三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x>> 西安愛德華三座標(biāo)測(cè)量?jī)x /MQ系列三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
三座標(biāo)測(cè)量?jī)x技術(shù)特點(diǎn) 利用坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)、計(jì)算機(jī)測(cè)控技術(shù)及進(jìn)的動(dòng)態(tài)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行工件表面點(diǎn)的采集和數(shù)據(jù)處理。可使用雙旋轉(zhuǎn)測(cè)頭系統(tǒng)及不同測(cè)桿、測(cè)頭的組合，配合各種通用或?qū)Ｓ脺y(cè)量軟件，方便實(shí)現(xiàn)對(duì)三維工件的測(cè)量。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，數(shù)據(jù)采集快，操作簡(jiǎn)便，使該機(jī)非常經(jīng)濟(jì)實(shí)用。三座標(biāo)測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域 主要用于機(jī)械、汽車、航空、軍工、模具等行業(yè)中的箱體、機(jī)架、齒輪、凸輪、蝸輪、葉片、曲線、曲面等的測(cè)量。三座標(biāo)測(cè)量?jī)x主體結(jié)構(gòu) 花崗石的導(dǎo)軌和工作臺(tái)，移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)，整機(jī)機(jī)械系統(tǒng)的精確穩(wěn)定；無摩擦的全氣浮支承導(dǎo)軌，最大限度地減少運(yùn)動(dòng)中的角擺；自粘式帶狀金屬光柵尺與平臺(tái)、橫梁及Z軸花崗巖基體融為一體，使其三軸具有同樣的溫度膨脹系數(shù)從而增加了儀器的穩(wěn)定性。三座標(biāo)測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
| 名 稱： | MCMS543 |
| 型 號(hào)： | MCMS543 |
| 測(cè)量范圍（mm）X： | 500 |
| 測(cè)量范圍（mm）Y： | 400 |
| 測(cè)量范圍（mm）Z： | 300 |
| 探測(cè)系統(tǒng)： | Renishaw測(cè)頭系統(tǒng) |
| 分辨率： | 0.5μm |
| 示值誤差μm： | 2.8+L/250 |
| 探測(cè)誤差μm： | 4.0 |
| 利用坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)、計(jì)算機(jī)測(cè)控技術(shù)及進(jìn)的動(dòng)態(tài)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行工件表面點(diǎn)的采集和數(shù)據(jù)處理。可使用雙旋轉(zhuǎn)測(cè)頭系統(tǒng)及不同側(cè)干、測(cè)頭的組合，配合各種通用或?qū)Ｓ脺y(cè)量軟件，方便實(shí)現(xiàn)對(duì)三維工件的測(cè)量. | |
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三座標(biāo)測(cè)量?jī)x技術(shù)特點(diǎn) 利用坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)、計(jì)算機(jī)測(cè)控技術(shù)及進(jìn)的動(dòng)態(tài)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行工件表面點(diǎn)的采集和數(shù)據(jù)處理。可使用雙旋轉(zhuǎn)測(cè)頭系統(tǒng)及不同測(cè)桿、測(cè)頭的組合，配合各種通用或?qū)Ｓ脺y(cè)量軟件，方便實(shí)現(xiàn)對(duì)三維工件的測(cè)量。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，數(shù)據(jù)采集快，操作簡(jiǎn)便，使該機(jī)非常經(jīng)濟(jì)實(shí)用。三座標(biāo)測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域 主要用于機(jī)械、汽車、航空、軍工、模具等行業(yè)中的箱體、機(jī)架、齒輪、凸輪、蝸輪、葉片、曲線、曲面等的測(cè)量。三座標(biāo)測(cè)量?jī)x主體結(jié)構(gòu) 花崗石的導(dǎo)軌和工作臺(tái)，移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)，整機(jī)機(jī)械系統(tǒng)的精確穩(wěn)定；無摩擦的全氣浮支承導(dǎo)軌，最大限度地減少運(yùn)動(dòng)中的角擺；自粘式帶狀金屬光柵尺與平臺(tái)、橫梁及Z軸花崗巖基體融為一體，使其三軸具有同樣的溫度膨脹系數(shù)從而增加了儀器的穩(wěn)定性。三座標(biāo)測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
| 名 稱： | MCMS543 |
| 型 號(hào)： | MCMS543 |
| 測(cè)量范圍（mm）X： | 500 |
| 測(cè)量范圍（mm）Y： | 400 |
| 測(cè)量范圍（mm）Z： | 300 |
| 探測(cè)系統(tǒng)： | Renishaw測(cè)頭系統(tǒng) |
| 分辨率： | 0.5μm |
| 示值誤差μm： | 2.8+L/250 |
| 探測(cè)誤差μm： | 4.0 |
| 利用坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)、計(jì)算機(jī)測(cè)控技術(shù)及進(jìn)的動(dòng)態(tài)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行工件表面點(diǎn)的采集和數(shù)據(jù)處理。可使用雙旋轉(zhuǎn)測(cè)頭系統(tǒng)及不同側(cè)干、測(cè)頭的組合，配合各種通用或?qū)Ｓ脺y(cè)量軟件，方便實(shí)現(xiàn)對(duì)三維工件的測(cè)量. | |
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