| Zetasizer Nano 系列納米粒度、Zeta電位和絕對分子量分析儀可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數的能力，即粒度、zeta電位和分子量。這些系統中內置了新技術，提供無比的靈敏度和多功能性。 -粒度: NIBS專利技術可以對0.6納米至6微米的顆粒和分子進行測量。 -Zeta電位: M3-PALS專利技術能夠對水分散和非水分散體系中的zeta電位進行精確的測量。 -分子量: 高靈敏度APD檢測器和特殊設計的光纖檢測光學裝置提供測量絕對分子量所需的靈敏度和穩定性。 Zetasizer Nano ZS是Malvern Zetasizer Nano系列中的佼佼者，能夠測量所有三項參數，而且性能絲毫不減。 Nano ZS、Z及ZS90都可以使用專利的折疊式可拋棄型毛細管樣品池來測量zeta電位，避免樣品之間的交叉污染。 所有系統均可與MPT-2自動滴定儀連接使用，實現趨勢測量和樣品制備的自動化。 * 視樣品而定2納米-3微米2納米-3微米－－－－－－Zetasizer Nano S90Zetasizer Nano ZS90Zetasizer Nano ZZetasizer Nano S1000-2x107 DaNIBS專利 0.6納米-6微米1000-2x107 DaNIBS專利 0.6納米-6微米M3-PALS專利 3納米－10微米M3-PALS專利 3納米－10微米M3-PALS專利 3納米－10微米Zetasizer Nano ZS分子量范圍粒度范圍Zeta電位測量 Zetasizer Nano 系列納米粒度、Zeta電位和絕對分子量分析儀技術參數 1.粒度測定范圍:0.6nm-6000nm 2.濃度范圍:0.1ppm-40%（W/v） 3.分子量測定范圍:1,000-10,000,000道爾頓 4.高分辨Zeta電位分析:可分辨5mV的Zeta電位差別 5.溫度控制范圍:2-90度 | |
| Zetasizer Nano 系列納米粒度、Zeta電位和絕對分子量分析儀主要特點 1.具有的納米粒度下限：可測量亞納米區及高分子大小 2.具有最寬的濃度應用范圍：0.1ppm – 40% （w/v）。最少樣品量僅0.75ml。 3.獨有的高分辨Zeta電位技術：可輕易發現污染物，并可測定高鹽濃度及極低遷移率的樣品 4.可對分子量進行測定，包括旋轉半徑和第二維里系數 5.具有標準操作規程（SOP）的納米粒度分析儀器。可隨時間及溫度變化進行趨勢分析；與自動滴定儀相連接后，可自動測定粒度、Zeta電位隨pH、鹽濃度和電導率變化的，自動測定分子量。
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新一代Zetasizer Nano ZS可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。 這些系統中內置了新技術，提供無比的靈敏性和多功能性。 粒度 - NIBS 技術可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。 Zeta 電位 - M3-PALS 技術能夠對水分散和非水分散體系中的 zeta 電位進行精確的測量。 分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量絕對分子量所需的靈敏度和穩定性。 Zetasizer Nano ZS中,可根據實際應用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的佼佼者，能夠測量所有三項參數，而且性能絲毫不減。 Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用獨特的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。 所有系統均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現趨勢測量和樣品制備的自動化。