產品名稱：紫外可見分光光度計
產品型號：UV757CRT
UV757CRT紫外可見分光光度計主要特點：
采用微機測量系統，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機專用，另行選配）。
聯機功能：
通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。
紫外可見分光光度計UV757CRT技術指標：
波長范圍：200nm～1000nm
光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）
接收元件：光電池
波長最大允許誤差：±0.5nm
波長重復性：≤0.2nm
光譜帶寬：2nm
雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）
透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）
吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000（A）
透射比最大允許誤差：±0.5%（T）
透射比重復性：≤0.2%（T）
噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%（T）
穩定性：≤0.004A/30min
| 產品型號 | 技術參數 |
| UV759 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm，波長準確度：±0.5nm，光譜帶寬：2nm，雜散光 ≤0.05%T, 比例雙光束結構,全自動操作,LCD顯示（數據）,自動 調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯樣品架，不帶 光譜掃描，有USB接口。配置軟件后可與PC通訊,由PC全面操作 |
| UV759S 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190nm-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光 ≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示（數據、圖譜）；具有掃 描功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能,；自動8聯 樣品架；可進行光譜掃描；有USB接口；配置軟件后可與PC通訊 |
| UV757CRT 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：200-1000nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；全自動操作；LCD顯示（數據）；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附軟件）；自動8聯樣品架， |
| UV757CRT/PC 紫外可見分光光度計 | CRT附電腦、打印機；技術指標同UV757 |
| UV765 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm；波長準確度±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光 ≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示（數據、圖譜）；具有掃描 功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯樣 品架；有USB接口,；配置軟件后可可與PC通訊 |
| UV765CRT 紫外可見分光光度計 | 技術指標同UV765；帶反控軟件 |
| UV765PC 紫外可見分光光度計 | 技術指標同UV765；帶電腦（含打印機）、反控軟件、 |
| 760CRT雙光束 紫外可見分光光度計 | 雙光束C-T式光路結構；波長范圍：190-900nm；波長準確度±0.3nm；光譜帶 寬：0.08～5nm連續可調；雜散光≤0.08%T；測光方式：具有波長掃描、時間 掃描、定量分析、多波長測定；附品牌電腦、噴墨打印附件 |
UV757CRT紫外可見分光光度計主要特點：采用微機測量系統，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機專用，另行選配）。聯機功能：通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。UV757CRT紫外可見分光光度計主要技術參數：
● 波長范圍：200nm～1000nm● 光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）● 接收元件：光電池● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)● 透射比最大允許誤差：±0.5%（T）● 透射比重復性：≤0.2%（T）● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)● 穩定性：≤0.004A/30min其它：● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
UV757CRT紫外可見分光光度計主要特點：采用微機測量系統，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機專用，另行選配）。聯機功能：通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。UV757CRT紫外可見分光光度計主要技術參數：
● 波長范圍：200nm～1000nm● 光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）● 接收元件：光電池● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)● 透射比最大允許誤差：±0.5%（T）● 透射比重復性：≤0.2%（T）● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)● 穩定性：≤0.004A/30min其它：● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
UV757CRT紫外可見分光光度計主要特點：采用微機測量系統，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機專用，另行選配）。聯機功能：通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。UV757CRT紫外可見分光光度計主要技術參數：
● 波長范圍：200nm～1000nm● 光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）● 接收元件：光電池● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)● 透射比最大允許誤差：±0.5%（T）● 透射比重復性：≤0.2%（T）● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)● 穩定性：≤0.004A/30min其它：● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz