Zeta電位儀產品及廠家
js94k2m型zeta電位測量儀(微電泳儀)可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優越性。
更新時間:2025-05-14
js94j 型zeta電位測量儀(微電泳儀)可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優越性。
更新時間:2025-05-14
zeta電位測定儀zetacad：是專門用多孔塞技術直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀。該技術適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時間:2025-05-14
zeta cad表面zeta電位分析儀是專門用多孔塞技術直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀。該技術適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時間:2025-05-14
膜zeta電位分析儀是門用多孔塞技術直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀，該技術適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質可以透過的曲面膜或中空纖維樣品
更新時間:2025-05-14
litesizer™ 500 納米粒度及zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器。它可通過測量動態光散射 (dls)、電泳光散射 (els) 和靜態光散射 (sls) 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質量。
更新時間:2025-05-14
zetacompact®圖像法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時間:2025-05-14
密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。顯微電泳法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時間:2025-05-14
zetacad固體表面zeta電位分析儀是直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學于材料科科學領域內改善和調整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。
更新時間:2025-05-14
液體介電常數測定儀是從純水到非極性有機溶劑的介電常數測定，英文名：liquid dielectric constant meter，操作極其簡單，只要將電極插入液體，并調節前面板上的兩個控制鈕， 即可讀出所顯示的介電常數值。
更新時間:2025-05-14
電聲法孔隙率及zeta電位分析儀基于電聲學原理，幾乎能夠應用于所有類型的多相異構系統，包括固體顆粒物、沉積物、多孔材料等。孔隙度的測量是基于我們的高頻電導探頭。包括巨石、地核、瓷磚、cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等
更新時間:2025-05-14
高濃體系zeta電位分析儀基于電聲法原理,利用超聲波在含有顆粒的連續相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒。無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量，包括cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥，化妝品、藥物乳劑等
更新時間:2025-05-14
高分辨率納米粒度和zeta電位分析儀 基于動態光散射（dls）和激光多普勒電泳（lde）技術，可提供高分辨率，準確和快速的粒度和zeta電位測試及原位測試。
更新時間:2025-05-14
dt300/310粒度和zeta電位分析儀器采用多頻電聲學測量技術測量膠體體系的zeta 電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用其直接進行測量。
更新時間:2025-05-14
歐奇奧 sievecal篩網校準檢測儀通過全計算機控制的標準操作程序（sop）提供篩網表面的一個完整掃描。快速高分辨工業相機, 結合遠心鏡頭和平行背光可在篩網旋轉和轉換中獲得圖像。軟件實時計算網孔大小和絲徑粗細。檢測結束后，將檢測報告打印或存儲在電腦中
更新時間:2025-05-14
zeta電位分析儀 研究對象：纖維、薄膜、粉末、粒子、固體金屬或非金屬片等材料。 主要用途：測量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。
更新時間:2025-05-09
多孔固體孔隙率和表面電位分析儀wave 2305是安東帕中國儀器公司（quantachrome）根據全新的電聲孔徑分析法開發的、對樣品進行無汞、非真空、無需高純氣快速測量的一款綠色環保的孔隙率和表面電位分析儀。
更新時間:2025-05-09
zetafinder zf400高濃度zeta電位分析儀 ，采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量zeta電位、ph、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；
更新時間:2025-05-08
chdf4000是基于光散原理的儀器，使用最新的技術對高分辨率的粒度分布(psd)進行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態范圍、納米粒子的優化分析；chdf4000可提供完整范圍5納米至nm3微米，真實的psd數據；
更新時間:2025-05-08
zetaacoustic za500 電位分析儀，結合zeta電位分析儀、聲波、電聲測量三合一很強，高的分辨率，免稀釋 zeta電位分析。mas應用科學公司發明電動聲波振幅（esa）技術用于高百分比之固體 zeta 表面測量。mas將其獨特的專業知識應用在 zeta 電位和粒度分析儀器的設計，使其成為 mas很強而有力的發明zeta電位量測儀。
更新時間:2025-05-08
采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量zeta電位、ph、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；
更新時間:2025-05-08
zeta電位分析儀zeta可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
更新時間:2025-05-08
zetafinder電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現場或實驗中獲取，可直接實時獲得理想的數據
更新時間:2025-05-08
美國mas納米粒度及zeta電位分析儀,可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
更新時間:2025-05-08
粒徑檢測分析儀美國mas公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 zeta電位分析儀的研發生產。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導致聲波衰減程度不同。粒徑分析儀根據顆粒大小和聲波衰減之間的函數關系，得到顆粒的粒度
更新時間:2025-05-08
zeta電位測定 美國maszeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
更新時間:2025-05-08
1)可進行詳細的、絕對的粒度分析，不需要稀釋；2)不需要設置稀顆粒大小數據，aps可測量未稀釋的和/或不透明的樣品；3)更好的是，與其他粒度分析儀不同的是，你不必知道一個先驗的或猜測的樣品粒度分布(psd)形狀；4)aps同時產生未稀釋的psd數據，聲衰減和聲音速度譜，固體含量，ph，電導率和溫度；
更新時間:2025-05-08
zeta-asp是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀，可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。結構設計緊揍，外置的zeta電位滴定裝置(可選配)自動摘定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到最佳分散劑和絮凝劑
更新時間:2025-05-08
arepa 原液在線納米粒度儀，在線粒度測量，工業加工狀態，不必稀釋樣品經硬件設計可全(24 hours/7 days) 候運作，無需移動部件實時控制的快速測量 這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業生產; 如加工管道、化學反應器、瓷磚印刷設備、半導體 cmp 拋光、石油生產/加工、藥品輸送系統等，同時具有顯著的經濟效益。
更新時間:2025-05-08
該儀器可同時測量zeta電位、ph、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；自動滴定法用于簡單的iep測量；
更新時間:2025-05-08
美國mas公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 zeta電位分析儀的研發生產。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導致聲波衰減程度不同。根據顆粒大小和聲波衰減之間的函數關系，得到顆粒的粒度
更新時間:2025-05-08
電聲法zeta電位分析儀,樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；
更新時間:2025-05-08
超聲法原理粒度電聲法zeta電位分析儀可以檢測樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
更新時間:2025-05-08
美國maschdf3000-原液高濃度納米粒度儀精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。自動/無人操作。所有組件都在個簡易單窗口界面控制和操作。
更新時間:2025-05-08
分餾法原液高分辨納米粒度儀毛細管流體分離（chdf）技術是種高分辨的粒度分布（psd）檢測技術。毛細管流體分離技術（chdf）用于測量粒徑在5nm-3μm 范圍內膠體的粒度分布（psd）。
更新時間:2025-05-08
超聲電聲法zeta電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現場或實驗中獲取，可直接實時獲得理想的數據
更新時間:2025-05-08
美國mas高分辨納米粒度zeta電位分析儀粒子分餾的真的 psd 數據。無需對粒徑分布的形狀進行假設。精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
更新時間:2025-05-08
美國mas粒度zeta電位分析儀可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導等。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
更新時間:2025-05-08
美國mns公司超聲粒度儀系列主要由 zeta-aps,aps-100,zetafinder zf400,zetaacoustic za500,chdf-3000/4000組成，可以為各行業提供業的粒度和zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發生器發出一定頻率和強度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導致聲波衰減程度不同。
更新時間:2025-05-08
美國mas公司研發的多功能超聲粒度分析儀系列產品，完美的解決了目市面上光學方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復雜體系無法給出真實的粒度分布等 。
更新時間:2025-05-08
美國mas超聲粒度儀電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現場或實驗中獲取，可直接實時獲得理想的數據
更新時間:2025-05-08
美國mas超聲粒度儀和zeta電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現場或實驗中獲取，可直接實時獲得理想的數據
更新時間:2025-05-08
美國mas超聲粒度分析儀，可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒。該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現場或實驗中獲取，可直接實時獲得理想的數據
更新時間:2025-05-08
aps 從聲衰減光譜測量產生psd數據，不需要稀釋樣品。aps還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、ph、電導率和溫度。
更新時間:2025-05-08
1)采用門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限。2)提供數據快速準確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，zeta電位將*改變);3)該儀器可同時測量zeta電位
更新時間:2025-05-08
1)采用門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限。2)提供數據快速準確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，zeta電位將*改變);3)該儀器可同時測量zeta電位
更新時間:2025-05-08
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