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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺。
更新時間:2025-09-08
德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具，全自動測繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時間:2025-09-08
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時間:2025-09-08
ALD實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:2025-09-08
智能尖軌降低值測量儀,數(shù)顯尖軌測量尺
尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導(dǎo)致輪對與直尖軌和基本軌組合受力不良，直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測量儀是用來測量尖軌相對于基本軌的降低值以及心軌相對于翼軌的降低值的用儀器。
更新時間:2025-09-08
激光鐵路隧道限界測量儀,隧道斷面及設(shè)備限界測量儀,生成隧道輪廓圖形
hyxj-1激光鐵路限界測量儀可對隧道限界、鐵路限界（如站臺、信號機(jī)、風(fēng)雨棚等）、橋梁、跨線橋、車站附屬物限界、軌道相對隧道位置等數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確測量，也可快速的測量鐵路、地鐵、城市軌道的站臺及附屬物限界尺寸和地下曲線車站站臺邊緣至機(jī)車輪廓線間間隔及附屬物全斷面、分?jǐn)嗝妗吸c(diǎn)限界。測量軟件并自動判斷是否超限，自動生成圖形和限界報表。
更新時間:2025-09-08
電子鋼軌平直度測量儀,鋼軌焊縫平直度測量儀,鋼軌焊接接頭平直度檢測儀
hyrs-5電子鋼軌平直度測量儀采用非接觸式的激光傳感器測量，可測量垂直和水平兩個方向的平順度情況，適用于測量鋼軌焊補(bǔ)、接頭以及絕緣軌接頭的平順度，還可以對鋼軌的垂直面的磨損程度進(jìn)行評估。在測量過程中還可以采用重疊法，對鋼軌磨損的測量長度能夠超過設(shè)備本身的長度，不僅適用于對短距離波形范圍（0.03-0.3米）的鋼軌磨損情況評估，也適用于對長距離波形范圍（0.3-1米、1-3米、10米）的鋼軌磨損情
更新時間:2025-09-08
準(zhǔn)直儀或其他無縫線路位移觀測設(shè)備,無縫線路位移觀測儀,長鋼軌位移檢測儀
hypx-a準(zhǔn)直儀或其他無縫線路位移觀測設(shè)備是一種門用于檢測無縫線路鋼軌位移變化量的測量裝置。采用光電對準(zhǔn)技術(shù)等，能夠快速、精確、方便地測量鋼軌的位移變化。使用本產(chǎn)品進(jìn)行無縫線路鋼軌位移量檢測時，僅在測量定位時需要簡單的操作步驟，降低了對操作者的技能要求，操作簡便，省時高效。
更新時間:2025-09-08
手推式接觸網(wǎng)幾何參數(shù)智能檢查儀,激光接觸網(wǎng)動態(tài)智能巡檢小車
hyjc-s手推式接觸網(wǎng)幾何參數(shù)智能檢查儀 是用于測量鐵路接觸網(wǎng)各項幾何參數(shù)的多功能、多用途、一體化、全自動化的產(chǎn)品。采用區(qū)別于激光雷達(dá)的光電技術(shù)，實現(xiàn)在軌道上單人手推儀器、自動測量計算、實時顯示及對比、自動記錄數(shù)據(jù)、波形圖及超限情況（報警）的高效測量模式，同時實現(xiàn)數(shù)據(jù)圖表化輸出和歷史數(shù)據(jù)對比的高效數(shù)據(jù)分析，有效的降低了人員勞動強(qiáng)度、提升了測量穩(wěn)定性及工作效率，科學(xué)有效地指導(dǎo)接觸網(wǎng)的維護(hù)。
更新時間:2025-09-08
銀川全自動站臺限界測量儀,手推式數(shù)顯站臺限界測量尺,AI人工智能技術(shù)
hyxj-3全自動站臺限界測量儀是一種采用區(qū)別于激光點(diǎn)及激光雷達(dá)的電子傳感器系統(tǒng)、激光成像系統(tǒng)、計算機(jī)處理系統(tǒng)等進(jìn)行全斷面限界檢測的儀器。采用手推式非接觸動態(tài)檢測小車的測量方式，由人工推著在軌道上行走，儀器自動測量所有限界數(shù)據(jù)（水平限界、高度限界、站臺輪廓、風(fēng)雨棚高度、水平超高等），曲線段自動計算和測量。軟件系統(tǒng)實時完成限界檢測、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析處理和顯示及超限判斷，生成檢測報表。
更新時間:2025-09-08
德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:2025-09-08
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:2025-09-08
美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準(zhǔn)，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-09-08
接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時間:2025-09-08
接觸角測量儀
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實性，獲取最佳的成像效果。
更新時間:2025-09-08
美Associated 耐壓測試儀​
美associated 耐壓測試儀​hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:2025-09-08
美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2025-09-08
德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2025-09-08
美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨(dú)特的測量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-08
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計，便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div> 更新時間:2025-09-08
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時間:2025-09-08
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:2025-09-08
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時間:2025-09-08
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-08
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體？蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-08
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個通道
更新時間:2025-09-08
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-09-08
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-09-08
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-09-08
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-09-08
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2025-09-08
美國OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-09-08
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-09-08
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-09-08
美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-09-08
美國泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-09-08
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-09-08
韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-09-08
美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-09-08
半導(dǎo)體測試探針臺
半導(dǎo)體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2025-09-08
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-09-08
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-09-08
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測器（標(biāo)配）
更新時間:2025-09-08

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計（PH計） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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