puluody光譜油盒
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X-Calibur上海 Xenemetrix能量色散型光譜儀礦石元素分析
Xenemetrix是一家有著30多年經驗，專業從事能量色散X-射線熒光(EDXRF)光譜儀的設計、研發、制造和營銷的廠家。Xenemetrix研發總部位于以色列Migdal Haemek，工廠和銷售部在美國圓石城德克薩斯州。Xenemetrix不斷開發尖端技術，為不斷涌現的分析檢測難題和挑戰提供解決方案。公司的三大類產品為實驗室用EX-6600/X-7600、臺式Genius IF/X-Cite/X-Calibur和車載式分析儀S-Mobile。根據特殊用途，研發了貴金屬分析儀X-PMA、RoHS分析儀RoHS Version、空氣金屬顆粒物分析儀EX-6600AFM等。Xenemetrix產品以其精確、耐用的設計在元素分析領域里占有不可替代的地位。Xenemetrix曾榮獲Frost & Sulllvan2010年EDXRF市場“年度最佳生產線戰略”榮譽稱號，所有產品符合歐盟輻射保護法規(80/836 Euroatom)對電離輻射器械的設計和指導要求。
一、 主要特點(1)、可對C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析；
(2)、6款光管濾光片，更快更精確的測定微量及痕量元素；
(3)、可配備多種探測器，分辨率可低至123eV；
(4)、設計堅固、緊湊，適于移動實驗室，符合沖擊試驗MIL810E規格；
(5)、8/16位樣品盤可選；
(6)、配備集成電腦、專業nEXt＆#8482;分析軟件，操作方便；
二、主要技術參數
| 系統規格 | PD 版本 | SDD 版本 | SDD LE |
| 測量范圍 | Na(11) - Fm (100) | F(9) - Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
| 測量濃度 | ppm -100% | 次 ppm -100% | |
| X-射線管靶材 | Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) | ||
| X-射線管電壓/功率 | 50kV, 50W | ||
| 激發類型 | 直接激發，有管濾光片 | ||
| 探測器 | 電制冷的PIN二極管 | 硅漂移探測器SDD | 超級 SDD |
| 分辨率(FWHM) | 155 eV ± 10eV (5.9Kev時) | 129eV ± 5eV | 123eV ± 5eV |
| 自動進樣器 | 8位 | ||
| 工作環境 | 空氣/真空/氦氣 | ||
| 管濾光片 | 6款軟件可選 | ||
| 操作軟件 | nEXt＆#8482;分析包(包含基礎基本參數法) | ||
| 選配件 | 16位自動進樣器、專業基本參數法、真空泵、CCD攝像頭等 | ||
三、軟件環境 Software Environment
nEXt™軟件操作平臺：簡單、直觀、人性化設計
四、應用領域
石油化工、冶金/合金樣品
環境、石油/燃料/柴油等
礦產地質(含稀土元素)、貴金屬檢測、法鑒
DuraScope智能紅外光譜儀系列一
技術參數 ＊ 金剛石衰減全反射紅外光譜分析技術（ATR） ＊ 38倍錄像 ＊ 很高的信噪比 ＊ 具有多光路模式 ＊ 可升級到控溫如加熱、冷卻以及觀察模式 ＊ 可選石英配置 ＊ 可與所有的傅里葉變換紅外光譜兼容 ＊ 重量: 6.3 kg ＊ 尺寸: 15 x 25 x 38 cm | ||
主要特點 ＊ 僅需少量樣品 ＊ 無需樣品制備 ＊ 對樣品的PH值沒有任何要求 ＊ 樣品臺耐磨 ＊ 實驗后易清理 ＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊可選項＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊ ＊ 加熱模塊，可達100º C ＊ 冷卻模塊，（通過進出口） ＊ 液體測試模塊，可測試液體樣品 ＊ 多反射模塊: 1.39 反射耐用盤 ＊ 可拓展ATR紅外光譜圖庫 ＊ 氣體測試模塊：材質為玻璃的氣體樣品池，可承受壓力為1000 psi. 光路為10 cm ＊ 薄膜測試模塊：Smiths Decetection“獨有”的AmplifiIR™技術是一款45º鏡面反射裝置，專為薄膜測試而設計 | ||
DuraScope 是金剛石衰減全反射紅外光譜分析技術，并附帶DuraVision™軟件；該軟件將錄像顯微鏡的成像功能和金剛石ATR技術的多功能性和簡單性融為一體，錄像系統允許放置小于50mm的樣品，在收集光譜數據的同時可以觀察樣品的形貌。DuraVision™軟件支持基于電腦的截圖功能，以及及時歸檔功能；可以將被測樣品的圖像和光譜一起生成報告。 | ||
edx-9000古董鑒定儀器X熒光光譜儀
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀—特點
·多種觸發方式
·分辨率0.2?（FWHM）
·快速10μs積分時間
·響應范圍200-1100nm，特定的范圍和分辨率依賴于光柵和入射狹縫的選擇。
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀電子快門：10 μs開啟探測器
軟件中積分時間的可由用戶設定，它類似于一個照相機的快門速度：積分時間值即是探測器“察看”所進入光子的總體時間。因為，Toshiba探測器有一個電子 快門，你可通過軟件設定最小積分時間到10μs，這樣就允許你可以測量像激光脈沖如此短暫的事件。使光譜儀的積分時間縮短的能力也消除了在高光水平應用領域如激光分析的飽和度問題。
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀可編程微控制器
集成有可編程微控制器，在控制光譜儀和附件上提供了極大的靈活性。通過一個30針的連接端口，你可以在軟件中執行所有的操作參數：控制光源，創建過程，從外部 獲取信息。有10個可編程數據I/O線，可與其它設備相連；一個模擬輸入和一個模擬輸出，一個脈沖發生器以觸發其它設備。 （GPIOS編程需要OOIBase32 Platinum軟件或其它設備驅動）
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀即插即用操作
通過USB2.0端口或RS-232串口，HR4000與PC，PLC或其它 嵌入式控制器相連。當使用串口時，HR4000需要一個單獨的5瓦電源（未包括）。對每個光譜儀的特性數據被存入HR4000 的存儲器中，光譜儀操作軟件讀取這些數 據，用于設置和在PC間進行數據交換。
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀用于皮級光學分辨率的光譜超級適配器Ocean Optics的合作伙伴Spectral Applied Research的SHA-1光譜超級適配器更進一步改進了HR4000的光學分辨率。
HR4000紫外/可見/近紅外微型光纖光譜儀HR4-BREAKOUTHR4-BREAKOUT是一個外接盒，提供HR4000的不同功能的接口。BREAKOUT盒允許多種與光譜儀的連接，如：外部觸發器、GPIO、光源、RS-232和模擬輸入/輸出。
MS520 系列520mm焦距四光柵光譜儀
- MS520系列光譜儀介紹：
MS520系列光譜儀具有高亮度，精度和光譜分辨等優點。該系列譜儀能讓光柵做很大角度旋轉，因此它能使用階梯光柵得到0.002nm的光譜分辨率，同時針對其他光柵能拓展其光譜操作范圍。MS520為全自動譜儀其焦距為520mm，F/# 為1/5.4，有多種光柵可選，其光譜范圍從185nm到60μm。
MS520系列譜儀基于C-T非對稱光學設計，它能有效較少畸變和阻止來自光柵及鏡面的光線再次入射到譜儀內部。
MS5201i和MS5204i系列擁有像散校正功能的光學元件，可以用于多通道的光譜應用。
MS520系列光譜儀擁有一個入射口和兩個出射口，系統里面有一個自動的鏡子能實現選擇從哪個出射口輸出。無論是哪個出射口都可以安裝出射光譜狹縫或者是多通道探測器。
SOL提供MS520系列單色光譜儀兩種類型的入射及出射光譜狹縫：手動模式（用千分尺螺桿手動操作）和自動模式（手動和自動組合的）。自動模式下狹縫寬度可以自動調節。有多種可以選擇的光柵，這些光柵能保證系統達到高效率的組合及很高的光譜分辨率。
MS520系列譜儀有多種附件可以選擇，比如濾波片輪FWS-8A，高速快門，光纖適配器，探測器等。
MS520系列譜儀的光譜分辨率及光通量都非常高，其分辨率可達0.002nm（中階梯光柵，75grooves/mm）。通過有效設置及所需附件，該系列譜儀非常實用Raman光譜分析以及熒光研究。
MS520系列各型號對比：
|
MS5201 | MS5201i | MS5204 | MS5204i | |
| 衍射單元 | 單一的可手動更換光柵的位置支架 | 單一的可手動更換光柵的位置支架 | 四光柵塔輪 | 四光柵塔輪 |
| 光學系統 | 標準 | 成像 | 標準 | 成像 |
備注：MS5201和MS5204使用標準光學系統，平面入射偏轉鏡；MS5201i和MS5204i使用柱面鏡用作入射偏轉。
MS520 系列譜儀性能參數：
| 光學系統 | |
| 光學設計 | C-T結構 |
| 接口 | 1個輸入，2個輸出 |
| 波長范圍 | 185nm-60μm |
| F/#（入射） | 1/5.4 |
| 焦距（出射） | 520mm |
| 掃描范圍 | 0-1500nm（@ 1200l/mm） |
| 基礎鏡片 | 球面鏡 |
| 散射光 | 1×10-6（20nm@激光波長632.8nm） |
| 焦平面 | 28×10mm |
| 成像（僅限于MS5201i和MS5204i） | |
| 水平放大 | 1.07 |
| 垂直方大 | 1.29 |
| 垂直分辨率 | < 20μm |
| 驅動 | |
| 馬達 | 步進電機 |
| 驅動 | 正弦 |
| 步長 | 0.22 角秒 |
| 精度 | ±1 步長 |
| 最大速度 | 10 000步長/秒 |
| 光學參數 | |
| 備注：①：@1200l/mm，546nm ②：@中階梯光柵75l/mm，200nm，120orders | |
| 色散倒數 | 1.55nm/mm（①） 或0.11nm/mm（②） |
| 光譜分辨率 | |
| PMT(狹縫寬度10μm） | 0.028nm（①）或 0.002nm（②） |
| 數碼相機（12μm/p） | 0.034nm（①）或 0.0024nm（②） |
| 重復性 | ±0.008nm（①）或 ±0.0006nm（②） |
| 波長精度 | ±0.05nm（①）或 ±0.004nm（②） |
| 平均掃描步長 | 0.002nm（①）或 0.00014nm（②） |
| 光柵 | |
| 尺寸 | 80×70×10mm |
| 旋轉 | 光柵工作表面 |
| 定位 | 4光柵塔輪或1光柵支架 |
| 光柵切換波長重復性（光柵1200l/mm，546nm） | ±0.02nm（@4光柵） |
| 光柵切換垂直成像重復性 | ±50μm（@4光柵） |
| 光柵切換波長重復性（光柵1200l/mm，546nm） | ±0.05nm（@1光柵） |
| 光柵切換垂直成像重復性 | ±75μm（@1光柵） |
| 接口 | |
| 入/出射口 | 1個輸入，1或2個輸出 |
| 出射口重復性（自動） | ±0.03nm |
| 切換時間 | 4s |
| 光譜狹縫 | |
| 寬度 | 自動（馬達驅動）或手動（千分尺） |
| 平行度 | 0-20mm,±1μm |
| 精度（縫寬 1mm） | ±10μm |
| 重復性 | ±1μm（±1.5μm@手動） |
| 讀出精度（千分尺） | 2μm |
| 步長 | 0.5μm |
| 高度 | 0-10mm |
| 集成快門 | |
| 透光率（快門關閉） | <0.001% |
| 開關時間 | 約100ms |
| 最大重復頻率 | 1Hz |
| 控制 | 板載CPU或TTL |
| 控制系統 | |
| 內部控制 | 板載CPU |
| 外部控制 | PC |
| 外部接口 | RS-232 |
| 尺寸重量 | |
| 外觀尺寸 | 635×339×270mm |
| 重量 | 25kg （標準配置） |
紅外光譜儀上的透射樣品池
用于揮發性較小的液體樣品、石蠟糊或薄膜樣品的定性分析。每次分析時必須安裝和拆開液體池。配置材質:KRS-5 一對 KRS-5 窗片金屬架:1 套0025mm 厚的鉛墊片: 10 片005mm厚的鉛墊片 :10 片01mm 厚的鉛墊片:10 片
WGD-8/8AWGD-8/8A 型 組合式多功能光柵光譜儀
WGD-8型/8A型多功能光柵光譜儀可用于各大學及研究部門，作為物理實驗教學及光譜分析之用。儀器有兩路出射狹縫分別用光電倍增管與CCD接收，WGD-8A型光譜儀是專門為大學的氫氘實驗、鈉光譜實驗設計的儀器，選用光電倍增管、光柵、狹縫。確保分辨率達到0.06nm※ WGD-8型 波長范圍 光電倍增管接收 200-800nm CCD接收 300-900nm 焦 距 500mm 狹 縫 寬度0-2mm連續可調 示值精度0.01mm 相對孔徑 D/F=1/7 波長精度 ±0.4nm 波長重復性 0.2nm 分 辨 率 優于0.1nm 雜 散 光 ≤10-3 外形尺寸 560＊380＊230mm 重 量 30kg ※ WGD-8A型 波長范圍 光電倍增管接收 200-660nm CCD接收 320-900nm 焦 距 500mm 狹 縫 寬度0-2mm連續可調 示值精度0.01mm 相對孔徑 D/F=1/7 波長精度 ±0.4nm 波長重復性 0.2nm 分 辨 率 優于0.06nm 雜 散 光 ≤10-3 外形尺寸 560＊380＊230mm 重 量 30kg 單色儀、光源、電子系統、操作軟件、接收器件、A/D轉換單元、計算機及彩顯等。附件：DF-1吸收池、DF-2熒光吸收池
EDX-GP能量色散型X射線熒光光譜儀
Labspark 750A納克多基體直讀光譜儀
技術參數
1.焦距:750mm
2.譜線范圍:120-800nm
3.激發頻率:300-1000Hz 4.帕邢-龍格架法真空光學系統
主要特點
1、激發能量、頻率連續可調全數字固態光源，適應各種不同材料
2、原位單次放電采集的專利技術（SDA）提高分析精度
3、可變延時積分技術，大大降低背景干擾
4、高精度光電倍增管負高壓獨立供電連續可調技術，調整更精確，可程序調整，提高 動態范圍
5、單板式透鏡架，擦拭時大大降低對光室的污染
6、基于ARM9的儀器狀態實時監控系統
7、USB采集，通用性更強 8、固態吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高運行穩定性
9、綠光背景燈，加快響應速度，提高短期分析精度
10、銅火花臺底座，提高散熱性及堅固性能 儀器介紹廣泛應用于冶金、鑄造、機械、金屬加工等領域的生產過程控制，中心實驗室成品檢驗。可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag等多種金屬及其合金樣品分析。
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