更新時間:2025-08-25
導電和抗靜電橡膠電阻率測試儀，含有炭黑或電離物質的導電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經特殊制備的試樣在實驗室對其體積電阻率的測定，在橡膠配料中摻入電離物質也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10ω.m的物質.
更新時間:2025-08-25
材料高溫電阻率測試系統，材料電阻、電導率和電阻率，并配合溫度試驗箱結合高溫治具與pc軟件對數據的處理和測量控制，解決材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析.
更新時間:2025-08-25
高絕緣電阻率測試儀，測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。高絕緣電阻率測試儀
更新時間:2025-08-25
電池片電導率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設定； pc軟件界面操作，實現壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；
更新時間:2025-08-25
四探針法粉末電導率測試儀，已知量的粉體，在液壓動力下壓縮體積至設定壓力值或壓強，在線測量粉體電阻、電阻率、電導率，并記錄數據.解決粉體難壓片成型或壓片取出測量誤差.
更新時間:2025-08-25
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態。
更新時間:2025-08-25
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2025-08-25
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治
更新時間:2025-08-25
粉末電阻率測試儀 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試
更新時間:2025-08-25
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2025-08-25
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-08-25
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦
更新時間:2025-08-25
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀的供應商根據國標gb11017-89所規定的測試方法和技術要求制造，用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，四端法測試原理，通過測試裝置能夠滿足不同線徑之產品測量其屏蔽層電阻率。
更新時間:2025-08-25
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數據管理粉體受到壓縮直至平穩時，粉體空隙率非常小，壓實密度接近于真密度狀態，則此時測試出來的粉末電導率為接近于理論值.
更新時間:2025-08-25
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
更新時間:2025-08-25
粉塵電阻率測試儀檢測方法yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6部分 粉末電阻率的測定；標配手動粉末測試裝置,測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求..
更新時間:2025-08-25
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ito導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ito導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，pcb銅箔膜，emi涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， emi 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，
更新時間:2025-08-25
采用四端測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室；是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的工具。可配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補償功能，自動量程，自動測量電阻，電阻率，電導率數據。恒流源輸出；選配：pc軟件過程數據處理和標準電阻校準儀器，薄膜按鍵中文或英文兩種語言界面選擇
更新時間:2025-08-25
yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6部分 粉末電阻率的測定；標配手動粉末測試裝置,測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求..
更新時間:2025-08-25
哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測試儀gb/t 20042.6-2011質子交換膜燃料電池 第6部分：雙極板特性測試方法中四探針低阻測量和接觸電阻測試方法及要求
更新時間:2025-08-25
高溫型粉末電阻率測試儀在高溫環境下采用壓片法實時測試粉體電性能，分析粉體在高溫環境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關系，模擬材料在使用環境和自身特性高溫環境下的電性能狀態.為品質管理，新品研發調整配比, 生產工藝調整提供參考數據.對材料未來使用的不確定性影響因數進行預測分析，建立產品從研發到生產的數據庫.
更新時間:2025-08-25
多功能材料電阻率測試儀新品采用pc軟件操作;曲線圖譜分析，過程數據分析，報表導出和管理等；配置不同的測量電極，固體材料的形變（如：壓縮，彎曲，斷裂等情況下）的電性能狀態，從而描述材料性能和壽命等相關性能指標.
更新時間:2025-08-25
系列材料電阻率測試儀（手動型）在不同的壓力下描述導電材料的電性能變化關系,分析材料的體積電阻、接觸電阻、過渡電阻等數據;電阻率和電導率(需要人工讀取并輸入樣品厚度可獲得).
更新時間:2025-08-25
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-08-25
薄膜電阻率測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-08-25
薄膜或涂層方塊電阻測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-08-25
導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-08-25
端子電壓降測試儀滿足標準：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標準要求和測試規范，電壓降實驗按qc/t29106-2004標準5.7進行實驗 qc/t29106-2004標準.
更新時間:2025-08-25
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