GB10006摩擦系數測定儀 紙板摩擦系數測量儀 膠片摩擦系數試驗機PARAM博每 MXD-01摩擦系數儀產地:山東濟南品牌:Labthink廠家:濟南蘭光機電技術有限公司
森林面積管理是一項重要卻難以管理的工作,主要是因為需要對整個森林面積進行測量,以前,傳統的羅盤儀法不適合面積較廣,且測量面積復雜的森林。采用GPS面積測量儀能快速測量森林、農田、林地面積,并且擁有極高的精準性。森林面積的估計誤差直接影響著森林蓄積量的精度,因為某區域的森林蓄積量為單位面積蓄積量的估值與區域面積的乘積。
GPS面積測量儀通常采用RTD GPS測量原理測量森林面積,這是一種新型的差分全球定位測量方法,主要方法是在一個精確的已知位置上安裝監測接收機,計算得到它能跟蹤的每顆GPS衛星的距離誤差。該差值通常稱為PRC,將此數據傳送給用戶接收機作誤差修正,從而提高了定位精度。DGPS是克服SA的不利影響,提高GPS定位精度的有效手段,可達到Ⅲ 級及以上精度。DGPS一般可分為區域DGPS、廣域DGPS和全球DGPS,全球DGPS正在醞釀中。DGPS定位技術是,將一臺GPS接收機安置在基準站上進行觀測。根據基準站已知精密坐標,計算出基準站到衛星的距離改正數,并實時地將這一改正數發送出去。移動站的用戶接收機在進行GPS觀測的同時,也接收到基準站的改正數,并對其定位結果進行改正,從而提高定位精度。
儀器型號: TMJ-2009
更多參數詳情 http://www.top17.net/yq_list/yq_222_1.html GPS面積測量儀
CMI 900/950型 X-射線膜厚測量儀
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI做為品牌在PCB及電鍍行業已形成一個行業標準,南華地區90%以上的大型企業都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業工具,廣泛應用于PCB, 五金端子連接器,電子元氣件,等貴金屬電鍍測量行業
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包,實現了對CMI900/950主機的自動化控制,
x射線熒光測厚儀技術參數:
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B :精確度領先于世界,精確到0。025um 相對與標準片
C :數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,最小可達0.025 x 0.051毫米x射線熒光測厚儀樣品臺選擇:CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用,分別為:一:手動樣品臺1 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二:x射線熒光測厚儀自動樣品臺
1 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
CMI900x射線熒光測厚儀主要技術規格如下:
No. | 主要規格 | 規格描述 | |
1 | X射線激發系統 | 垂直上照式X射線光學系統 | |
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | |||
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 | |||
功率:50W4-50kV,0-1.0mA-標準 75W4-50kV,0-1.5mA-任選 X射線管功率可編程控制 | |||
裝備有安全防射線光閘
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2 | 濾光片程控交換系統 | 根據靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統 | |
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創探測器窗口
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3 | 準直器程控交換系統 | 最多可同時裝配6種規格的準直器,程序交換控制 | |
多種規格尺寸準直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm準直器 | |
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm使用0.3mm準直器
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5 | X射線探測系統 | 封氣正比計數器 | |
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
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6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
| -樣品室結構 | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
-最大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-XY軸程控移動范圍 | 標準:152.4 x 177.8mm 任選:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時,152.4mm XY軸手動時,269.2mm | |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 |
CCHG1000直讀式粉塵濃度測量儀介紹:
是臺既可以用正壓力法也可以用真空負壓法吸入樣品的粘度測量儀,它最多可內置組泵,一臺儀器最多可以同時采用不同的方法測試個不同的樣品,大大節省了實驗室空間。采用隨機配置的專用軟件包可通過計算機控制臺,同時測試的樣品量可以達到個。每個測量站均獨立操作的靈活性。
技術參數
環境參數: | |||||
工作溫度 |
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儲存溫度 |
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機械和一般參數 | |||
重量 |
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尺寸 |
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電池類型 |
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電池壽命 |
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