其他產品及廠家
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-09-09
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關、高壓交直流變壓器元件構成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
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超聲波身高體重體檢機，采用微電腦控制，全觸摸液晶屏顯示操作步驟，歐姆龍血壓計和歐姆龍脂肪計的使用使本機更顯高貴。本機采用原裝進口打印機及切紙刀，經久耐用。
更新時間:2025-09-09
產品簡介：手腕帶測試儀主要監視手腕帶是否戴好，檢測手腕帶是否損壞、太松或斷線儀器將會報警提示，從而保證了人體的靜電經過手腕帶釋放到大地的可靠性。 www.bjkaiyun.com技術參數：
更新時間:2025-09-09
產品特點：儀器由示波管、理想二極管、mf-47萬用表、電源及配置的幾組專用線圈等部分組成。采用組合型結構，對稱性高，具有直觀、可動手性強、操作方便的特點。采用負高壓安全可靠。儀器各部分包括面板、示波管、理想二極管、mf-47萬用表等，均可拆卸便于維修。整個儀器采用積木式裝入箱內，一儀多用。
更新時間:2025-09-09
jcb4甲烷檢測報警儀該產品是新一代微型智能檢測儀，可連續檢測存在易燃、易爆可燃性氣體混合物環境中的甲烷濃度。具有聲光報警，電壓顯示，欠壓報警，零點自動跟蹤，調校使用方便等特點。
更新時間:2025-09-09
-簡化了結構，但可以地測量推拉力-量表有兩種刻度：克和盎司-非常適合現場服務使用和需要儀表而無需維護的應用-精密彈簧經過單獨校準并通過自重檢查-由于校準保持在±1刻度上，因此秤具有完全的精度-精度：1個刻度，max容量：220克（8盎司），公制容量：5克（220克）
更新時間:2025-09-09
wxh賽默飛世爾termofisherfei 是一家生產、經營多種科學儀器的業內先企業。 其產品包括電子和離子束顯微鏡，以及 可滿足多個行業納米尺度應用的相關產品，這些行業橫跨： 工業和理論 材料研究、生命科學、半導體、數據存儲、自然資源 等等諸多域。 為全球納米技術團體提供的顯微鏡學解決方案
更新時間:2025-09-09
vega儀表由德國vega(威格)研發的儀器儀表，德國vega(威格)公司在1959年成立于黑森林，是上一家的物位及壓力測量儀表的制造商。vega產品被廣泛應用于：石化、化工、制藥業、食品加工、和飲用水處理、污水處理廠、垃圾填埋場、采礦和能源發電、對鉆井平臺、船舶、飛機。德國vega公司在航空航天，國防，金融，工業和公共部門等域的技術先
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gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀： 主要技術指標：*測量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間：25~60s可調，一般35s*分析誤差：碳優于gb/223.69-1997標準 硫優于gb/t223.68-1997標準 *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測
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力篩查是通過耳聲發射、自動聽性腦干反應和聲阻抗等電生理學檢測，在受試者自然睡眠或安靜的狀態下進行的客觀、快速和無創的檢查。 這個聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽。 顯著提高工作效率
更新時間:2025-09-09
本公司長期有：三菱線切割原廠配件，沙迪克線切機原廠配件，西部線切割機原廠配件，日立線切割機原廠配件，慶鴻線切割機原廠配件，亞特/茗亞線切割機原廠配件，富士通線切割機原廠配件，夏米爾線切割機原廠配件，臺灣三貴火花機用配件等。多種線切割與打孔機配件，耗材批發出售。
更新時間:2025-09-09
各規格型號磁盤：電磁吸盤，加工中心強力吸盤,磨床永磁吸盤，雕刻機細目永磁 吸盤，火花機磁盤，線切割磁盤，磨刀機專業磁盤，一體正弦臺，彎弓正弦臺，雙傾正弦臺，旋轉磁臺，直角磁臺，圓形吸盤，紅銅.黃銅永磁吸盤，雙面永磁吸盤，導磁塊等……機床精密配件.定做非標吸盤
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日本 nikon高度計：加高型精密高度計，量程小于等于100mm的產品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計：流水生產線可以每線一臺，高精度高效測量，是高精度產品生產企業最佳選擇。日本nikon高度計：選配特殊測針，可完成小深孔，盲孔測量，這是三坐標，影像儀，投影儀與顯微鏡無法代替的特點，特制測頭還可測
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米諾高度計非常順滑的柱塞運動。米諾高度計周期可靠性優于2，000，000hz,保證高速位移時不丟失數據。米諾高度計靈活選擇的探針。米諾高度計0-50mm或0-100mm的測量范圍可選。
更新時間:2025-09-09
余姚高速電火花穿孔機采用電極管（黃銅管，紫銅管）作為工具電極利用電火花放電蝕除原理，在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬，電流的放電加工，輔以高壓水冷卻排渣，使工件的蝕除速度加快，特別適用于不銹鋼，淬火鋼，銅，鋁，硬質合金等各種導電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔，深度100mm,可直接在工件的斜面，曲加工，用于電火花線切割加工的穿絲孔，化纖噴絲頭，噴絲板的噴絲孔，濾板，篩板的群孔
更新時間:2025-09-09
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-09-09
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-09-09
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-09-09
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-09-09
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-09-09
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-09-09
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動
更新時間:2025-09-09
mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-09-09
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-09-09
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-09-09
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-09-09
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-09-09
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-09-09
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-09-09
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
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misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-09-09
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-09-09
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-09
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發送出去。
更新時間:2025-09-09
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求，使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-09
pcie 初始化完成后會進入l0狀態。異常狀態見pcie link 異常log。物理層link 不穩定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發明是人類歷史上的大創舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發展則更是狂飆猛進。天的大規模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業內從業者來說遇到的挑戰和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-09-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-09
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-09
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-09
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-09-09
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-09-09
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-09
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-09
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-09-09
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