表面阻抗分析儀產品及廠家
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2025-08-25
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-08-25
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦
更新時間:2025-08-25
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀的供應商根據國標gb11017-89所規定的測試方法和技術要求制造，用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，四端法測試原理，通過測試裝置能夠滿足不同線徑之產品測量其屏蔽層電阻率。
更新時間:2025-08-25
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數據管理粉體受到壓縮直至平穩時，粉體空隙率非常小，壓實密度接近于真密度狀態，則此時測試出來的粉末電導率為接近于理論值.
更新時間:2025-08-25
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
更新時間:2025-08-25
粉塵電阻率測試儀檢測方法yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6部分 粉末電阻率的測定；標配手動粉末測試裝置,測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求..
更新時間:2025-08-25
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ito導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ito導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，pcb銅箔膜，emi涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， emi 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，
更新時間:2025-08-25
采用四端測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室；是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的工具。可配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補償功能，自動量程，自動測量電阻，電阻率，電導率數據。恒流源輸出；選配：pc軟件過程數據處理和標準電阻校準儀器，薄膜按鍵中文或英文兩種語言界面選擇
更新時間:2025-08-25
yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6部分 粉末電阻率的測定；標配手動粉末測試裝置,測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求..
更新時間:2025-08-25
哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測試儀gb/t 20042.6-2011質子交換膜燃料電池 第6部分：雙極板特性測試方法中四探針低阻測量和接觸電阻測試方法及要求
更新時間:2025-08-25
高溫型粉末電阻率測試儀在高溫環境下采用壓片法實時測試粉體電性能，分析粉體在高溫環境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關系，模擬材料在使用環境和自身特性高溫環境下的電性能狀態.為品質管理，新品研發調整配比, 生產工藝調整提供參考數據.對材料未來使用的不確定性影響因數進行預測分析，建立產品從研發到生產的數據庫.
更新時間:2025-08-25
多功能材料電阻率測試儀新品采用pc軟件操作;曲線圖譜分析，過程數據分析，報表導出和管理等；配置不同的測量電極，固體材料的形變（如：壓縮，彎曲，斷裂等情況下）的電性能狀態，從而描述材料性能和壽命等相關性能指標.
更新時間:2025-08-25
系列材料電阻率測試儀（手動型）在不同的壓力下描述導電材料的電性能變化關系,分析材料的體積電阻、接觸電阻、過渡電阻等數據;電阻率和電導率(需要人工讀取并輸入樣品厚度可獲得).
更新時間:2025-08-25
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-08-25
薄膜電阻率測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-08-25
薄膜或涂層方塊電阻測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-08-25
導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-08-25
端子電壓降測試儀滿足標準：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標準要求和測試規范，電壓降實驗按qc/t29106-2004標準5.7進行實驗 qc/t29106-2004標準.
更新時間:2025-08-25
經濟型表面電阻和體積電阻測試儀 適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-08-25
ft-310炭素材料電阻率測試儀四端測試法測量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動顯示電流和電壓并根據測試產品特性自動轉換測試量程，無需手動調節和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率等數據，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測試數據之圖表和測試結果。根據產品形狀不同可以選配測試治具.
更新時間:2025-08-25
lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測儀該儀器適用于測量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降,從而判斷接線口優劣,也可檢查插頭線在完成標準規定的彎曲試驗次數后的斷線情況。該儀器同時適用于測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品之電壓降測試本儀器有可調的大電流輸出,微電壓測試,數碼管顯示。滿足標準：sae/uscar38 2009
更新時間:2025-08-25
鋰電池粉末電阻率測試儀 采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定.
更新時間:2025-08-25
四探針粉末電阻率測試,粉末電阻儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求
更新時間:2025-08-25
ft-300i 高精度粉末電阻率測試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測試儀 粉末電阻率測試儀 一、功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求
更新時間:2025-08-25
ft-300ⅳ半導體粉末電阻率測試儀ft-300ⅳ半導體粉末電阻率測試儀滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；
更新時間:2025-08-25
電線電阻率測試儀 測量金屬材料體積電阻率和質量電阻率時，可以測量全規格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢、硅合金線的電阻率。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表.電纜電阻率測量儀 電線電阻率測試儀 電纜電阻率測量儀
更新時間:2025-08-25
材料電導性能測試儀,自動電阻率測試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測試儀一.本儀器采用四端測量方式，測試材料超低電阻、電阻率和高導電性能數據。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源，高效率，穩定度和準確性高；有手動和自動設定模式；并根據測試產品特性自動轉換測試量程，無需手動調節和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率、電導率、電
更新時間:2025-08-25
ft-300a1導體材料電阻率測試儀 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.
更新時間:2025-08-25
ft-300a2通用型材料電阻率測試儀 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-08-25
ft-301多功能粉末電阻率測試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測試儀優勢：1.本機自帶軟件由電腦自動控制儀器工作
更新時間:2025-08-25
上海四探針方塊電阻測試儀 、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求 上海四探針方塊電阻測試儀
更新時間:2025-08-25
四探針方阻測試儀操作方法 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針 ft-332四探針 四點探針 四探針測試儀
更新時間:2025-08-25
四探針電阻率測試儀,方阻儀 顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 四探針電阻率測試儀,方阻儀
更新時間:2025-08-25
硅材料測試儀-四探針法測試臺 探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.硅材料測試儀-四探針法測試臺
更新時間:2025-08-25
ft-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 ft-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀
更新時間:2025-08-25
ft-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀 利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響 ft-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀
更新時間:2025-08-25
ft-346雙電測四探針電阻率測試儀 質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示 ft-346雙電測四探針電阻率測試儀
更新時間:2025-08-25
ft-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀 ft-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀,電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
更新時間:2025-08-25
粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀）材料的電阻和電阻率 粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀
更新時間:2025-08-25
絕緣粉末電阻率測試儀， 電路結構采用集成電路及高精度芯片控制系統，滿足測試數據的高效采集和數據的讀取.自動量程轉換 絕緣粉末電阻率測試儀
更新時間:2025-08-25
ft-351高溫四探針電阻率測試系統 ，爐膛材料：采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征 usb通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據 ft-351高溫四探針電阻率測試系統
更新時間:2025-08-25
四探針探頭批,發四探針臺 ， 采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理.
更新時間:2025-08-25
智能型雙電測四探針測試儀，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理.
更新時間:2025-08-25
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