涂層測厚儀產品及廠家
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-09-09
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-09-09
電鍍液鍍層含量測定鍍層測厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-09-09
鍍層膜厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-09-09
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-09-09
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-09-09
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-09-09
鍍層厚度測試分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-09-09
天瑞儀器thick800a 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞
更新時間:2025-09-09
x射線鍍層測厚檢測儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時間:2025-09-09
國產鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-09-09
國產鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-09-09
國產x鍍層測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時間:2025-09-09
天瑞儀器光譜儀thick800a 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2025-09-09
x鍍層測厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
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電鍍滾鍍廠測厚儀：thick800a測定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標準曲線第二步：確定測試時間：40s第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
更新時間:2025-09-09
x射線鍍層測厚檢測儀針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2025-09-09
電鍍層測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2025-09-09
任意多個可選擇的分析和識別模型。銅鍍鎳鍍鋅測厚膜厚儀相互立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩壓電源。
更新時間:2025-09-09
多元素復合鍍層測試儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-09-09
thick800a 膜厚儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-09-09
thick800a 膜厚儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-09-09
鍍層膜厚測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
更新時間:2025-09-09
電鍍層x射線光譜儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-09-09
鍍層厚度檢測儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
更新時間:2025-09-09
五金配件鈦合金檢測儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降
更新時間:2025-09-09
pcb多電鍍鍍層測厚儀 針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導體探測器，實現對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2025-09-09
x射線鍍層膜厚測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-09-09
鍍層分析光譜儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-09-09
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-09-09
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-09-09
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-09-09
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-09-09
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-09-09
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-09-09
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-09-09
鍍層厚度測量儀鋅鎳合金專用光譜儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
更新時間:2025-09-09
涂層測厚儀鍍層膜厚儀德國原裝進口優惠價格德國epk公司（elektrophysik)一直致力于開發和生產各種用于表面處理行業的精密測量的涂層測厚儀。作為無損涂層測厚儀領域的先驅，epk公司與各標準化組織和研究院一道，成功地推進了涂層測厚儀在世界范圍內的標準化進程。大量的專利技術與成果表明epk公司是該涂層檢測的佼佼者。
更新時間:2025-09-09
雙功能技術的測厚儀，完成磁感應和電渦流測量自動轉換應用雙功能測量技術，能夠自動識別磁性或非磁性底材，然后采用相應的測試方法，適用于各種測量環境？蓽y量非磁性底材上的非導電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
更新時間:2025-09-09
dr230兩用涂層測厚儀是一款一體式兩用覆層測厚儀，它集成了便攜式，一體式，手持式,智能數顯等特點，能自動識別基體底材,快速、無損傷地進行金屬表面涂鍍層厚度的測
更新時間:2025-09-09
dr380 兩用涂層測厚儀l本儀器簡潔大方、便攜、外觀精美、造工精細、測量精準l全智能觸摸按鍵，防滑型，設計獨特、新穎，人性化，結構緊密，技術領先
更新時間:2025-09-09
dr330 兩用涂層測厚儀dr330涂層測厚儀是一款兩用測厚儀，按照國家行業:gb/t 8393-1996 標準專業測量金屬材料表面涂鍍層覆蓋層物體厚度的專業無損檢測儀器,使用簡單，攜帶便捷，重復性更好，性能猶佳
更新時間:2025-09-09
分體傳感器涂層測厚儀/鐵基涂層測厚儀 訂貨號：ky415（分體傳感器涂層測厚儀） 功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層測量方法：f 磁感應 測量范圍：0-15000um 分辨率：0.1/1mm
更新時間:2025-09-09
功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度測量方法：f 磁感應 nf 渦流測量范圍：0-1250um/0-50mil (標準量程)
更新時間:2025-09-09
本儀器是用電池供電的便攜式測量儀器， 采用磁感應和電渦流原理。測量方法符合國際標準iso2178,iso2360和國家標準gb4956,gb4957.它采用計算機技術,無損檢測技術等多項先進技術,無需損傷被測體就能準確地測量出它的厚度.
更新時間:2025-09-09
鐵基.鋁基兩用涂層測厚儀/涂層測厚儀 訂貨號：ky418功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度測量方法：f 磁感應 nf 渦流測量范圍：0-1250um/0-50mil (標準量程)
更新時間:2025-09-09
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