測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種,它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,使用范圍極廣,主要用途如下:直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度,例如測(cè)定孔距,幾面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度狹縫寬度、通孔外圓直徑等等:轉(zhuǎn)動(dòng)度盤(pán)測(cè)定角度,例如對(duì)刻度盤(pán)、樣板、量規(guī)、鉆孔、模板、刀具磨制及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測(cè)量;作為普通顯微鏡觀察,以比較法檢查工作表面粗糙度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本,檢定印刷照相制版,檢驗(yàn)紡織纖維等等。
目鏡:10X 物鏡:2.5X,10X 工作距離:58.84mm、7.81mm 視場(chǎng)直徑:5.6mm、1.4 mm 總放大倍數(shù):25X、100X 測(cè)量工作臺(tái):直徑120mm, XY軸移動(dòng)范圍50mm×13mm,轉(zhuǎn)動(dòng)范圍0度-360度,刻度盤(pán)之分度值1度, 刻度盤(pán)游標(biāo)讀數(shù)值: 6’ 測(cè)量臺(tái)與物鏡間之最大距離:80mm 數(shù)顯測(cè)微器分度值:0.01mm, 測(cè)量精度:儀器示值誤差±(5+L/15)um( 儀器示值誤差包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差)注:測(cè)量地點(diǎn)溫度變化(20±3)℃; L—被測(cè)件長(zhǎng)度(mm)
![]()
| ![]() ![]() |
XTL性能參數(shù) |
光學(xué)系統(tǒng) |
內(nèi)斜光路變倍系統(tǒng),體視角13°、45°傾斜觀察 |
變倍比:6.5:1(0.7X-4.5X) |
目鏡: WF10X(φ20mm) |
物鏡: 0.7X-4.5X |
工作距離:95mm |
視場(chǎng)范圍: 5.1mm-33mm |
雙目瞳距:55mm-75mm |
圓形載物臺(tái)直徑:φ95mm(濾色片直徑φ40mm) |
光 源:110V,220V/12V/10W鹵素?zé)袅炼瓤烧{(diào) |
選購(gòu)部件:攝影裝置(僅限三目式) 彩色顯微電視裝置(僅限三目式) 數(shù)碼顯微攝影裝置(僅限三目式) |
廣角目鏡:5X、12.5X、15X、20X、25X |
超廣角目鏡:10X(φ23mm) |
輔助大物鏡:0.5X、0.75X1.5X、2X |
暗視場(chǎng)聚光鏡、寶石夾、寶石燈 |
ZWT302機(jī)械載物臺(tái) |