原子力顯微鏡（AFM）產品及廠家
日本ribm hs-afm超高速視頻級原子力顯微鏡，突破了 “掃描成像速慢”的限制，掃描速度最高可達 20 frame/s，并且有 4 種掃描臺可供選擇。樣品無需特殊固定染色，不影響生物分子的活性，尤其適用于生物大分子互作動態觀測。液體環境下直接檢測，超快速動態成像，分辨率為納米水平。
更新時間:2025-09-05
1000型原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等。可測樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。應用行業：高校（理工類）實驗室、科研機構、公安刑偵和工業檢測部門。
更新時間:2025-09-01
原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等。可測樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。應用行業：高校（理工類）實驗室、科研機構、工業檢測部門。
更新時間:2025-09-01
原子力顯微鏡（atomic force microscopy）是種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光，后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時間:2025-08-27
afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察分析。
更新時間:2025-08-26
日立環境多功能原子力顯微鏡通過采用『綜合型holder flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環境型spm的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環節。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/
更新時間:2025-08-26
多功能掃描探針顯微鏡afm100 plus/afm100系統afm100 plus/afm100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及afm應用為目的，并追求操作性、性及率觀察的通用型高分辨掃描探針
更新時間:2025-08-26
日立5500m全自動型原子力顯微鏡afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精
更新時間:2025-08-26
環境多功能原子力顯微鏡afm5300e是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品
更新時間:2025-08-26
原子力顯微鏡工作站afm5000ⅱ采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數自動設置功能(realtune ii)，即使是剛剛接觸spm的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數據。
更新時間:2025-08-22
全自動型原子力顯微鏡 afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察・分析。
更新時間:2025-08-22
通用型原子力顯微鏡afm5100n除了激光檢測方式之外，全新的自檢測懸臂，在保證高分辨表面形貌觀察的同時大大簡化了afm懸臂操作，是您實驗室的不二之選。
更新時間:2025-08-22
afm5300e是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
更新時間:2025-08-22
梅特勒-托利多 dsc1+顯微鏡, hp dsc1+顯微鏡 顯微鏡系統，熱分析儀圖像信息與dsc曲線互為補充，可更全面準確地解析樣品在升降溫過程中的轉變。
更新時間:2025-08-20
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
布魯克公司的bioscope resolve™生物原子力顯微鏡與倒置光學顯微鏡聯用，實現了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細胞力學性質測量。
更新時間:2025-08-15
dimension® edge™ 原子力顯微鏡采用新技術， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產品中處于高水平。基于頂的dimension icon®平臺, dimension edge系統的整體設計使其 具有低漂移、低噪音的特點.
更新時間:2025-08-15
dimension fastscantm原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得數據的時間。
更新時間:2025-08-15
dimension icon是dimension系列產品中的新款設備,它基于上應用廣泛的afm平臺，集合了數十年的技術創新、行業內先的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統經過從上到下的設計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現。
更新時間:2025-08-15
multimode8-高分辨率spm，納米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無限的應用擴展性
更新時間:2025-08-15
一包10根高質量硅蝕刻探針，用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進版本。 布魯克的新系列tesp高品質優質蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設定了行業標準。
更新時間:2025-08-15
更易定位，更適合如按樣品。此型號為布魯克貼標產品，同型號奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率：70(50~90) khz（空氣中），彈性系數：2 n/m。針尖曲率半徑：7nm（典型值）al涂層。
更新時間:2025-08-15
lumina at1可以在4分鐘內完成150毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
lumina at2可以在3分鐘內完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
lumina at2-efem可以在2分鐘內完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
film sense 多波長橢偏儀通過簡單的 1 測量，可以以高的精度和精度測定大多數透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對許多樣品進行光學常數 n&k 等薄膜性質的測量。多波長橢偏儀提供了強大的薄膜測量功能售價只是單一波長橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實驗室教室，現場處理室，工業質量控制等等。
更新時間:2025-08-15
kla是全球半導體在線檢測設備市場大的供應商，在半導體、數據存儲、mems、 太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描，以及翹曲度和應力的2d測量。創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
更新時間:2025-08-15
kla是全球半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數據存儲、mems、太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不斷迭代更新，集合眾多技術優勢。p-7建立在市場先的p-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。它保持了p-17技術的卓越測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了高的性價比。p-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進
更新時間:2025-08-15
依靠f50先進的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。f50系統配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保能夠做成千上萬次測量。
更新時間:2025-08-15
不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，f20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過usb連接電腦，設備就可以在數內得到測量結果。基于某模塊化設計的特點，f20適用于各種應用。
更新時間:2025-08-15
zygo zegage pro光學輪廓儀是用于3d形貌定量測試，和精密機械表面粗糙度檢測的理想非接觸式檢測工具。它工業化的設計提供快速，精確的測量方案，并且外形緊湊、性價比高，能夠放在生產車間工作，而不需要振動隔離和特殊的隔離裝置。同時交互式的控制軟件mx 提供了簡單而精細的圖形圖像來幫助你的加工處理。
更新時間:2025-08-15
zygo newview 9000 3d 光學輪廓儀提供了強大的非接觸式光學表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測量都是無損、快速、無需樣品制備的。系統的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(csi)，提供了所有放大倍數下亞納米的精度，并且能夠快速測試各種樣品表面。
更新時間:2025-08-15
bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米域的研究者帶來了全新的afm應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以上應用廣泛的af
更新時間:2025-08-15
zygo致力于保護您在verifire干涉儀的長壽命期間的投資。 在全球安裝了數千套系統，沒有其他計量公司接近zygo的產品質量和客戶滿意度記錄。質量多功能性和生產力大化您的投資zygo公司：光學計量的導者•我們保證verifire系統和組件作為完整解決方案的一部分，符合我們的iso 9001注冊設施
更新時間:2025-08-15
掃描探針顯微鏡(spm)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質而設計的。它能夠讓我們在幾微米到幾個埃的尺寸下肉眼觀察并定量測量樣品的力學性質（硬度，彈性，粘度），電學性質（導電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質。solver 平臺擁有超過40 種測量方法，并且實現在大氣，氣氛控制以及液體環境下進行工作。
更新時間:2025-08-15
ntegra平臺是一個革命性的技術概念，在擁有所有spm技術：原子力/磁力/靜電力/表面電勢/導電原子/掃描電容/壓電力/納米刻蝕等功能的同時，還能配備近場光學顯微鏡/共聚焦拉曼/外加磁場/超聲原子力/納米壓痕等功能！。prima則是這個平臺中的基礎spm，可以在此基礎上根據科 研需求提供多達40 中spm 功能，其中的每種功能都有一套在其專業領域有著杰出表現的獨特配置。可選擇配備獨一無二的雙掃描結構可以將掃描范圍擴展最大到200x200um。
更新時間:2025-08-15
ntegra spectra - afm / confocal raman & fluorescence / snom / ters 它將原子力顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡，激光共聚焦顯微鏡、熒光光譜和拉曼光譜等各種分析手段完美地結合到一起。借助于針尖增強拉曼散射效應（ters），其拉曼散射光譜和圖像測量的分辨率達到了50
更新時間:2025-08-15
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