電鍍鍍層測試儀，X熒光鍍層測厚儀，X射線鍍層厚度測量儀
熒光鍍層測厚儀產品介紹：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界領先。
采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯最新專利技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。
樣品移動設計為樣品腔外部調節，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
X熒光鍍層測厚儀產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專用3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義
樣品腔：330×360×100mm
X熒光鍍層測厚儀標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機
X熒光鍍層測厚儀
完全滿足客戶銅鍍錫、銅鍍鎳、銅鍍銀、銅鍍金、銅鍍鎳鍍金、鎳鍍金、鐵鍍鋅、鐵鍍鉻等常用金屬鍍層測厚分析，并具有開放性工作曲線功能，能根據具體需求添加適合現場使用的鍍層測試工作曲線，能夠滿足所有金屬鍍層測厚分析。
Ux系列儀器完全符合國際電工委員會IEC62321標準及中國環保標準所規定的技術要求和技術規范。
可以實現全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應商信息自動篩選和保存
THICK800AX熒光鍍層測厚儀，膜厚儀，天瑞THICK800A
Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護
技術指標
型號：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg
標準配置
開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
X熒光鍍層測厚儀波譜校正片
產品名稱：X熒光鍍層測厚儀波譜校正片
產品型號：X熒光鍍層測厚儀CMI900，CMI920波譜校正片，測厚儀校正片，膜厚儀校正片
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 / 920金屬鍍層厚度的準確測量
CMI 900 / 920 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/920主機的全面自動化控制。
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都領先測厚行業。
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多達5層、15 種元素。
B ：精準度領先行業 ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
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廠家提供X熒光鍍層測厚儀Thcik800A天瑞儀器
廠家提供X熒光鍍層測厚儀Thcik800A1.性能優勢天瑞X熒光鍍層測厚儀THICK800A
Thick800A是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護技術指標型號：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量般為ppm到99.9% 。鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg標準配置開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機應用領域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
1、專業的電鍍和表面處理廠家2、電子元器件、二極管銅鍍銀，圓晶鍍錫、鍍硅厚度測量3、射頻連接器鍍錫厚度測量4、PCB板行業鍍層厚度測量5、LED支架鍍銀層百度測量6、衛浴行業鍍鉻層厚度測量7、陶瓷鍍鉬、金屬化鍍層厚度測量8、緊固件鍍鋅、鍍銀等電鍍鍍層厚度測量9、鐵路配件等電鍍鍍層厚度測量10、各種金屬電鍍膜厚相關的企業廠家的電鍍鍍層厚度測量
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是大的鍍層測厚儀生產企業， 產品打破了外壟斷局面，性價比高，在行業內銷量領先，分析儀器上市公司。公司專業生產鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質譜儀（GCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，，手持式鍍層測厚儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務，是內上市的分析儀器企業。
Thick800a磁性材料X熒光鍍層測厚儀
配件(1) X光管 (2) Si-PIN電制冷半導體探測器(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺 (5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源(7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置(9) 鉛玻璃屏蔽罩產品特點該款儀器為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、飾手表、檢測機構等行業量身打造的業儀器。XYZ三個可調節方向、方位的樣品觀察系統和激光定位使得檢測更方便。超大的測試內部空間，良好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便，可適應惡劣工作環境。 采用公司新的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。 具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。 產品用途1、電子半導體行業接插件和觸點的厚度測量2、印刷線路板行業功能鍍層厚度測量3、貴金屬飾手表行業鍍層厚度測量4、五金電鍍行業各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量產品優勢滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm磁性材料電鍍層測厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護參數規格1 型號Thick800A磁性材料X熒光鍍層測厚儀2外型尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm3樣品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm4 樣品臺尺寸 30(W)×210(D)mm5 Z軸升降平臺升降范圍0～140mm6 平臺移動測量范圍 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)7 *分析方法 FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法8 測量元素范圍 原子序數為16S～92U之間的元素均可測量9 *同時檢測元素次可同時分析多24個元素，五層鍍層10 *檢出限 金屬鍍層分析薄可達0.005μm11 厚度范圍 分析鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）12 穩定性 多次測量重復性可達1%13 檢測時間 30-6014 *探測器及分辨率25mm2Be窗口SDD探測器，分辨率140±5eV15 激發源50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源16 *多道分析器 DMCA數字多道分析技術，分析道數4096道17 準直器和濾光片固定Ф0.2mm準直器，可選配其他孔徑，Al濾光片18 定位 平臺電機重復定位精度小于0.1um19 樣品觀察 配備CCD多彩攝像頭，圖像放大可達40倍，實現微小樣品清晰定位。20 平臺穩定性 Z軸測試平臺采用恒力彈簧平衡重力，實現平臺的恒力升降，降低Z軸電機負荷，并了Z軸的垂直度。21 安性 雙重安保護設施：防撞激光檢測器與樣品室門開閉傳感器；待機無輻射，工作時輻射水平遠低于際安標準，且具有軟件連動裝置。22 操作環境溫濕度 15℃～30℃，≤70%23 儀器重量 90kg24 工作電源 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源公司介紹江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有北京邦鑫偉業技術開發有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家資子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司業從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務，是內在創業板上市的分析儀器企業。公司產品主要應用于環境保護與安（空氣、土壤、水質污染檢測等）、礦產與資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多域。 
江蘇天瑞儀器股份有限公司是業生產ROHS檢測儀，X射線測厚儀，電鍍層測厚儀，磁性材料X熒光鍍層測厚儀，氣相色譜質譜聯用儀，LCMS，手持式合金分析儀，銅金成分分析儀器等。
Thick600X熒光鍍層測厚儀
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