其他產(chǎn)品及廠家
品牌:ohausep64c價格:14900元.最大量程:62g到210g.可讀性:0.0001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohausar224cn價格:8800元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).
更新時間:2025-09-10
品牌:ohauscp64價格:6500元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計(jì),優(yōu)異性價比.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohausep213c價格:13900元.最大量程:210g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohaus.cav212(外校)價格:4600元.最大量程:51g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohauscp512價格:4300元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.01g到0.001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計(jì),優(yōu)異性價比.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohausar522cn價格:4800元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.1g到0.001g.自動外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).
更新時間:2025-09-10
品牌:ohaussps401f價格:1300元.最大量程:200g到6000g.可讀性:1g到0.01g.自動外部校正,標(biāo)配rs232接口,精巧耐用,性能優(yōu)越.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohausse6000f價格:680元.最大量程:200g到6000g.可讀性:1g到0.01g.自動外部校正,標(biāo)配rs232接口,便攜可靠,靈活選擇.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohauscl201t價格:180元.最大量程:200g到5000g.可讀性:1g到0.1g.機(jī)械結(jié)構(gòu),軟件程序雙重過載保護(hù)設(shè)計(jì),可靠,便攜.
更新時間:2025-09-10
品牌:ohausv31x6cn價格:1500元.最大量程:200g到6000g.可讀性:0.01g到1g.獲得nsf認(rèn)證和usda認(rèn)證,符合haccp認(rèn)證.
更新時間:2025-09-10
電波流速儀主要用于野外巡測和洪水、潰壩、決口、截流、污水等應(yīng)急測量，尤其適用于汛期測洪峰和突發(fā)情況下監(jiān)測污染水。
更新時間:2025-09-10
壓電雨量檢測器比傳統(tǒng)機(jī)械式雨量檢測方式更加靈敏和快速的偵測到降雨的起始與結(jié)束時間，而且無需擔(dān)心樹葉和樹枝等移動物體在探測器上方擺動影響降雨檢測。內(nèi)部可選配加熱裝置防止結(jié)冰。
更新時間:2025-09-10
水文監(jiān)測儀器設(shè)備系統(tǒng)是一款基于微波技術(shù)的全自動水文在線監(jiān)測系統(tǒng)，可同時測量渠道內(nèi)水位、流速、流量和降雨量。
更新時間:2025-09-10
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-09-10
運(yùn)用jigaotest系統(tǒng)設(shè)計(jì)研發(fā)的一款用來檢測土工合成材料及相關(guān)復(fù)合材料在垂直方向水流透過率的測試設(shè)備。 土工布透水性測定儀 土工布透水性
更新時間:2025-09-10
大體積混凝土溫度測試儀，該儀器可實(shí)時監(jiān)測大體積混凝土凝固過程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升，從而可及時做出應(yīng)對策略，避免混凝土因溫升造成的開裂等嚴(yán)重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域；可對混凝土內(nèi)部溫度進(jìn)行實(shí)時監(jiān)測,并可通過無線網(wǎng)絡(luò)與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信，實(shí)現(xiàn)了真正意義上的遠(yuǎn)程監(jiān)控。
更新時間:2025-09-10
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時間:2025-09-10
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-09-10
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-09-10
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-09-10
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-09-10
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-10
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-10
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時間:2025-09-10
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-09-10
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-09-10
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-09-10
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-10
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-09-10
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-10
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-10
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-10
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-10
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時間:2025-09-10
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-09-10
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-10
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-10
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時間:2025-09-10
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-09-10
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-09-10
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2025-09-10
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-09-10
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時間:2025-09-10
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-09-10
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-09-10
最新產(chǎn)品
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