當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 10-12-10-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應,所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收,而是以輻射形式放出,便產生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。
K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產生的就是Kα 射線,同樣還可以產生Kβ射線 ,L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數,因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。
(二)XR-306能量色散X熒光光譜儀特點
1.無需制樣即可直接測量.
2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應付大批量待測樣品.
3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.
4. 無損分析. 分析樣品不被破壞,分析快速,,便于自動化。
5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結果.
6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣,從Na到U均可測定;
8.熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,
10、連續測試重復性極強,測試數據穩定
(三)能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區別
能量色散分析儀只有一個探測器,它對測量X射線能量范圍是不受限制的,而且這個探測器能同時測量到所有能量的X射線。也就是說只要激發樣品的X射線的能量和強度能滿足激發所測樣品的條件,對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量X射線:密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導體探測器。
能量色散的條件是當樣品被激發后產生的X射線通過窗口進入探測器探測器把X射線能量轉換成電荷脈沖,每個X射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉換成電壓脈沖,當這些電壓脈沖經充分放大后,被送入脈沖處理器,脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉換成為數字信號,由計算機進行分類,分別存入多道分析器(MCA)的相應通道內,一般使用1024-2048道MCA。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。
波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長,由此對元素進行測量。晶體被安裝在適當位置,以滿足布拉格定律的要求。 X射線熒光分析和其它光譜分析一樣,也是一種相對分析。這就是說,要有一套參考標樣,這些參考標樣能夠在可能感興趣的范圍內覆蓋所測元素。首先對這些標樣進行測量,記錄欲分析元素的強度,建立濃度(含量)、強度(CPS)校準曲線,存入處理數據的計算機,供以后分析同一類型未知樣品時使用。 最簡單的校準線是直線,強度與濃度的依賴關系反映儀器的靈敏度。
另外由于校準線要在很長一段時間內使用,所以應對儀器的漂移作出調整,盡管這種漂移不大,但它確實存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點來實現。制備若干被稱作SUS(調整樣)的特殊樣品,它們含有適量的分析元素,有很好的穩定性。利用它們可以求出高、低強度值。
產品規格:
名 稱 | X熒光光譜儀 |
型 號 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | Na ~U任意元素, 鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯苯(PBB)和多溴聯苯醚(PBDE)中的溴。 |
技術指標 | 檢出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀 樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管:靶材/Mo 管電壓/5~50 kV 管電流/最大1~1000 μA 照射直徑:2、5、8mm 探測器:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器 濾光片:八種新型濾光片自動選擇 樣品定位:微動載物平臺(選配) 樣品觀察:30倍彩色CCD攝像機 微區分析:X光聚焦微區分析系統(選配)軟件 定量分析:理論Alpha系數法(NBS-GSC法) 數據處理:IMB PC/AT/內存/256 MB 以上/硬盤/40 GB 以上 系統:Windows XP正版 功率:1.1kW 重量:40Kg 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm |
標準配置 | 標準配置:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時) 高壓電源(RSD<0.25%) 大樣品倉 高精密攝像機(130萬像素) Alpha系數法(NBS-GSC法)定量軟件 計算機(P4品牌機) 打印機(愛普生彩色噴墨打印機) 測試用樣品杯2個,測試用塑料薄膜數張 標 樣:歐盟EC681一片、銀校正標樣一片。 1KVA UPS不間斷電源 儀器工作臺 |
工作條件 | 工作溫度:10-30℃ 相對濕度:≤70% 電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
ATR FTIR PROBE探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀
晶格碼獨有的探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀是利用紅外線光譜經傅立葉變換進而能夠分析樣品濃度的在線光譜分析儀。該產品的光纖探頭將FTIR變成了一個真正的原位測量儀器,讓您實現之前無法達成的常規FTIR分析。利用我們獨特的光纜設計,可以將FTIR用于一個傳統的實驗室規模的反應容器,或是自動化的實驗室反應器中。
系統所配備的光纖探頭采用專利技術,將紅外發射光纖束與一個全反射晶體相結合,對液體和半液體樣品進行分析,或者是將紅外發射光纖束和專門的透射或反射式探頭結合在一起,對氣體、液體和固體樣品進行分析。
實時反應監控軟件
技術指標
性能特征
產品優勢
u 寬的光譜測量范圍185-1100nm
u 專用的測量紫外、可見、近紅外和紅外波段的光譜儀
u 高品質光譜分辨率,最高可達0.03nm
u 可同時完成光譜波長與強度分布測量,吸光度測量,色品坐標和顏色測量
u 精巧的外觀設計,設計均采用通用標準接口
u 豐富的可選配件,光源、光纖、CCD探頭
u 無需外接電源,USB直接供電,工作穩定
軟件優勢
l 采用USB接口,全面支持Win7系統
l 軟件自動識別、連接功能,通訊方便,能同時連接多臺光譜儀器
l 集成多種光譜分析模塊(光譜波長、強度分布測量、吸光度測量、色品坐標、
顏色測量等)
l 提供多種樣品光譜(標準光源光譜/太陽光光譜/氘燈光譜/汞燈光譜/各類
LED光譜/高低色溫節能燈光譜;各種玻璃片的吸光度光譜)
l 方便快捷的數據處理功能(將光譜數據與圖像導入到Excel、TXT文件中,
同時可保存為*.pdf *.bmp等文件)
l 便捷的智能曝光時間功能
l 具有光譜錄像功能
型號 | AULTT-P2000 | AULTT-P3000 | AULTT-P4000 |
有效波長范圍 | 350-1000nm | 200-800nm | 185-1100nm |
應用 | 可見波段測量 | 紫外波段測量 | 紫外、可見、紅外測量 |
最高分辨率 | 0.03nm | 0.03nm | 0.03nm |
波長重復誤差 | < 0.3nm | < 0.3nm | < 0.3nm |
探測器(CCD) | 2048單元線陣硅CCD | 3648單元線陣硅CCD | 3648單元線陣硅CCD |
狹縫寬度 | 30μm | 30μm | 30μm |
光柵 | 600線@450nm | 600線@250nm | 600線@250nm |
深圳市華唯計量技術開發有限(UniqueMetricalTechnology Development Co. ,Ltd. Shenzhen )是中國最大的,專業制造、生產和銷售X熒光分析儀器的高新技術企業聯盟成員。擁有國內的X熒光分析技術領域的專家隊伍(國家X熒光光譜儀“七五”“九五”攻關項目絕大部分核心成員),是集產品設計、開發、制造、銷售及服務為一體的科技實體,在X熒光分析儀項目上,產品包括波長色散X熒光分析儀和能量色散X熒光分析儀兩大系列。同時,公司與國內外相關領域的專業研究院所保持著密切的合作關系,實時追蹤國際X熒光分析領域最前沿的理論和技術,也是目前中國專業化生產波長色散X熒光分析儀的企業聯盟成員。 UX系列能量色散X熒光分析儀、 BX系列波長色散X熒光分析儀是我們總結我國多年來研制該類型儀器的經驗和教訓, 并吸收國際技術基礎上,深入進行產業化研發形成的高科技產品,各項技術性能指標均已達到國際同類產品水平。
本公司是專業從事各種環境實驗設備、測試儀器、品質檢測、生產過程、校驗校準等儀器設備,以及高科技企業開發生產、維修所必需的焊接等配套工具的開發、生產、銷售及后服務,對外承接非標工程,非標產品的訂做、必制、維修等業務。現將部分介紹如下,如有需求,歡迎來電來涵查詢。
一、拉力強度:萬能材料試驗機設備
微機控制萬能材料試驗機、經濟型萬能材料試驗機、智能電子拉力試機、微電腦拉力試驗機、桌上型(雙桿)電動拉力機等多種材料拉力試驗機。
二、環境試驗設備:
換氣式老化試驗機、可程式恒溫恒濕試驗箱、高溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱(三槽式設置)、臭氧老化箱、紫外燈耐候試驗機、鹽水噴霧試驗機、淋雨試驗箱、氙燈耐氣候試驗機、砂塵試驗箱、標準光源箱等各種環保試驗設備。
三、紙箱、包裝、家私試驗機系列。
電腦紙箱抗壓試驗機、破裂強度試驗機(有指針式、電子式),單臂跌落試驗臺、雙臂跌落試驗臺(專門測試產品包裝后墜落受到損害情況)、機械振動試驗機,微電腦振動試驗臺,電磁式振動試驗機,模擬汽車運輸振動度過臺,辦公椅系列試驗機,等各種包裝運輸檢測設備。
四、電腦、手機試驗機系列、電工器材試驗系列。
轉軸壽命試驗機、微電腦轉軸壽命試驗機、手機翻蓋壽命試驗機、按鍵壽命試驗機、耐磨擦試驗機、全自動扭力試驗機、手機跌落試驗臺、紙帶耐磨試驗機、各種插頭、插座試驗機等一系列電工器材試驗設備。
五、橡膠、塑膠、膠帶試驗系列橡膠膠磨試驗機、磨耗試驗機、耐磨試驗機、耐折試驗機、泡棉壓縮應力試驗機、發泡塑反復壓縮試驗機、試料磨平機、塑膠熔融指數測定機、沖擊試驗機、加熱變形溫度試驗機、落球沖擊試驗機、硬質塑膠落錘沖擊試驗機、塑膠膜落錘沖擊試驗機、高溫灰化爐、恒溫膠帶保持力試驗機、膠帶保持力試驗機、膠帶初粘性滾球試驗機、色差儀、工業投影儀、三座標測量儀。
六、基礎電子測試儀器。
七、力光學、量具、儀表、衡器、靜電系列。
注:凡屬于本公司所售之儀器,在非人為損害情況下,保修一年,終身維護
手持式礦石金屬分析儀也稱便攜式金屬分析儀、礦石元素分析儀等,,“手持式能量色散分析儀,是為野外、現場X熒光分析應用專門開發的儀器類型。具有體積小、重量輕、普通人可手持測量的特點。它包括礦石分析儀、有害元素分析儀,合號分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀等一系列專業型號,其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應用于各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等,形態為固體、液體、粉靠的防火墻;小巧輕便,將人性化理念落實入微。
性能特點
1. 采用小功率端窗一體化微型光管,功耗小、激發效率高,結合使用大面積鈹窗電致冷Si-PIN探測器,使該手持式
儀器具有與臺式機相近的地質礦樣測試性能。
2. 體積小、便攜,方便野外工作。隨時隨地,隨心所欲的現場分析和原位分析。
3.采用高分辨率(640*480)PDA作主機,結合無線藍牙通訊的微型多道分析器專利技術,儀器使用方便靈活,在
任何環境中,測試數據都盡在掌中。
4 .儀器既可手持進行快速測試,也能使用座立式對樣品進行較長時間的精細測試。
5 .儀器防水防塵,可在高溫高濕環境下連續使用,其保護箱采用高強度軍工用品設計,有良好的防潮防震防壓三防功能。
6. 專業軟件,針對地質礦樣元素檢測的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、操作簡易,對操作人員限制很小的
特點。
7 .礦樣類別的快速識別,多元素自動定性定量分析以及多種礦樣模式選擇和無限數目模式的自由添加,內置強度校
正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
8 .一塊電池可使用4小時,三塊原裝電池裝配,可選配太陽能充電器或車載式充電器,隨時隨地進行測試。
技術指標
型號:EDX-P730手持式能量色散礦石及金屬分析儀
探測器:13mm2電致冷Si-PIN探測器
激發源:40KV/50uA-銀靶端窗一體化微型X光管
檢測時間:10-200秒(可手持式或座立式測試)
檢測對象:固體、液體、粉末
檢測范圍:S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb, Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Cs,Te,U,Th,Hg,S等。Au硫(S)到鈾(U)之間所有元素
可同時分析元素:多至26個元素
元素檢出限:0.001%~0.01%
校正方式:銀(Ag)
安全性:自帶密碼管理員模式,非授權人員無法使用
Data使用性:可在PDA內進行編輯,可導入PC機進行
保存打印,配備海量存儲卡
電源:兩塊鋰電池滿電可連續工作8小時
儀器重量:1.35 Kg
環境溫度:-20℃-+50℃;,環境濕度:不高于85%
儀器配置
PDA / Si-PIN半導體探測器/放大電路/ X光管及高低壓電源
PDA版檢測礦樣元素專用分析軟件/實驗室測試支架(選配)
110V/220V通用充電器;兩塊4000mAh鋰電池、鋰電池充電器
超大容量SD存儲卡,SD卡讀卡器/抗沖擊、耐壓、帶鎖的防水手提箱
核心應用領域,地質礦物勘探、普查
野外巖石、土壤、沉積物和礦石的原位檢測,礦山礦石分布圖的繪制,洗礦過程中原礦、精礦和尾礦的檢測,原礦和精礦采購中礦石品位的測定