●貴金屬中金銀銅含量檢測、貴金屬純度檢測、貴金屬回收等領域
●貴金屬中有害元素檢測硬件配置：
探測器
● 類型：X123探測器（采用原裝進口高性能電致冷半導體探測器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶體面積：25mm2
● 最佳分辨率：145eV
● 信號處理系統DP5
X射線管
● 電 壓 ：0~50kV
● 最大電流 ：2.0mA
● 最大功率 ：50W
● 靶 材 ：Mo
● Be窗厚度 ：0.2mm
● 使用壽命 ：大于2萬小時
高壓電源
● 輸出電壓：0~50kV
● 燈絲電流：0~2mA
● 最大功率：50W
● 紋波系數：0.1%（p-p 8小時穩定性：0.05%
攝像頭
● 微焦距
● 500萬像素
準直器、濾光片
● 快拆卸準直器、濾光片系統
● 多種材質準直器
● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選
● 多種濾光片、準直器組合，軟件自動切換
其他配件
●進口高性能開關電源
●進口低噪聲、大風量風扇