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WT230功率表,WT210
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更新時間:2025-09-10
CR-10色差計,CR-410
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更新時間:2025-09-10
CT-8681線材測試機,CT8681
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更新時間:2025-09-10
HP4339A低HP4339A價HP4339A銷電阻表
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更新時間:2025-09-10
MT8852B藍牙測試儀
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更新時間:2025-09-10
回收CA/210,回收色差儀
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更新時間:2025-09-10
回收CA210,回收色差儀
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更新時間:2025-09-10
TDS3014秒TDS3014殺TDS3014價TDS3014示波器/回收TDS3014
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更新時間:2025-09-10
回收AG34420A,回收萬用表
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更新時間:2025-09-10
固緯示波器,GDS-840C
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更新時間:2025-09-10
CT-350耳機線測試儀
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更新時間:2025-09-10
色差儀CR13,CR13
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更新時間:2025-09-10
R3131A,頻譜分析儀
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更新時間:2025-09-10
回收VP7723A,VP7723A
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更新時間:2025-09-10
回收TOS5050,回收耐壓機
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更新時間:2025-09-10
回收Agilent53210A
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更新時間:2025-09-10
回收Agilent33220A,回收函數發生器
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更新時間:2025-09-10
回收HP437B,回收功率計,東莞回收
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更新時間:2025-09-10
回收AG34450A,回收萬用表
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更新時間:2025-09-10
回收TOS5051A,回收高壓機
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更新時間:2025-09-10
回收E4432B,回收E4432B
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更新時間:2025-09-10
*回收頻率計*回收HP53131A
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更新時間:2025-09-10
回收CA-310*回收CA310
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更新時間:2025-09-10
CL-200A回收*回收CL-200A
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更新時間:2025-09-10
3540測試夾9287-10
3540測試夾9287-10:3540是沒有外部控制接口的低價格版本,用于手動測試。 3540-01加入了bcd輸出和外部控制,3540-02包含了打印機接口,3540-03包含了rs-232c接口。微電阻計3540-01/3540-02/3540-03
更新時間:2025-09-10
出售10kv高壓測試棒
出售10kv高壓測試棒:高壓棒/高壓測試棒/高壓探棒/10kv高壓測試棒/高壓棒/高壓測試棒/高壓探棒/10kv高壓測試棒
更新時間:2025-09-10
出售安捷倫4284A
出售安捷倫4284a:精密lcr測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器。它通過提供精確、高吞吐量的測試方法來改善元件的質量。20hz到1mhz寬的測頻范圍和優良的測試信號,使4284a在測試元件時符合最通行的測試標準如iec/mil標準(國際電工委員會或美國軍用標準)
更新時間:2025-09-10
手機自由跌落試驗機
手機自由跌落試驗機:電子產品跌落機適用于移動電話(手機)、對講機、電子詞典、樓寓對講電話、cd/md/mp3等小 型消費類電子制品及零部件之自由落下試驗。結構特點 本機采用電動結構升降,將被測試件置于專用夾具(可調行程)夾牢,按下跌落 鍵,氣缸松開,試件將作自由落體試驗。跌落高度可作上下調整,高度計精確地 顯示跌落高度,操作簡單。
更新時間:2025-09-10
電線耐磨試驗機
電線耐磨試驗機:符合標準:ul1581,ul62,gb5023.2-2008,主要將電線固定在夾具上,另一端掛上340g或500g砝碼,在1/2級(中等)金剛砂布上不斷上下運動,橡皮絕緣電纜進行耐磨試驗。.
更新時間:2025-09-10
360度彎折試驗機
360度彎折試驗機:本試驗機符合ul817、ccc等有關標準“軟線組件和電源軟線通用安全要求”的規定。適用于有關生產廠家和質檢部門對電源線、dc線進行彎曲試驗。
更新時間:2025-09-10
供應WR(Z)耐磨型熱電阻、熱電偶
wr(z)耐磨型熱電阻、熱電偶采用熱噴涂工藝和特種耐磨合金材料保護管,適用于高溫、高壓及磨損、腐蝕嚴重的場合。如電站煤粉、石油裂解、建筑瀝青混合物等流動粉末或粒子的溫度測量。www.wellyb.com
更新時間:2025-09-10
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state,發送完 cid 后,emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-09-10
電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關產品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-09-10
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關產品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進行數據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數據傳輸的穩定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-09-10
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關產品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-09-10
電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-09-10
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數據傳輸的情況下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-09-10
數據信號測試 Emmc5 上電時序測試
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數據傳輸的情況下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-09-10
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-09-10
數據信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數據,其中上升沿傳輸數據的奇數字節 (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數據的偶數字節(byte 2,4,6 ...)。
更新時間:2025-09-10
復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發送 cmd19 命令,觸發總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備,這兩個設備互為是數據發送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 TX 發送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中,數據報文先在設備的核心層(device core)中產生,然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發送出去。
更新時間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態,主電源已經停止供電時,pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求,使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-10
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態。異常狀態見pcie link 異常log。物理層link 不穩定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發明是人類歷史上的大創舉,它大地推動了人類的現代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發展則更是狂飆猛進。天的大規模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當然對業內從業者來說遇到的挑戰和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-09-10
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-10
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰,也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術,由于采用 4 電平調制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-10
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-10

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