掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
日本jeol 雙束加工觀察系統 jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-09-08
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-09-08
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現真空環境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-09-08
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發現。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-09-08
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統,適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2025-09-08
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩定性的傳統，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發的 neo
更新時間:2025-09-08
本儀器具有較高的測量精度，適用于長度和角度的精密測量；同時由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴大。應用計算機輔助測量，能解決各種復雜的二維測量問題，主要的測量對象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2025-09-07
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-09-06
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-09-05
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-05
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-09-05
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統和電子光學系統，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-09-05
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發的電子光學系統，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-09-05
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-09-05
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-05
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-05
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-09-05
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-09-05
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業需求。
更新時間:2025-09-04
evo系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術的物鏡設計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業界先的x射線分析技術。
更新時間:2025-09-03
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2025-09-03
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2025-09-03
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅，并且能夠在生產周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
更新時間:2025-09-01
蔡司lightsheet 7激光片層掃描顯微系統，助您便捷地實現活體和透明化樣品的多視角成像。設計的物鏡能夠匹配透明化樣品的折射率，從厘米大尺寸的樣品，到多維時空的活體成像，無論是觀察長達數天的生物發育過程，還是捕捉快速運動的血流心跳，都能助您游刃有余完成。無需頻繁更換物鏡和樣品倉，提升效率，在簡單調焦中實現理想光切。無需再為制備樣品而煩惱，操作簡便。
更新時間:2025-08-30
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數據處理裝置之間的通信，如導入lan的設施，可作遠距操作。擁有優越的擴張性、如增設pump、檢出器等的單元，可對應陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統可
更新時間:2025-08-26
日立高新掃描電子顯微鏡此外，還搭載了全新的導航功能“sem map”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現直觀的視野移動。flexsem 1000 ii，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kv下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。
更新時間:2025-08-26
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩定觀察的半導體器件，高分辨成像所設計。紫外臭氧清洗機常用于掃描
更新時間:2025-08-26
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術、生命科學、產品設計研發及失效分析等領域有著廣泛的應用。flexsem 1000
更新時間:2025-08-26
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000日本日立hitachi超高分辨場發射掃描電子顯微鏡regulus系列 的詳細介紹 沿用"su8200系列"的冷場發射電子槍*2 采用電子束在fla
更新時間:2025-08-26
日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采
更新時間:2025-08-26
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業性、整體性掃描電鏡解決方案
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2025-08-25
?em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設備的同時確保高分辨成像功能的應用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區域，同時實現納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業性、整體性掃描電鏡解決方案
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區別于傳統掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節約空間成本。
更新時間:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業性、整體性掃描電鏡解決方案
更新時間:2025-08-25
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-08-25
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