其他產(chǎn)品及廠家
沖蝕磨損是由顆粒空氣射流撞擊在固體表面上的沖擊而引起的。侵蝕導(dǎo)致的航空航天零部件，燃?xì)廨啓C(jī)，鍋爐和電廠的生命損失。為了限度地提高壽命，適當(dāng)選擇的材料在這樣的應(yīng)用中使用是必需的。空氣射流沖蝕astm g76試驗(yàn)機(jī)便于在各種條件下測(cè)定的磨損率。磨損率可以用來(lái)確定在給定操作條件的材料。它也可以被用來(lái)預(yù)測(cè)使用壽命和壽命周期成本。
更新時(shí)間:2025-09-09
高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電
更新時(shí)間:2025-09-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-09-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-09-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來(lái)確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
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超聲波身高體重體檢機(jī)，采用微電腦控制，全觸摸液晶屏顯示操作步驟，歐姆龍血壓計(jì)和歐姆龍脂肪計(jì)的使用使本機(jī)更顯高貴。本機(jī)采用原裝進(jìn)口打印機(jī)及切紙刀，經(jīng)久耐用。
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：手腕帶測(cè)試儀主要監(jiān)視手腕帶是否戴好，檢測(cè)手腕帶是否損壞、太松或斷線儀器將會(huì)報(bào)警提示，從而保證了人體的靜電經(jīng)過手腕帶釋放到大地的可靠性。 www.bjkaiyun.com技術(shù)參數(shù)：
更新時(shí)間:2025-09-09
產(chǎn)品特點(diǎn)：儀器由示波管、理想二極管、mf-47萬(wàn)用表、電源及配置的幾組專用線圈等部分組成。采用組合型結(jié)構(gòu)，對(duì)稱性高，具有直觀、可動(dòng)手性強(qiáng)、操作方便的特點(diǎn)。采用負(fù)高壓安全可靠。儀器各部分包括面板、示波管、理想二極管、mf-47萬(wàn)用表等，均可拆卸便于維修。整個(gè)儀器采用積木式裝入箱內(nèi)，一儀多用。
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jcb4甲烷檢測(cè)報(bào)警儀該產(chǎn)品是新一代微型智能檢測(cè)儀，可連續(xù)檢測(cè)存在易燃、易爆可燃性氣體混合物環(huán)境中的甲烷濃度。具有聲光報(bào)警，電壓顯示，欠壓報(bào)警，零點(diǎn)自動(dòng)跟蹤，調(diào)校使用方便等特點(diǎn)。
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-簡(jiǎn)化了結(jié)構(gòu)，但可以地測(cè)量推拉力-量表有兩種刻度：克和盎司-非常適合現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)使用和需要儀表而無(wú)需維護(hù)的應(yīng)用-精密彈簧經(jīng)過單獨(dú)校準(zhǔn)并通過自重檢查-由于校準(zhǔn)保持在±1刻度上，因此秤具有完全的精度-精度：1個(gè)刻度，max容量：220克（8盎司），公制容量：5克（220克）
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wxh賽默飛世爾termofisherfei 是一家生產(chǎn)、經(jīng)營(yíng)多種科學(xué)儀器的業(yè)內(nèi)先企業(yè)。 其產(chǎn)品包括電子和離子束顯微鏡，以及 可滿足多個(gè)行業(yè)納米尺度應(yīng)用的相關(guān)產(chǎn)品，這些行業(yè)橫跨： 工業(yè)和理論 材料研究、生命科學(xué)、半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、自然資源 等等諸多域。 為全球納米技術(shù)團(tuán)體提供的顯微鏡學(xué)解決方案
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vega儀表由德國(guó)vega(威格)研發(fā)的儀器儀表，德國(guó)vega(威格)公司在1959年成立于黑森林，是上一家的物位及壓力測(cè)量?jī)x表的制造商。vega產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于：石化、化工、制藥業(yè)、食品加工、和飲用水處理、污水處理廠、垃圾填埋場(chǎng)、采礦和能源發(fā)電、對(duì)鉆井平臺(tái)、船舶、飛機(jī)。德國(guó)vega公司在航空航天，國(guó)防，金融，工業(yè)和公共部門等域的技術(shù)先
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gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀： 主要技術(shù)指標(biāo)：*測(cè)量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴(kuò)至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴(kuò)至99.999%) *分析時(shí)間：25~60s可調(diào)，一般35s*分析誤差：碳優(yōu)于gb/223.69-1997標(biāo)準(zhǔn) 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標(biāo)準(zhǔn) *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測(cè)
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城市道路積水監(jiān)測(cè)系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產(chǎn)，可以及時(shí)避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經(jīng)濟(jì)損失。
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力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測(cè)，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無(wú)創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
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本公司長(zhǎng)期有：三菱線切割原廠配件，沙迪克線切機(jī)原廠配件，西部線切割機(jī)原廠配件，日立線切割機(jī)原廠配件，慶鴻線切割機(jī)原廠配件，亞特/茗亞線切割機(jī)原廠配件，富士通線切割機(jī)原廠配件，夏米爾線切割機(jī)原廠配件，臺(tái)灣三貴火花機(jī)用配件等。多種線切割與打孔機(jī)配件，耗材批發(fā)出售。
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各規(guī)格型號(hào)磁盤：電磁吸盤，加工中心強(qiáng)力吸盤,磨床永磁吸盤，雕刻機(jī)細(xì)目永磁 吸盤，火花機(jī)磁盤，線切割磁盤，磨刀機(jī)專業(yè)磁盤，一體正弦臺(tái)，彎弓正弦臺(tái)，雙傾正弦臺(tái)，旋轉(zhuǎn)磁臺(tái)，直角磁臺(tái)，圓形吸盤，紅銅.黃銅永磁吸盤，雙面永磁吸盤，導(dǎo)磁塊等……機(jī)床精密配件.定做非標(biāo)吸盤
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日本 nikon高度計(jì)：加高型精密高度計(jì)，量程小于等于100mm的產(chǎn)品高度、厚度與深度測(cè)量。日本nikon高度計(jì)：流水生產(chǎn)線可以每線一臺(tái)，高精度高效測(cè)量，是高精度產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計(jì)：選配特殊測(cè)針，可完成小深孔，盲孔測(cè)量，這是三坐標(biāo)，影像儀，投影儀與顯微鏡無(wú)法代替的特點(diǎn)，特制測(cè)頭還可測(cè)
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米諾高度計(jì)非常順滑的柱塞運(yùn)動(dòng)。米諾高度計(jì)周期可靠性優(yōu)于2，000，000hz,保證高速位移時(shí)不丟失數(shù)據(jù)。米諾高度計(jì)靈活選擇的探針。米諾高度計(jì)0-50mm或0-100mm的測(cè)量范圍可選。
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余姚高速電火花穿孔機(jī)采用電極管（黃銅管，紫銅管）作為工具電極利用電火花放電蝕除原理，在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬，電流的放電加工，輔以高壓水冷卻排渣，使工件的蝕除速度加快，特別適用于不銹鋼，淬火鋼，銅，鋁，硬質(zhì)合金等各種導(dǎo)電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔，深度100mm,可直接在工件的斜面，曲加工，用于電火花線切割加工的穿絲孔，化纖噴絲頭，噴絲板的噴絲孔，濾板，篩板的群孔
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出租agilent usb3.0測(cè)試夾具u7242-26401
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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
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mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
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mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
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mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
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硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
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mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
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mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
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mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
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mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
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解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
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分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
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解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
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mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
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mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-09-09
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
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7405ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭，硬件測(cè)試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-09-09
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
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遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-09-09
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái)，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。
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pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-09-09
pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
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