X熒光光譜儀EDX860D
型 號:EDX860D
產品說明、技術參數及配置
本儀器專門針對貴金屬測試,可測試環形樣品內壁及普通平面測試,具有以下特點:體積小巧,外型莊重大方,手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試,樣品固定方便快捷,可方便更換準直器,準直器直徑為1.5mm,可測試較小區域,下照式,大窗口正比計數盒計數率滿足分析需要,寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試,攝像頭激光精確定位實現可視化定位,良好的射線屏蔽確保操作人員。
應用領域首飾加工廠 金銀珠寶首飾店 貴金屬冶煉廠 質量檢驗部門 分析測試中心 典當行
XRF檢測法與傳統檢測法比較
檢測法 | 結果 |
試金石法 | 主觀性強,不科學,性差 |
比重法 | 參照物的純度難以確定 |
化學法 | 成本高,操作復雜,對樣品有所損害 |
XRF分析法 | 快速、無損、科學、穩定 |
核心技術
1.大功率光管;2. 超大窗口面積正比計數盒; 3. 外型小巧,莊重大方; 4. 寬闊樣品腔,方便操作及測試較大樣品; 5. 手動升降平臺確保測試不同大小環狀樣品; 6.小準直器,利于測試樣品小區域; 7. 攝像頭與激光定位,可視地定位到被測點,測試時激光點自動關閉,利于拍攝清晰照片; 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。
儀器技術指標:
分析含量一般為1ppm到99.9%; 任意多個可選擇的分析和識別模型; 相互獨立的基體效應校正模型; 多變量非線性回歸程序; 多次測量重復性可達0.1%; 工作穩定性為0.1%。 電源:交流220V±5V; 測量時間:60-200S 管壓:5-50KV 管流:50-1000μA 溫度適應范圍:15℃-30℃
標準配置:
正比計數盒;50W X光管; 高壓電源 50kV@1mA;攝像頭激光定位裝置; 高靈敏度信號檢測電子電路;手動升降平臺; 樣品夾;橡皮泥; 準直器直徑為1.5 mm。