Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射頻矢量網絡分析儀300kHz-3G/6GHz聯系人:謝小姐 135105 69439 0755-83589 391-811 QQ：2271687075 *頻率范圍：30kHz～3或6GHz*帶有固態轉換的集成化S參數測試裝置*達110dB的動態范圍*快的測量速度和數據傳遞速率*大屏幕LCD顯示器加上供外部監視器用的VGA輸出*同時顯示所有4個S參數*將儀器狀態和數據存儲/調用到內置軟盤驅動器*可選用的時域測量和掃描諧波測量HP 8753D射頻網絡分析儀為滿足研制實驗室或生產制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結合。8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數測試裝置、達110dB的動態范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網絡、元器件和子系統的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數據傳遞速率比以往的型號快達7倍之多。 網絡分析儀的特點是有2個獨立的測量通道，可同時測量和顯示所有4個S參數。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標、駐波比或時域格式來顯示反射和傳輸參數的任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個測量功能。可以利用達4個刻度格子在高分辯率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結果。為了驅動更大的外部監視器，以便于觀察，增加了與VGA兼容的輸出。
Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射頻矢量網絡分析儀300kHz-3G/6GHz聯系人:謝小姐 135105 69439 0755-83589 391-811 QQ：2271687075 *頻率范圍：30kHz～3或6GHz*帶有固態轉換的集成化S參數測試裝置*達110dB的動態范圍*快的測量速度和數據傳遞速率*大屏幕LCD顯示器加上供外部監視器用的VGA輸出*同時顯示所有4個S參數*將儀器狀態和數據存儲/調用到內置軟盤驅動器*可選用的時域測量和掃描諧波測量HP 8753D射頻網絡分析儀為滿足研制實驗室或生產制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結合。8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數測試裝置、達110dB的動態范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網絡、元器件和子系統的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數據傳遞速率比以往的型號快達7倍之多。 網絡分析儀的特點是有2個獨立的測量通道，可同時測量和顯示所有4個S參數。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標、駐波比或時域格式來顯示反射和傳輸參數的任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個測量功能。可以利用達4個刻度格子在高分辯率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結果。為了驅動更大的外部監視器，以便于觀察，增加了與VGA兼容的輸出。
Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射頻矢量網絡分析儀300kHz-3G/6GHz聯系人:謝小姐 135105 69439 0755-83589 391-811 QQ：2271687075 *頻率范圍：30kHz～3或6GHz*帶有固態轉換的集成化S參數測試裝置*達110dB的動態范圍*快的測量速度和數據傳遞速率*大屏幕LCD顯示器加上供外部監視器用的VGA輸出*同時顯示所有4個S參數*將儀器狀態和數據存儲/調用到內置軟盤驅動器*可選用的時域測量和掃描諧波測量HP 8753D射頻網絡分析儀為滿足研制實驗室或生產制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結合。8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數測試裝置、達110dB的動態范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網絡、元器件和子系統的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數據傳遞速率比以往的型號快達7倍之多。 網絡分析儀的特點是有2個獨立的測量通道，可同時測量和顯示所有4個S參數。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標、駐波比或時域格式來顯示反射和傳輸參數的任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個測量功能。可以利用達4個刻度格子在高分辯率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結果。為了驅動更大的外部監視器，以便于觀察，增加了與VGA兼容的輸出。較好的通用性和性能 一個集成化的合成源提供了達10mW的輸出功率（用選件011可達100mW），1Hz的頻率分辯率和線性頻率，對數頻率，列表頻率，CW和功率掃描功能。三個調諧接收機可以在6GHz（帶有選件006頻率擴展）處105dB或3GHz（標準）110dB的寬動態范圍內進行獨立的功率測量或同時比值測量。集成化的測試裝置可以在不使用倍頻器的情況下，測量達6GHz裝置的傳輸和反射特性。為了在非同軸系統中進行方便而精確的測量，特提供了TRL＊/LRM＊1校準。利用內置適配器移去校準技術，還能實現對非插入式器件的高精度測量。高穩定度的頻率基準（選件1D5）提高了對高Q器件，如表面聲波（SAW）器件、晶體諧振器或介質諧振濾波器的頻率測量精度。為了提高配置的靈活性，選件011取消了內置測試裝置，以便能選擇自己所需的測試裝置。