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TST-589膜厚測量儀

東莞特斯特試驗機廠，大量生產供應膜厚測量儀，膜厚測量試驗儀，價格優惠，歡迎來電咨詢洽談，聯系電話：0769-22853821 88838300

膜厚測量儀技術參數：鋼鐵基材：0-3500μm / 0-140mils 有色金屬基材：0-3000μm / 0-120mils 允許誤差:讀數的±3μm或+3% / ±0.12mils或3% 分辨率: 1μm或小于讀數的2% 顯示背景照明，四位讀數顯示，英文操作指南基體最小面積：10mmX10mm 基體最小曲率：凸面：5mm 凹面：50mm 操作溫度：0-60℃/32° -140°F 儀器尺寸：107*50*25mm 重量：90g/3.2z 電源：2節AAA堿性電池保護等級：IP52（防塵，防滴水）

Z5FM-200OMRON/歐姆龍膜厚測量儀

Z5FM-200

在線膜測量儀

? 在線•全數檢查/計測的提案。 ? 實現在線計測的獨特的光學系數。 ? 采用LED光源，減輕維修負擔。 ? 根據設置條件可選擇光纖頭。 ? 配置“膜厚計測”、“膜厚+光學常數（屈折率，吸收系數）同時計測”2種計測方法。 ? 通過易懂的GUI，使操作更簡單。 ? 在線計測中必不可少的觸發模式的充實。 ? 與裝置•工程、CIM想配合的接口。

膜厚測量儀

膜厚測量儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態時的厚度，這樣會和冷態時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數。使在線測量的數據與冷態時保持一致。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數，也可以使測量數據和實際材質厚度保持一致。

膜厚測量儀精密度測試，精密度表示對同一個對象進行多次測量，表征測試結果分散程度的物理量，它是一個與多次測試數據的標準偏差有關的物理量。目前，對一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數據的標準偏差求解問題的研究已經相當成熟，對測量設備精密度的研究可以轉化為對測量設備測試數據標準偏差的求解。使用成熟的數據處理方法研究比較新的高精度設備的精密度是一種簡單可行而又科學的方法。

膜厚測量儀主要特點：

薄膜FP軟件：可對應于含無鉛焊錫在內的合金電鍍或多層電鍍的測量，應用范圍廣泛。

可打印檢測報告：利用Microsoft的Office操作系統可將檢測報告工作之便簡單快速地打印出來。

激光自動對焦功能：只需輕輕按一下激光對焦按鈕，就可自動進行對焦。

防止沖撞功能：對于測量有高低差的樣品時，配置了為防止樣品和儀器沖撞的自動停止功能。

深圳市金東霖科技有限公司聯系人：周小姐：13602562447電話：傳真：地址：深圳市北環大道110號新橋綜合大樓502

該公司產品分類：膜厚儀

SFT9455 X射線熒光膜厚測量儀

型號	SFT9455系列
測定元素	原子序號22（Ti）~ 83（Bi）
X射線管	管電壓：50kV管電流：1.5mA
檢測器	半導體檢測器+比例計數管
準直器	4種（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ）
樣品觀察	CCD照相機（帶可變焦距功能）
對焦	激光向導
過濾器	電動切換（一次: Mo、二次: Co）
X-ray Station	電腦、17英寸CRT
打印	噴墨打印機
膜厚測定系統	薄膜FP法，檢測線法
材料分析系統	體積FP法
測定功能	自動測定、中心檢索、畫像處理
補正功能	材料補正，已知樣品補正
定性功能	KL標記、比較顯示
統計處理功能	預裝MS-EXCEL®
報告制作功能	預裝MS-WORD®
安全機能	樣品門鎖定防止樣品碰撞樣品裝置診斷功能
電源	100V 15A

SFT9000系列里最高的機型就是SFT9455。搭載著75W高性能X射線管和雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數管），符合“薄膜”、“合金膜”、“極微小部分測定”等鍍膜厚度測定要求的高性能膜厚度測量儀。SFT9455還在鍍膜厚度測定功能的基礎之上增加了異物定性和查資料成分分析的功能。

1.搭載雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數管）：搭載在X射線能量分辨率上，優秀的半導體檢測器（起作用液化氮）和計數率優秀的比例計數管，能夠根據運用需要對應使用。特點是半導體檢測器，能夠區分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點：　　　·能夠對Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進行測定。　　　·對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進行高精度的Au鍍膜厚度測定。　　　·能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。　

2.薄膜FP軟件：對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域。　

3.適用測定極微小部分　　15μmΦ的準直管為標準裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。　

4.搭載75W高性能X射線管。　

5.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。　

6.能夠測定大型打印基板的大型平臺。　

7.依據照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。

8.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。　

9.利用伺服馬達精確的驅動平臺。　　

10.正確的對焦　　利用激光能夠正確得對焦測試樣品。　　

11.報告制作軟件　　運用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數據制作成書面材料。

該公司產品分類：泰思肯賽默飛世爾島津ROHS儀

Thick800A膜厚測量儀

產品介紹：

Thick800型X熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。

Thick800型X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。

天瑞儀器公司集中了內的X熒光分析﹑電子技術等行業技術研究開發專家及生產技術人員，依靠科學研究，總結多年的現場應用實踐經驗，結合中的特色，開發生產出的Thick800 型X熒光鍍層測厚儀具有快速、、簡便、實用等優點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

儀器特點：

1．儀器外觀選用獨特的流線型設計，時尚雅致。

2．同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。

3．可以分析多5層鍍層，次可分析元素多達24種。

4．無需復雜的樣品預處理過程，無損測試。

5．檢出限可達到2ppm。

6．分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm 。

7．采用美原裝、際的探測器，能量分辨率高。

8．采用美原裝、際的AMP，處理速度快，精度高，穩定。

9． X光管采用正高壓激發，激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示。

10．采用彩色攝像頭，觀察拍攝樣品。

計算機分析系統

聯想計算機；高分辨率彩色液晶顯示器。

惠普打印機。

系統軟件

際領先的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、

理論α系數法等多種經典分析方法，面：單層、雙層、多層、合金鍍層測試數據的性。

電源

AC 220V～240V、50Hz 。

額定功率：350W。選配高精度參數穩壓電源。

儀器尺寸、重量

樣品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）

主機外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）

主機重量：約50KG。

應用:

塑料制品工業鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是大的鍍層測厚儀生產企業，產品打破了外壟斷局面，性價比高，在行業內銷量領先，分析儀器上市公司。公司專業生產鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質譜儀（GCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，，手持式鍍層測厚儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務，是內上市的分析儀器企業。

江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測厚儀展廳

該公司產品分類：波長色散X射線熒光光譜儀WDX4000 氣質聯用儀GC-MS6800 手持式RoHS檢測儀膜厚儀Thick800A RoHS檢測儀EDX1800B 鍍層測厚儀Thick800A ICP3000電感耦合等離子體發射光譜儀大氣重金屬在線監測儀電感耦合等離子體質譜儀ICP-MS 液相色譜質譜聯用儀原子熒光光譜儀 AAS原子吸收光譜儀水質在線分析儀 X熒光測硫儀食品重金屬檢測儀高頻紅外碳硫分析儀碳硫分析儀礦石分析儀糧食重金屬快速檢測儀銅合金分析儀

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