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SNE-4500M桌上型掃描電子顯微鏡 SNE-4500M

越光學極限的高倍率

■ 最高倍率達100,000X■ SE（二次電子）探測器（可選BSE探測器）

■ 加速電壓5kV~30kV范圍可調

■ 多種真空模超式-標準/荷電減輕

■ 等待時間少于2分鐘

■ 5軸控制載物臺-X、Y、R、Z、T

■ 4孔可變光闌-30/50/100/200 um

■ 選配-EDX系統冷凍載臺低真空控制系統

非導電性樣品無須涂層、快速簡便

■ 任何人都能使用的自動調整功能■ 交替樣品后兩分鐘即可獲得滿意的影像■ 體積小巧，靈活快捷■ 最便利化的GUI界面

影像鮮明的掃描電鏡

■ 高分辨率最高可達5百萬像素■ 極大的景深層次豐富■ 多種格式儲存■ 多種測定功能：長度、角度等

該公司產品分類：仿真應用解決方案電動運動控制系統通用均勻光源系統 X ray檢測設備

產品簡介：SU8200 系列冷場掃描是日立高新經過多年潛心鉆研，巨額投入而研發出來的新一代革新性冷場電鏡，此系列掃描電鏡在完全秉承以往冷場發射掃描電鏡全部優點我司專業供應（礦物油分析儀，食品風味分析儀，液相色譜離子遷移譜，）ROHS環保檢測儀,X熒光光譜儀、合金分析儀，安全消防3C認證氫元素分析儀，重金屬分析儀、金屬元素分析儀，全譜直讀光譜儀，XRF射線鍍層測厚儀，傅里葉變頻光譜儀，/ICP等離子光譜儀，Gc-Ms氣相色譜聯用儀，AAS原子吸收分光光度計，AFS原子熒光光譜儀，HPLC高效液相色譜儀，ICS離子色譜儀，UV紫外線分光光度計，分析天平，超純凈水機，顯微鏡，掃描電鏡，掃描電鏡制樣設備離子研磨儀金相制樣設備等實驗室儀器設備，同時我們為您提供“一站式”歐盟環保檢測綜合解決方案－－－－安全消防3C認證－－－－無鹵實驗室、ROHS2.0實驗室及歐盟REACH實驗室。

儀器簡介

　　SU8200 系列冷場掃描是日立高新經過多年潛心鉆研，巨額投入而研發出來的新一代革新性冷場電鏡，此系列掃描電鏡在完全秉承以往冷場發射掃描電鏡全部優點的同時，將探針電流進行了大幅提高，電流穩定性得到了極大增強，同時避免了燈絲Flash 后的采圖等待時間，可以說其彌補了以往冷場電鏡的所有弱勢，成為一款真正的超高分辨分析型冷場掃描電鏡，上演了一部現實版的王者歸來!

主要特點：

　　日立高新新研發的冷場電子槍

1.利用電子槍轟擊后的高亮度穩定期，束流更大更穩定，高分辨觀察和分析兼顧

2.大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)

3.減輕污染的高真空樣品倉

4.通過頂部過濾器(選配項)實現多種材料對比度可視化聯系人鐘先生 1564055 / QQ：

該公司產品分類：分子間相互作用儀微波樣品前處理電化學系列超純水儀紅外光譜儀（IR 、傅立葉） TOC分析儀/總有機碳分析儀等離子體質譜ICP-MS 離子色譜（IC）液相色譜（LC）夜質聯用LC-MS 紫外分光光度計、紫外可見分光光度計UV 原子熒光光譜儀(AFS) 原子吸收光譜儀（AAS）氣相(GC) - 氣質聯用GC-MS 掃描電子顯微鏡（SEM) ROHS環保檢測儀--光譜儀 LC-GC9000礦物油檢測儀

AIS2100韓國MIRERO-SERON掃描電子顯微鏡（掃描電鏡SEM）

AIS2100是韓國MIRERO-SERON株式會社集成了領先的電子光學設計和的制造工藝而開發的多用途掃描電子顯微鏡（SEM）。具有高性能、友好的圖形用戶界面（GUI）、操作簡單、極高性價比等特點，通過點擊鼠標就可以完成操作。AIS2100是功能完善數字式SEM，可以捕獲、存儲、測量、打印高分辯率SEM數字圖像，也可以將圖像傳輸到任何地方實現共享。高性能掃描電鏡分辨率： 3.5nm 放大倍數 15-300000x 加速電壓： 0.5Kv-30Kv 樣品臺移動范圍(X,Y,Z)： 60/70/65mm 極強的應用擴展能力具有EDS, WDS 及 BSE探測器安裝接口 WEB服務用戶可以定制的樣品室和圖像處理

該公司產品分類：位移臺工業CT 真空泵 CCD相機/影像CCD X射線探測裝置微生物檢測系統/微生物快速檢測系統渦旋振蕩器/旋渦混合器液體處理工作站(移液工作站) 電子束刻蝕系統離子濺射儀搖床、振蕩器、混勻器等離子體表面處理儀臨界點干燥儀電鏡附件及外設場強儀/電磁場強分析儀離子減薄儀透射電子顯微鏡（透射電鏡、TEM）接觸角測量儀化學發光分析儀其它干燥設備

掃描電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡

用途：XTT-IIA型體視顯微鏡是一種三目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質量，操作簡單，使用方便，可供電子工業、臨床手術、巖礦分析、教學示范，儀器儀表及細小精密零件的檢驗、裝配修理和生物解剖之用。并可接攝影或攝像裝置。

產品技術指標

瞳距調節范圍：54-75mm圓形載物臺直徑：①95mm 手輪調焦范圍：49m 視度調節范圍：±5輸入電壓：ACll0V或220V輸出：斜射光照明12V15W帶杯鹵鎢燈透射光照明：12V15W．鹵素燈放大倍數：20X-40X-80X　

S-3400N供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡

S-3400N掃描電子顯微鏡

S-3400N具有最新開發的電子光學系統，強大的自動化功能，操作更簡易。

特點:

1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。

2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。

3. 新型5分割高靈敏半導體式背散射探頭。

4. S-3400N II型具有五軸馬達臺，傾斜角度可達-20度~+90度，樣品最高可達80mm。

5. 分析樣品倉可以同時安裝EDX ， WDX 及EBSD。

6. 真空系統使用渦輪分子泵，潔凈、高效。

技術指標：

項目	描述
SE分辨率	3.0nm (30kV)，高真空模式 10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率	4.0nm (30kV)，低真空模式
放大倍率	x5 ~ x300,000
加速電壓	0.3 ~ 30 kV
低真空范圍	6 ~ 270 Pa
最大樣品尺寸	直徑200mm
樣品臺	I型 II型
X	0 ~ 80mm 0 ~ 100mm
Y	0 ~ 40mm 0 ~ 50mm
Z	5 ~ 35mm 5 ~ 65mm
R	360º 360º
T	-20º~ +90º -20º ~ +90º
最大樣品高度	35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)
驅動類型	手動五軸馬達驅動
燈絲	預對中鎢燈絲
物鏡光欄	可移動式4孔物鏡光欄
槍偏壓	固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
檢測器	二次電子檢測器高靈敏度半導體背散射電子檢測器
分析位置	WD=10mm, TOA=35o
控制	鼠標、鍵盤，手動旋鈕
自動調校	自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸、自動聚焦消像散、自動亮度對比度

該公司產品分類：德塔顏色分光光度計檢測儀器馬爾文防爆空調日本日立日本理音德國耐馳安捷倫梅特勒易滴定系列分析儀器

JSM-6610A/JSM-6610LA掃描電子顯微鏡

日本電子,電鏡,掃描電鏡大樣品室和馬達驅動樣品臺艾先生 --5334 0755--3150 Q -6154

樣品室對應樣品的直徑可達到200mm,5軸馬達驅動確保了率的樣品移動和觀察。

操作窗口

直觀的操作界面的設計，簡明易懂便于迅速掌握操作。

支持多用戶

單個用戶可以根據常用功能設置相應的圖標，營造率的操作環境。用戶登錄時，即可加載已注冊過的設定。

同時顯示兩幅圖像

畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分布。

微細結構測量

適合于多種測量功能。可在觀察圖像上直接進行測量。也可將測量結果貼至SEM圖像，保存在文件中。

標準的全對中樣品臺，能收錄三維照片

3D Sight（選配件），能夠進行平面測量和高度測量，實現立體俯視圖。

從圖像觀察到元素分析，配合連貫一條龍

分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺監視器，一臺用于SEM圖像觀察和另一臺用于元素分析（EDS）。一只通用鼠標即可同時控制兩臺監視器。大尺寸畫面使操作更加簡便與舒適。

維護簡便

工廠預置中心燈絲，十分便于更換。因此，可保持穩定的高性能。此外，操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護的步驟說明。

可信賴的真空系統

真空系統使用高性能的擴散泵了潔凈的高真空狀態。擴散泵內部無活動部件，體現了操作穩定，維護簡便的特色。

該公司產品分類： EO滅菌柜環氧乙烷滅菌器頂空氣相色譜紫外可見分光光度計環氧乙烷殘留量檢測儀環氧乙烷滅菌柜環氧乙烷滅菌器儀器租賃泰斯肯掃描電鏡萊伯泰科電感銷售海光儀器二手儀器回收二手儀器銷售二手儀器銷售和回收儀器維修保養賽默飛世爾（熱電）韓國賽可儀器瑞士萬通儀器日本精工儀器

Inspect F50FEI場發射掃描電子顯微鏡

在結構研究中, 大量的樣品需要在高放大倍數、更多細節的水平上進行觀察和分析。同時, 隨著樣品種類的不斷增多(如: 低原子序數材料, 不導電材料等), 需要掃描電子顯微鏡提供優異的低加速電壓性能, 以獲得高質量的真實表面圖像。Inspect F50 場發射掃描電子顯微鏡系統就是根據這一要求而設計的。它還提供了低加速電壓的背散射電子圖像, 薄樣品的暗場/明場STEM(掃描透射)像。Inspect F50 系統操作和維護方便, 同時可安裝各種掃描電鏡的附件(如: 能譜儀系統, 波譜儀系統, EBSD等等)。Inspect F50 是一款經典的場發射掃描電子顯微鏡。

場發射掃描電子顯微鏡Inspect F50的技術參數

1、燈絲: 超高亮度Schottky場發射燈絲

2、分辨率：1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV

二次電子:

1、0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV

減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)

背散射電子:

2、5nm @ 30kV

3、加速電壓：200 V - 30 kV, 連續可調

4、探測器：E-T二次電子探測器，可選背散射探測器

5、50x50mm 4軸馬達驅動全對中樣品臺

場發射掃描電子顯微鏡Inspect F50的主要特點

1、分子泵+離子泵真空系統

2、高穩定性、超高亮度場發射燈絲，滿足高分辨觀察和微觀分析的要求

3、可選FEI獨特的STEM探測器，分辨率達到0.8nm

4、穩定的大束流(最大200nA)確保高速、準確的能譜、波譜和EBSD分析

5、Windows XP操作系統

該公司產品分類：萬能材料試驗機 FEI掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡掃描電子顯微鏡焊接熔深測量顆粒度大小檢測電子切片失效分析非金屬夾雜物分析鋁合金孔隙率分析清潔度分析檢測汽車零部件檢測解決方案手持式X熒光光譜儀(XRF) 光譜儀試驗機

KYKY-2800實用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800

KYKY-2800系列
實用型掃描電子顯微鏡

項目		KYKY-2800B	KYKY-2800BZ	KYKY-2800A	KYKY-2800AZ
分辨率		4.5nm(30KV)
放大倍數		15x~250,000x
電子槍類型		發叉式鎢絲陰極
加速電壓		0~30KV
透鏡系統		三級電磁透鏡
物鏡光闌		三個光闌可在真空外選擇調節
樣品臺		手動	X/Y軸自動	手動	X/Y軸自動
行程	X	0~50mm(大樣品臺0~80mm)
	Y	0~50mm
	Z	0~25mm(大樣品臺0~30mm)
	R	360º
	T	‘-5º ~90º （大樣品0º~90º）
探測器		二次電子探測器，背散射電子探測器（可選），X-ray能譜儀（可選）
真空系統		擴散泵	擴散泵	分子泵	分子泵

KYKY-2800 Series
Practical Type SEM

Model		KYKY-2800B	KYKY-2800BZ	KYKY-2800A	KYKY-2800AZ
Resolution		4.5nm(30KV)
Magnification		15x~250,000x
Electron gun		Hair fork tungsten cathode
accel voltage		0~30KV
Lens System		Level 3 electromagnetic lens
Lens Isis		three diaphragm can be adjusted without vacuum
Stage		Manual	X/Y axis Automatic	Manual	X/Yaxis Automatic
Move Range	X	0~50mm(large stage 0~80mm)
	Y	0~50mm
	Z	0~25mm(large stage 0~30mm)
	R	360º
	T	‘-5º ~90º （large stage 0º~90º）
Detector		secondary electron detector ，backscattered electron detector （optional），X-ray Energy Disperse Spectroscopy (optional)
Vacuum system		diffusion pump	diffusion pump	molecular pump	molecular pump

該公司產品分類： Itaca三坐標三維激光掃描儀掃描電子顯微鏡 RAM 系列 OGP系列 CCP系列 View 系列

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像系統改造

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像系統改造硬件：

1.原裝美國國家儀器公司圖像采集板，支持PCI總線標準（2.2版），其總線數據度可達32位，頻率為33MHz，傳輸速率132Mb/S；支持的數據管理結構，包括兩路 DMA引擎，可編程的目標和源數據傳輸模式，以及PCI消息功能，即插即用。

2.SEM圖像接口及電纜

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像系統改造功能：

1.主動式數字掃描系統，可實時調整掃描速度，亮度和對比度等。

2.可選擇全屏掃描和區域掃描。

3.采集速度：4～120μS多種點逗留方式。

4.采集圖像分辨率：64648bit、1281288bit、2562568bit、 5125128bit、 102410248bit

圖像處理及分析軟件：

1.圖像顯示方式：標準窗口匹配，圖像縮放，處理區域選擇，同屏顯示原始圖像及處理后的結果。

2.圖像標記：放大倍數、加速電壓輸入，彩色中西文字編輯，測量μ標尺顯示。

3.圖像增強：a.亮度、對比度調節。b.圖像平滑。c.圖像銳化。d.邊緣提取。

4.域值分割：a.二值分割：建立二值圖像。b.彩色分割：將圖像不同的灰度區域設置成不同的顏色，以偽彩色的方式顯示出來。

5.形態學變換：a.二值圖像處理及編輯：灰度形態學變換，包括：腐蝕、膨脹、開運算、閉運算。b.圖像細化。

6.灰度圖像的偽彩色變換：將灰度圖像設置成某種顏色顯示和存儲。

7.灰度值方圖顯示

8.粒度分析：對圖像中的顆粒進行重心、面積、周長、圓形度、長軸、短軸計算和部分參數直方圖顯示、存儲、打印。

9.圖像存儲和輸出：多種格式圖像存儲，圖像格式轉換，圖像打印、拷貝。

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SSX-550型掃描電子顯微鏡

→SEM部二次電子圖像分辨率 3.5nm 倍率 ×20～300,00→EDX部分辨率 144eV 可檢測元素 C～U

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