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更新時間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：東莞市塘廈佳華電子儀器經(jīng)營部

回收agilent53210a：：回收agilent53210a：agilent53210a單通道350mhz射頻頻率計數(shù)器經(jīng)過優(yōu)化，可通過簡化用戶界面提供快速、精確的頻率測量。它可以添加可選的射頻通道，以進(jìn)行6或15ghz測量。agilent53210a單通道350mhz射頻頻率計數(shù)器經(jīng)過優(yōu)化，可通過簡化用戶界面提供快速、精確的頻率測量。它可以添加可選的射頻通道，以進(jìn)行6或15ghz測量。

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回收Agilent33220A，回收函數(shù)發(fā)生器

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回收HP437B，回收功率計，東莞回收

回收hp437b，回收功率計，東莞回收：回收hp437b，回收功率計，東莞回收：東莞市塘廈佳華電子有限公司出售多臺、高價回收各類儀器儀表，歡迎來電咨詢133/3260/7146冉（ran先生）153/6288/0132陳小姐，佳華電子儀器感謝你的來電^o^

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回收AG34450A，回收萬用表

回收ag34450a，回收萬用表：回收ag34450a，回收萬用表：代理批發(fā)美國安捷倫agilent 34450a 數(shù)字臺式萬用表五位半原裝全新正品34450a數(shù)字萬用表提供多種特性，讓您在測量應(yīng)用中領(lǐng)先一步：

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回收TOS5051A，回收高壓機(jī)

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回收E4432B，回收E4432B

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回收頻率計回收HP53131A

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回收CA-310*回收CA310

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CL-200A回收*回收CL-200A

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3540測試夾9287-10

3540測試夾9287-10：3540是沒有外部控制接口的低價格版本，用于手動測試。 3540-01加入了bcd輸出和外部控制，3540-02包含了打印機(jī)接口，3540-03包含了rs-232c接口。微電阻計3540-01/3540-02/3540-03

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出售10kv高壓測試棒

出售10kv高壓測試棒：高壓棒/高壓測試棒/高壓探棒/10kv高壓測試棒/高壓棒/高壓測試棒/高壓探棒/10kv高壓測試棒

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出售安捷倫4284A

出售安捷倫4284a：精密lcr測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器。它通過提供精確、高吞吐量的測試方法來改善元件的質(zhì)量。20hz到1mhz寬的測頻范圍和優(yōu)良的測試信號，使4284a在測試元件時符合最通行的測試標(biāo)準(zhǔn)如iec/mil標(biāo)準(zhǔn)（國際電工委員會或美國軍用標(biāo)準(zhǔn)）

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該公司產(chǎn)品分類：東莞市塘廈佳華電子儀器經(jīng)營部

手機(jī)自由跌落試驗機(jī)

手機(jī)自由跌落試驗機(jī)：電子產(chǎn)品跌落機(jī)適用于移動電話（手機(jī)）、對講機(jī)、電子詞典、樓寓對講電話、cd/md/mp3等小型消費類電子制品及零部件之自由落下試驗。結(jié)構(gòu)特點本機(jī)采用電動結(jié)構(gòu)升降，將被測試件置于專用夾具（可調(diào)行程）夾牢，按下跌落鍵，氣缸松開，試件將作自由落體試驗。跌落高度可作上下調(diào)整，高度計精確地顯示跌落高度，操作簡單。

更新時間:2025-09-10

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電線耐磨試驗機(jī)

電線耐磨試驗機(jī)：符合標(biāo)準(zhǔn)：ul1581,ul62,gb5023.2-2008，主要將電線固定在夾具上,另一端掛上340g或500g砝碼,在1/2級(中等)金剛砂布上不斷上下運動,橡皮絕緣電纜進(jìn)行耐磨試驗。.

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360度彎折試驗機(jī)

360度彎折試驗機(jī)：本試驗機(jī)符合ul817、ccc等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)“軟線組件和電源軟線通用安全要求”的規(guī)定。適用于有關(guān)生產(chǎn)廠家和質(zhì)檢部門對電源線、dc線進(jìn)行彎曲試驗。

更新時間:2025-09-10

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供應(yīng)WR(Z)耐磨型熱電阻、熱電偶

wr(z)耐磨型熱電阻、熱電偶采用熱噴涂工藝和特種耐磨合金材料保護(hù)管，適用于高溫、高壓及磨損、腐蝕嚴(yán)重的場合。如電站煤粉、石油裂解、建筑瀝青混合物等流動粉末或粒子的溫度測量。www.wellyb.com

更新時間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：上海維則自動化儀表有限公司

EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試

emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。

更新時間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試

更新時間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。

更新時間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試電源紋波測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試

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該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

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數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

更新時間:2025-09-10

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數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

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I復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

更新時間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

PCIE2.0 3.0 驗證調(diào)試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時間:2025-09-10

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2025-09-10

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時間:2025-09-10

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PCIE2.0 3.0 RX 接收物理層一致性測試

pcie2.0 3.0 rx 接收物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。

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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端信號質(zhì)量一致性測試

pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題

更新時間:2025-09-10

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pcie2.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x4 眼圖測試物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。

更新時間:2025-09-10

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pcie2.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x8 眼圖測試物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。

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Pcie1.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x4 眼圖測試物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

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Pcie1.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x8 眼圖測試物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。

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Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。

更新時間:2025-09-10

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Pcie3.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。

更新時間:2025-09-10

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