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TASI-676便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676

便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676

便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676產(chǎn)品特點：可測量導(dǎo)磁、非導(dǎo)磁材料。資料儲存255筆。可設(shè)定Hi/Lo 警報蜂鳴的讀值范圍。選擇平均值、最大值、最小值及最大值-最小值。常用厚度量測點可使用快速一點校正。使用者可選擇μm/mils 可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676說明

測量范圍	0~40.0mils （0~1000μm）
精確度	±（4 位）在0~7.8mils ±（10 位）在0~199μm ±（3%+4 位）在7.9mils~40mils ±（3%+10 位）在200μm~1000μm
解析度	0.1mils/1μm
回應(yīng)時間	1 秒
顯示	3½ 位數(shù)字液晶顯示，最大1999 讀值
電池電壓不足顯示	當電池電壓低于操作電壓時，"+ - "顯示
自動關(guān)機	15 秒
電池	9V堿性電池一節(jié)
精確度測試環(huán)境	23℃±5℃，相對濕度<75%R.H.
操作環(huán)境	0℃~50℃，相對濕度<80%R.H.
儲存環(huán)境	-20℃~60℃，0~70%R.H.
尺寸	148mm（高）x105mm（寬）x42mm（厚）
重量	約260公克（含電池）
附件	說明書、電池、皮套

該公司產(chǎn)品分類：儀器儀表鹽分計邏輯筆電子負載電源/直流電源壓力表相序表溫度探頭高壓探頭功率計數(shù)字示波器噪聲分貝器電磁波輻射儀膜厚計接地電阻計氣體檢測儀木材/紙張水份測試儀 PH酸堿度計轉(zhuǎn)速表溫濕度記錄器

膜厚測試儀標準片膜厚測量校正片

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB,五金電鍍,半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據(jù)標準片厚度值證書.

我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團附屬成員. 我集團在中國和香港地區(qū)代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!!

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！

歡迎咨詢洽談13424255969

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據(jù)標準片厚度值證書.

xrf-2000H特價膜厚測試儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素范圍：

鈦（Ti） – 鈾（U）

可測量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV（程控）

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質(zhì).

該公司產(chǎn)品分類：精密儀器

BX610-MHCSY博曼膜厚測試儀

產(chǎn)品名稱:博曼膜厚測試儀產(chǎn)品型號:BX610-MHCSY元素范圍：鋁13到鈾92。 x射線激發(fā)能量：50W(50kv和1ma)鎢靶射線管探測器：硅PIN檢測器250ev的分辨率或更高的分辨率測量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素過濾器/準直器：4個初級濾波器,4個電動準直器（0.10.20.31.5mm）聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng) 數(shù)字脈沖處理:4096多通道數(shù)字分析器與自動信號處理，包括X射線時間修正和防X射線積累電腦:英特爾酷睿i53470處理器(3.2ghz),8gbDDR3內(nèi)存,微軟Windows7專業(yè)64位等效鏡頭:1/4"cmos-1280x720VGA分辨率電源:150w、100~240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98%RH,無冷凝水重量:32公斤內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)140*310mm 外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)450*450mm 美國Bowman博曼膜厚測試儀典型應(yīng)用： •電子、PCB：Au/Ni(p)/Cu/EpoxySn/Ni/Cu/EpoAg/Cu/EpoAu/Pd/Ni/Cu/Epo…. •連接器：Ag/Ni/Cu/BrassAu/Ni/MsNi/CuPdNi…… •晶片：AuAgNipCuTi….. •汽車製造：Paint/Zn/FePaint/ZnPaint/AIZn/FeCr/Ni/Cu/ABSCr/Fe…… •航太航天：Paint/AI……. •衛(wèi)星：Paint/FeAnodising…….. •衛(wèi)浴電鍍:Cr/Ni/Cu/ABSCr/Ni/Cu/BrassBathanalysis •配件緊固件:Ni/FeZn-Ni/FeCr/Ni/Fe……

該公司產(chǎn)品分類：顯微鏡系列復(fù)合氣體檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀甲烷檢測儀有毒氣體檢測儀酒精測試儀垃圾場氣體檢測空氣質(zhì)量檢測儀熏蒸氣體檢測儀氣體檢測報警儀氫氣氣體檢測報氧氣檢測儀測氡儀干燥箱系列培養(yǎng)箱系列振蕩器系列攪拌器系列水浴鍋系列離心機系列粉碎機系列

偏光片反射率測試，ITO薄膜反射率測試，TouchPannel反射率測試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測試，Low-e玻璃反射率測試，汽車車燈鍍膜膜厚測試,涂層膜厚測試儀

儀器簡介

AS-300反射率測試儀器是一款高精度反射率測試儀器，可測量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測試，ITO薄膜反射率測試，TouchPannel反射率測試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測試，Low-e玻璃反射率測試，汽車車燈鍍膜膜厚測試等。

儀器功能：

·光譜測量在波長范圍內(nèi)進行反射度能量的圖譜掃描,并可進行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導(dǎo)數(shù)運算、譜圖運算等.·數(shù)據(jù)輸出可進行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測量結(jié)果以標準通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出

關(guān)鍵字：偏光片反射率測試，ITO薄膜反射率測試，TouchPannel反射率測試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測試，Low-e玻璃反射率測試，汽車車燈鍍膜膜厚測試

AS-300 反射率測試儀器

技術(shù)參數(shù)

波長精度：0.2nm

校正線性度：99.8%

測量誤差：1%以下

單次測量時間：最小100ms

功耗：200W

電源：210~245V，60Hz

信號接口：USB2.0

操作系統(tǒng)：windows

波長范圍：200-1100 nm

數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器（USB2.0 接口），18ms（USB1.1）

每300ms 一個全掃描入存儲器（串行口）

探測器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um

光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外

積分時間：10um～65min

入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖（無狹縫）

光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連

各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)

電子控制：8 個數(shù)字GPIO 接口電子快門控制（最短10um）

焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）

光學分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇有關(guān)）

動態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300:1（單個掃描信號）

主要特點：

·設(shè)計的優(yōu)良的光學系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.

·雙光束測光系統(tǒng),配合設(shè)計的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和

極低的噪聲.

全自動的控制系統(tǒng),的設(shè)計理念,確保儀器具有高性和高穩(wěn)定性.

·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計,易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.

·寬敞型開放式光源室設(shè)計,使燈源更換更加方便.

·所有部件均選用進口器件.了儀器性能的高性.

·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,具有多項專利技術(shù).提供了豐富的

獨具特色的分析功能.

該公司產(chǎn)品分類：其實電子測試儀器電子測試儀系統(tǒng) 儀器儀表

電鍍層電解膜厚測試儀供應(yīng)電鍍層電解膜厚測試儀，北京電鍍層電解膜厚測試儀

產(chǎn)品標題

電鍍層電解膜厚測試儀北京

型號

KH.1-20IA（微電腦型號KH.1-HQT-IB）

圖片

簡介

測量品種：銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差。　　測量范圍：0.03μm～99.99μm 準確度：±10% 　　復(fù)現(xiàn)精度：<5% 　　電位測量范圍：－100mv～+400mv 電位測量精度：±5%\\ 　　本產(chǎn)品榮獲國家輕工部科技成果三等獎。

	基本型	多層鎳型
測量原理	利用與鍍層、基材相對應(yīng)的電解液、在一定的電流所溶解的硬度和時間成正比，來測定膜厚的一種測量方（卻運用電化學中的庫侖法來測定膜厚）	測量厚度的原理和基本型相同。測量電位差是利用不同鎳層之間的電位差異來反映各層鎳的厚度及層間電位差。
可測定材料	可被電解液所電解金屬鍍層，如：鋼、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等。	基本型儀器可測量的各種鍍種的厚度及多層鎳的層間電位差。
測量范圍	0．03微米－－-99.99微米	厚度：0．03微米－－-99.99微米電位差：-100mV－－+400 mV
準確度	±10%	厚度：±10% 電位差：±5%
復(fù)現(xiàn)精度	＜5%	＜5%
測量質(zhì)表示	LED4位顯示，其中兩位為小數(shù)。打印輸出四位數(shù)字，其中兩位為小數(shù)	除了擁有LED4位顯示和4位打印輸出以處還有繪圖儀輸出電位差曲線，繪圖儀輸出的圖形是X軸代表電位（mv），Y軸代表厚度（微米 um）的座標軸上顯示的比例曲線。
測量面積	A橡皮墊圈直徑2.5mm B皮墊圈直徑1.7 mm	A橡皮墊圈直徑2.5mm B皮墊圈直徑1.7 mm
性能特點	操作簡便，復(fù)現(xiàn)性好，可測量單層，復(fù)合型電鍍，具有內(nèi)置徵電腦，直觀顯示各層厚度。	操作簡便，復(fù)現(xiàn)性好，可測量單層，復(fù)合型電鍍，具有內(nèi)置徵電腦，通過徵電腦處理，直觀顯示各層厚度及電位差。
設(shè)備配備	主機、電解池、有機測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打印紙及支架、試劑瓶等。	主機、電解池、有機測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打印紙及支架、試劑瓶、繪圖儀等。

膜厚測試儀

CMI900 無損電鍍膜厚測試儀，鍍層測厚儀專業(yè)測量金、銀鈀銠鎳銅錫等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速無損，業(yè)內(nèi)廣受好評，客戶應(yīng)

用廣泛在五金連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系測量量樣品洽談往來本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗豐富，商業(yè)合作個方式靈活。

金屬鍍層厚度測量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等合金（兩樣金屬元素）鍍層厚度測量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP（無電浸鎳）在Fe上等合金（三檬金屬元素）鍍層厚度測量，例如： AuCuCd在Ni上等雙鍍層厚度測量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等雙鍍層厚度測量（其中一層是合金層），例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等三鍍層，例如： Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上

PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應(yīng)用

儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域

，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù)：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um （相對與標準片）C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

該公司產(chǎn)品分類：光譜儀膜厚測試儀

TT260時代手持式涂鍍層膜厚測試儀TT260深圳現(xiàn)貨

TT260涂層測厚儀主要技術(shù)指標

使用環(huán)境溫度	0～40℃
電源	鎳氫電池5×1.2V 600mAH
外型尺寸	270×86×47mm
重量	530g
測量范圍	0—1250μm
可使用6種測頭	（F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02）進行測量
三種校準方法	一點校準、二點校準、基本校準
顯示分辨率	0.1μm（測量范圍小于100μm）1μm （測量范圍大于100μm）
設(shè)五個統(tǒng)計量	存儲495個數(shù)據(jù)
有兩種工作方式	直接方式和成組方式
有兩種測量方式	連續(xù)測量和單次測量
有兩種關(guān)機方式	手動關(guān)機和自動關(guān)機
可設(shè)置限界	對限界外的測量值能自動報警，并可用直方圖對一批測量值進行分析
有刪除功能	對粗大誤差及錯誤設(shè)置可進行刪除處理
打印功能	可打印測量測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖
其它功能	有音樂鈴聲隨時對操作進行提示有電源欠壓指示功能可以邊充電邊工作錯誤提示功能與計算機通訊（通訊軟件運行環(huán)境為Window操作系統(tǒng)），用計算機控制測厚儀工作。
基本配置	TT260主機　　 1臺， TT260打印機　 1臺，F(xiàn)1或N1測頭　 1支，校準標準片　 1套，充電器　　　　1個

該公司產(chǎn)品分類：無損檢測設(shè)備環(huán)境試驗機系列光學顯微鏡系列硬度計系列測高儀系列投影儀系列影像測量儀系列日本三豐精密量儀

CMI900膜厚測試儀|膜厚測試儀生產(chǎn)

膜厚測試儀|膜厚測試儀生產(chǎn),CMI900 膜厚測試儀膜厚儀鍍層測厚儀 X-RAY膜厚儀 XRF鍍層測厚儀膜厚測試儀廠家|膜厚測試儀報價|沉鎳金鍍層測厚儀我公司是牛津儀器技術(shù)力量最為強大的大陸代理商，專業(yè)銷售：鍍層測量儀,電鍍測厚儀,膜厚儀,金屬測厚儀,X射線測厚儀,無損測厚儀,鍍膜測厚儀,金鎳測厚儀,銅厚測量儀,X射線元素分析儀,線路板銅厚測量儀,合金分析儀,產(chǎn)品RoHS檢測儀；在蘇州設(shè)有分公司。公司有多名經(jīng)驗豐富的銷售、服務(wù)工程師，是牛津儀器在大陸委托的服務(wù)商，以來得到牛津廠家及廣大客戶的好評。

公司產(chǎn)品及服務(wù)項目：

1.復(fù)合鍍層測厚儀CMI90O、X-Strata980

主要用于：電鍍、五金、連接器、PCB、SMT、半導(dǎo)體及、汽車零部件的多層金屬鍍層的非破壞性測厚。

2.線路板PCB專用銅厚測量儀CMI700、CMI500、CM95

主要用于：PCB、SMT及PCB電鍍加工廠對面銅、孔銅、綠油的非破壞性測厚。

3.產(chǎn)品RoHS檢測儀：X-MET5000、X-Strata980

主要用于：對出口歐盟產(chǎn)品RoHS指令中有害物物質(zhì)檢測。

4.多元合金分析儀X-MET5000

主要用于：多元合金中元素定量分析

聯(lián)系人：張軍濤

關(guān)鍵詞：深圳測厚儀、東莞測厚儀、惠州測厚儀、珠海測厚儀、廣州測厚儀、中山測厚儀、汕頭測厚儀、梅州測厚儀、佛山測厚儀、德國測厚儀、美國測厚儀、英國測厚儀、日本測厚儀膜厚測試儀|膜厚測試儀生產(chǎn),膜厚測試儀廠家|膜厚測試儀報價|沉鎳金鍍層測厚儀CMI900 膜厚測試儀膜厚儀鍍層測厚儀 X-RAY膜厚儀 XRF鍍層測厚儀

該公司產(chǎn)品分類： x-strata920 cmi900 cmi900/strata920 X-STRATA920 CMI900 X-STRATA920 CMI900 X-SARATA920 CMI900 鍍層測厚儀膜厚測試儀膜厚儀

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TASI-676便攜式膜厚計/多功能膜厚儀/手持式膜厚計/臺灣特安斯/膜厚測試儀/TASI676

膜厚測試儀標準片膜厚測量校正片

美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測試儀標準片

xrf-2000H特價膜厚測試儀

BX610-MHCSY博曼膜厚測試儀

偏光片反射率測試，ITO薄膜反射率測試，TouchPannel反射率測試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測試，Low-e玻璃反射率測試，汽車車燈鍍膜膜厚測試,涂層膜厚測試儀

電鍍層電解膜厚測試儀供應(yīng)電鍍層電解膜厚測試儀，北京電鍍層電解膜厚測試儀

膜厚測試儀

TT260時代手持式涂鍍層膜厚測試儀TT260深圳現(xiàn)貨

CMI900膜厚測試儀|膜厚測試儀生產(chǎn)

最新產(chǎn)品