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光學測量儀產(chǎn)品及廠家
TriSOL AAA美國OAI標準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器,低成本,標準太陽模擬器提供高度準直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置,這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
TSS-52,TSS-100,TSS-156,TSS-208,TSS-300美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
AE1/RD1美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1,是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的,ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
AutoWafe Pro.美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計的機型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測,tsv量測方面。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
4200A-SCS美國泰克TEK Keithley半導體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
HMS3000,HMS5000韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
H5000美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學特性,利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
SCALA德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率X射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器(標配) y.cheetah 高速平板探測器(標配)
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
DE35-ST美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
MT Century Curve Tracer美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
SV-1A日本A&D粒子計數(shù)器(粒度計)
日本a&d粒子計數(shù)器(粒度計)sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
F20,F(xiàn)30,F(xiàn)40,F(xiàn)50,F(xiàn)60,F(xiàn)3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復設(shè)置.
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
FTIR德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
ContoruGT德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
ALD德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
Zip 250美國OGP光學式坐標測量儀
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準,可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
JY—PHa接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
100標準型接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯,工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實性,獲取最佳的成像效果。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
HypotMAX 7710美Associated 耐壓測試儀
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
美Montana超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件,簡化了用戶的操作流程。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
attoCSFM德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
FTPadv臺式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv,ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案,它具有非?焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進行測量,其精度低于0.3nm,膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作,該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
FTPadv Expert綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件,光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析,這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中,使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
MDPinline光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器,一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設(shè)計的,它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計,mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
MDPinline ingot光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動,以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動,以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
MDPpro德國Sentech激動掃描系統(tǒng)
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
SenSol自動掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產(chǎn)的時間。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
SENperc PV德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護時間間隔。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
MDPspot德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot,具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng),用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?蛇x的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機的數(shù)據(jù)通信。
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
RTMALD實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
Contour X布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
Contour X-200布魯克Bruker 三維光學輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時間:
2025-05-13
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
DektakXT布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學域。
更新時間:
2025-05-13
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KS-41B日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:
2025-05-13
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KS-19F日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-05-13
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TESA 2000美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅固耐用,符合人體工程學設(shè)計,便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div>
更新時間:
2025-05-13
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KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-16,KS-16F日本RION 液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:
2025-05-13
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KS-17B日本RION 液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時間:
2025-05-13
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KS-19F日本理音RION液體光學顆粒度儀
日本理音rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-05-13
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍星宇電子科技有限公司
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