SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀特點1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量3層以內的多層膜。
5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產品款式多樣,而且也可以根據顧客的要求設計產品
7)可測量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP專用)
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
具體參數 | |
測量功能 | 功率,電壓,電流,功率因數,頻率。 |
輸入電路類型 | 浮置輸入 |
輸入電阻 | 電壓輸入電阻:≥3M電流輸入阻抗:≤0.1Ω |
直接輸入量程范圍 | 電壓:0~600V、 電流:0~10A、 自動量程 |
測量方式 | 電壓、電流、功率具有真值測量方式 |
電壓電流變比 | PT/CT可自由設定 |
測量精度 | 電壓:±0.3%FS±2Digit 電流:±0.1%FS±2Digit 功率:±0.5%FS±2Digit 功率因數:±0.5% ±2Digit of reading 頻率:±0.2% ±2Digit of reading |
報警輸出 | 電流、電壓、功率、功率因數、頻率、電度值上下限自由設定,繼電器報警輸出 |
電 源 | AC、DC 90~265V |
耐電壓 | AC 1500V 1min |
使用環境 | (23℃±5℃) ≤85%RH |
四路低本底αβ測量儀主要技術性能 1. 對于90Sr-90Y β源(活性區Φ20mm)2π效率比≥50%時,本底≤0.15cm-2min-1; 2. 對于239Pu α源(活性區Φ30mm)2π效率比≥80%時,本底≤0.005cm-2min-1; 3. α/β交叉性能:α進入β道的計數比<3%(對239Pu); β進入α道的計數比<0.5%(對于90Sr-90Y); 4. 長期穩定性 效率穩定性:儀器通電24h,各路探測效率變化<10%; 本底穩定性 儀器通電24h,本底計數率變化應在(nb±3σ)范圍內。 其中nb為本底平均計數率,σ為本底計數率的標準誤差; 5. 絕緣電阻≥2MΩ; 6. 耐壓絕緣度>1500V。我公司為中核(北京)核儀器廠 華南地區總代理,歡迎客戶來電洽談。(聯系電話:13928897352 聯系人,莫家俊)
CEM推出的AC-9非觸式交流電壓測量筆不但具有高度的精確性和度,其小巧便攜的外觀設計也是眾多亮點之一,而其雙注塑外表更是確保了使用者的安全。
技術指標:
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R2000 輻射測量計是一個專注維持重復性固化操作,衡量來自UV點光源系統光輸出量的重要連接。 使用 UV 點固化系統,測量功率或光強度 l 利用OmniCure Series 2000 的無線和/或串口通信可設定照射強度并通過單參照點來校準系統,是大規模化制造中用于維持過程控制的理想選擇 l 專用的檢波系統用于多波段(250-600nm)精確測量,適用于各種光源 l 專用的光學接口可從根本上消除光束形狀的依賴,極大地提高了測量的精度 l 具有可用PC 下載數據的存儲器 l 可為客戶定制個性化感應器,如:固化環輻射測量計和固化點輻射測量計 測光表優點 R2000 測光表是測量光強度的最為、的工具。R2000 便攜測光表的設計中結合了UV 固化系統的 OmniCure® 平臺,它具有無與倫比的校準性能,并通過無線及串行通信在OmniCure® 2000 系列固化系統上設定光強度水平。 極為超前的精密科技 光導端口 自動感應各種工業標準的光導直徑。 控制/顯示 用戶友好的控制方式及的信息顯示,便于單元操作及維護。 精確度 R2000 測光表包括專利檢測系統,可進行精確寬帶測量,在250nm-600nm波長的可測量 范圍內保持精確性。R2000 測光表自動調節保持在 5mW/cm2 - 60W/cm2 測量范圍內的 精確度。 控制 R2000 測光表內置的定制電子結構可連接添加的定制傳感器,在固化點直接測量光能量。 固化點測光表通過測量照射粘合劑的實際光量,提供進、最精確的工藝控制方式。 重復性 R2000 測光表的專利光學接口可收集大面積及數值孔徑上的光線,消除了對光束波形的依 賴。 OmniCure® 2000 系列 在 R2000 測光表的設計中結合了 UV 點固化系統的 OmniCure® 平臺,因此該測光表與OmniCure® 2000 系列一起使用時可發揮其特有的功能。R2000 測光表與 OmniCure® 2000系列點固化系統之間的無線通信允許用戶對各自的系統進行校準,并通過的 R2000 測光表接口控制來設定光強度水平。
更多選擇 近似測量適配器 用戶可通過近似測量適配器獲取的特定應用功率或光線所照區域內的光強度。通過將光線發射端直接置于插入到 R2000 測光表內的近似測量適配器頂部之上完成測量。 燈泡輸出適配器 燈泡輸出適配器為剛性適配器,它作為固化單元和光源間的接口,可直接測量燈泡功率。該光學配件對于系統維護至關重要,因為它可用于判定光導是否由于衰減需要更換。
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該儀器適用于以二座標測量為目的一切應用領域(是測量投影儀的升級產品),在機械,電子,儀表,塑膠等行業廣泛使用
儀器型號 VMS-1510G VMS-2010G VMS-2515G VMS-3020G VMS-4030G
工
作
臺 金屬臺尺寸(mm) 354×228 404×228 450×280 500×330 606×466
玻璃臺尺寸(mm) 210×160 260×160 306×196 350×280 450×350
運動行程(mm) 150×100 200×100 250×150 300×200 400×300
儀器重量(kg) 100 110 120 140 240
外型尺寸(長)x(寬)x(高)mm 756x540x860 670x660x950 720x950x1020
Dual Star系列離子濃度測量儀 | ||
訂 貨 號 | 名稱 | 附件 |
D10P-02 | 二氧化碳測量儀 | 9502BNWP二氧化碳氣敏電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-06 | 低鈉測量儀 | 8411BN鈉離子電極+800500U參比電極+低鈉參比填充液+電極支架 |
D10P-12 | 氨氮測量儀 | 9512BNWP氨氣敏電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-13 | 氟離子測量儀 | 9609BNWP氟離子電極+標準液+離子強度調節劑+電極填充液+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-16N | 硫離子測量儀 | 9616BNWP銀/硫電極+抗氧化劑+電極填充液+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-16 | 銀離子測量儀 | 9616BNWP銀/硫電極+離子強度調節劑+電極填充液+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-17 | 氯離子測量儀 | 9617BNWP氯離子電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-19 | 鉀離子測量儀 | Orion奧立龍二氧化碳測量儀價格,進口二氧化碳測量儀代理商 9719BNWP鉀離子電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-20 | 鈣離子測量儀 | 9720BNWP鈣離子電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-26 | 氰離子測量儀 | 9606BNWP氰離子電極+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-29 | 銅離子測量儀 | 9629BNWP銅離子電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-35 | 溴離子測量儀 | 9635BNWP溴離子電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-48 | 鎘離子測量儀 | 9648BNWP鎘離子電極+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-53 | 碘離子測量儀 | 9653BNWP碘離子電極+標準液+離子強度調節劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-70 | 余氯測量儀 | 9770BNWP余氯電極+標準液+碘試劑+酸試劑+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
D10P-82 | 鉛離子測量儀 | 9682BNWP鉛離子電極+標準液+攪拌器+ATC+RS232數據線+電極支架 |
一、簡介:
MTY-8型陶瓷磚厚度測量儀(簡稱測厚儀)是用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量,具有度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優點,是有關生產與質檢單位的良好儀器。
二、主要技術參數:
1.測厚儀的度:±0.1mm
2.測厚儀的測量范圍:
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一、簡介:
MTY-8型陶瓷磚厚度測量儀(簡稱測厚儀)是用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量,具有度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優點,是有關生產與質檢單位的良好儀器。
二、主要技術參數:
1.測厚儀的度:±0.1mm
2.測厚儀的測量范圍:
規 格 | 大測量范圍(長×寬) | 大測量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
一、簡介:
MTY-8型陶瓷磚厚度測量儀(簡稱測厚儀)是用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量,具有度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優點,是有關生產與質檢單位的良好儀器。
二、主要技術參數:
1.測厚儀的度:±0.1mm
2.測厚儀的測量范圍:
規 格 | 大測量范圍(長×寬) | 大測量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |