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光學(xué)平臺產(chǎn)品及廠家

美Coherent 準(zhǔn)分子激光器
美coherent excistarxs準(zhǔn)分子激光器超緊湊、輕型、高度可靠的紫外線光源
更新時間:2025-09-08
英國 Durham 無掩膜光刻機(jī)
nanoarch p130是科研3d打印系統(tǒng),擁有2μm的超高打印精度和5μm的超低打印層厚,從而實(shí)現(xiàn)超高精度的樣件制作,非常適合高校和研究機(jī)構(gòu)用于科學(xué)研究及應(yīng)用創(chuàng)新。
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 光功率計(jì)
the oai solar energy meter measures solar simulator irradiance in "sun" units, for example, with one sun equaling 1000 w/m2 at 25 °c at airmass 1.5 global conditions.
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 型UV光源
30型uv光源是高效的,可用于各種應(yīng)用。光由橢圓形反射器收集并聚焦在積分/聚光透鏡陣列上,以在曝光平面產(chǎn)生均勻的照明。這種紫外光源提供多種光束尺寸,最大24英寸平方,輸出光譜范圍從220 nm到450 nm,使用適當(dāng)?shù)臒簦òǎ]敵龉β史秶鷱?00瓦到5千瓦。所有oai uv光源都易于配備快速更換過濾器組件,使用戶能夠輕松定制輸出光譜。可選配遠(yuǎn)程排氣風(fēng)扇。
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 實(shí)驗(yàn)室用手動曝光機(jī)
oai 200型光刻機(jī)是一種具有成本效益的高性能掩模對準(zhǔn)器,采用經(jīng)過行業(yè)驗(yàn)證的組件,使oai成為光刻設(shè)備行業(yè)的導(dǎo)者。 200型是臺式面罩對準(zhǔn)器,需要小的潔凈室空間。它為研發(fā),或有限規(guī)模,試點(diǎn)生產(chǎn)提供了經(jīng)濟(jì)的替代方案。利用創(chuàng)新的空氣軸承/真空吸盤調(diào)平系統(tǒng),襯底快速平穩(wěn)地平整,用于平行光掩模對準(zhǔn)和在接觸曝光期間在晶片上的均勻接觸。該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)一微米分辨率和對準(zhǔn)精度。
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 型光學(xué)正面和背面光刻機(jī)系統(tǒng)
2012sm型自動邊緣曝光系統(tǒng)為使用標(biāo)準(zhǔn)陰影掩模技術(shù)的邊緣珠去除提供了一種經(jīng)濟(jì)高效的方法。 設(shè)計(jì)用于容納8“到300mm的晶片,該工具具有自動foup裝載。 掩模和基材切換可以快速且容易地實(shí)現(xiàn),從而增加該生產(chǎn)工具的通用性和高產(chǎn)量。
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 自動化邊緣曝光系統(tǒng)
2012sm型自動邊緣曝光系統(tǒng)為使用標(biāo)準(zhǔn)陰影掩模技術(shù)的邊緣珠去除提供了一種經(jīng)濟(jì)高效的方法。 設(shè)計(jì)用于容納8“到300mm的晶片,該工具具有自動foup裝載。 掩模和基材切換可以快速且容易地實(shí)現(xiàn),從而增加該生產(chǎn)工具的通用性和高產(chǎn)量。
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 邊緣曝光系統(tǒng)
兩種型號的2000型曝光系統(tǒng)包括uv光源,強(qiáng)度控制電源和機(jī)器人襯底處理子系統(tǒng)。 uv光源提供發(fā)散半角<2.0%的可調(diào)強(qiáng)度光束。電源從200w到2,000w。強(qiáng)度控制器傳感器直接連接到光源,用于精確的強(qiáng)度監(jiān)控。機(jī)器人襯底處理系統(tǒng)是微處理器控制的,并且可以被編程以適應(yīng)各種各樣的襯底尺寸。
更新時間:2025-09-08
美國 OAI 光刻機(jī)
oai 5000e型大面積掩光刻機(jī)是一種先進(jìn)的高性能,全自動掩模對準(zhǔn)器和曝光工具,可為大型平板應(yīng)用提供超精密,頂,亞微米對準(zhǔn)和分辨率。 其靈活的設(shè)計(jì)允許在各種基材(圓形或方形)上印刷高達(dá)300mm或20“×20”。 曝光系統(tǒng)兼容近,中,或深紫外范圍的光刻膠,并具有計(jì)算機(jī)控制的led顯微鏡照明,在不太理想的觀察環(huán)境中觀察。
更新時間:2025-09-08
德國Eulitha 高分辨紫外光刻系統(tǒng)
phabler 100 紫外光刻機(jī)是一套低成本的光學(xué)曝光系統(tǒng),但卻能獲得高分辨率的周期性結(jié)構(gòu)。同傳統(tǒng)的紫外曝光機(jī)類似,涂覆了光刻膠的晶片以接近方式放置在掩膜版下面,被紫外光束照射。由于eulitha公司擁有突破性的phable 曝光技術(shù),在"phable"模式下,分辨率不再受到衍射的限制,從而曝光出亞微米的線性光柵和二維光柵(六角形和正方形),且曝光結(jié)果非常均勻,質(zhì)量很好。
更新時間:2025-09-08
瑞士 NanoFrazor 3D納米結(jié)構(gòu)高速直寫機(jī)
raith 150 two可實(shí)現(xiàn)亞5nm的曝光結(jié)構(gòu),可處理8”晶元及以下樣片。環(huán)境屏蔽罩保證了系統(tǒng)的熱穩(wěn)定性,提高設(shè)備對實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的容忍度,即使在相對糟糕的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下,也能保證系統(tǒng)的正常穩(wěn)定運(yùn)行。
更新時間:2025-09-08
德國 Raith  150 Two 高分辨電子束曝光系統(tǒng)
raith 150 two可實(shí)現(xiàn)亞5nm的曝光結(jié)構(gòu),可處理8”晶元及以下樣片。環(huán)境屏蔽罩保證了系統(tǒng)的熱穩(wěn)定性,提高設(shè)備對實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的容忍度,即使在相對糟糕的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下,也能保證系統(tǒng)的正常穩(wěn)定運(yùn)行。
更新時間:2025-09-08
德國Raith Voyager 新一代超高分辨率電子束光刻機(jī)
德國raith voyager 新一代超高分辨率電子束光刻機(jī),系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)8英寸樣品的高速曝光。系統(tǒng)的穩(wěn)定性是非常關(guān)鍵的指標(biāo),可保證大面積均勻曝光。該系統(tǒng)外部采用環(huán)境屏蔽罩,即使在稍差的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下,仍然能確保系統(tǒng)具有非常好的熱穩(wěn)定性,提高系統(tǒng)對外界環(huán)境的容忍度。
更新時間:2025-09-08
德國Raith   電子束光刻機(jī)
ebpg5150使用了155mm大小的樣品臺,采用跟ebpg5200一樣的通用光刻平臺設(shè)計(jì),對電子束直寫應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。它可以載入不同大小的樣品,包括多片散片以及完整的硅片。
更新時間:2025-09-08
德Raith 電子束光刻機(jī)
系統(tǒng)中集成了高精度的激光干涉工作臺,運(yùn)動行程為50 x 50 x 25mm,xy方向定位精度為2nm,可以實(shí)現(xiàn)精確的拼接套刻,拼接套刻精度≤50nm。
更新時間:2025-09-08
德國 KSI  單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡
ksi v400e 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡,是實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機(jī)型。
更新時間:2025-09-08
德國 KSI 單探頭超聲波掃描顯微鏡
ksi v300e 單探頭超聲波掃描顯微鏡,掃描機(jī)械機(jī)構(gòu)
更新時間:2025-09-08
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f,它繼承了上一代廣獲好評的性能如高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時,操作性能大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其佳性能。
更新時間:2025-09-08
日本JEOL發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f,它繼承了上一代廣獲好評的性能如高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時,操作性能大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其佳性能。
更新時間:2025-09-08
日本JEOL能譜儀
日本jeol能譜儀jed-2300/2300f analysis station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的tem/eds集成系統(tǒng)。通過與sem的馬達(dá)驅(qū)動樣品臺聯(lián)動使用,可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。 eds通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品特征x射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)分析、線分析及面分析。
更新時間:2025-09-08
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500,是jeol intouchscope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。
更新時間:2025-09-08
日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7200f,jsm-7200f的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-jsm-7800f prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù),標(biāo)配了ttls系統(tǒng)(through-the-lens system),因此無論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統(tǒng)機(jī)型有了很大的提升。
更新時間:2025-09-08
百及納米PancanNano電子束光刻機(jī)
新一代超高精度電子束光刻機(jī) p21,樣品尺寸覆蓋 2/4/6 英寸晶圓,超高寫場拼接精度,電子束閉環(huán)控制系統(tǒng),束流的時間及空間穩(wěn)定性高,高性能 30 kv 電子束光刻機(jī)。
更新時間:2025-09-08
OptiCool超精準(zhǔn)全開放強(qiáng)磁場低溫光學(xué)研究平臺
opticool超精準(zhǔn)全開放強(qiáng)磁場低溫光學(xué)研究平臺,系統(tǒng)擁有3.8英寸超大樣品腔、雙錐型劈裂磁體,可在超大空間為您提供高達(dá)±7t的磁場。多達(dá)7個側(cè)面窗口、1個頂部超大窗口方便光線由各個方向引入樣品腔,高度集成式的設(shè)計(jì)讓您的樣品在擁有低溫磁場的同時擺脫大型低溫系統(tǒng)的各種束縛。
更新時間:2025-09-08
低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡
attoafm/attomfm/attoshpm 低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡,采用模塊化的設(shè)計(jì)。利用標(biāo)配的控制器和樣品掃描臺,用戶僅需要更換掃描頭和對應(yīng)的光學(xué)部件即可實(shí)現(xiàn)不同功能之間的切換。
更新時間:2025-09-08
美國TED 高分辨離子濺射儀
208hr高分辨離子濺射儀-適用于場發(fā)射掃描電鏡,可選擇多種鍍膜材料,精確的膜厚控制,樣品臺控制靈活,多個樣品座,樣品室?guī)缀慰勺儯瑢挿秶牟僮鲏毫Γo湊、現(xiàn)代的桌上型設(shè)計(jì),操作容易。
更新時間:2025-09-08
全自動上側(cè)或后側(cè)光刻機(jī)
oai 6000 fsa 全自動上側(cè)或后側(cè)光刻機(jī),具有完全自動化的亞微米分辨率的頂側(cè)或背側(cè)對齊,提供無與倫比的性價(jià)比。
更新時間:2025-09-08
德國KSI 四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),四探頭系統(tǒng),同時使用4只換能器
更新時間:2025-09-08
德國 KSI 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),該系統(tǒng)同時使用8只換能器,能最大限度的確保快速圖像采集和高效能。
更新時間:2025-09-08
KSI 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡
ksi v1000e 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡,用于研發(fā)和生產(chǎn)部門檢測特大件樣品
更新時間:2025-09-08
德國KSI 單探頭超聲波掃描顯微鏡
ksi v700e 單探頭超聲波掃描顯微鏡,用于檢測大件樣品
更新時間:2025-09-08
接觸角測量儀
100s接觸角測量儀是采用光學(xué)成像的原理,通過圖像輪廓分析方式測量樣品表面接觸角、潤濕性能、表界面張力、表面能等性能,設(shè)備性價(jià)比高、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需要。
更新時間:2025-09-08
德國KRUSS標(biāo)準(zhǔn)型DSA25接觸角測量儀
德國kruss標(biāo)準(zhǔn)型dsa25接觸角測量儀,接觸角測量范圍:0-180,接觸角測量精度:±0.10,表界面張力測量范圍:0-1000mn/m;測量精度:0.01 mn/m
更新時間:2025-09-08
紫外單面光刻機(jī)
ure-2000 系列紫外單面光刻機(jī)此系列包含六種型號:ure-2000a,ure-2000b,ure-2000/35,ure-2000/35a,ure-2000/25,ure-2000/17
更新時間:2025-09-08
紫外雙面光刻機(jī)
ure-2000s 系列雙面光刻機(jī),對準(zhǔn)精度:±2 mm(雙面,片厚 0.8mm),±0.8mm(單面)
更新時間:2025-09-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器kc-31 ( 光散射法),測試粒徑(6個通道),大粒子數(shù)濃度:28000000 顆/l
更新時間:2025-09-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kc-32 ( 光散射法)測試粒徑(6個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm, ≥10μm
更新時間:2025-09-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kc-20a ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥10μm, ≥20μm , ≥30μm , ≥50μm, ≥100μm
更新時間:2025-09-08
日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器:ka-05( 光散射方式),多點(diǎn)監(jiān)視用粒子計(jì)數(shù)器,測試粒徑(2個通道):≥0.5μm , ≥5.0μm
更新時間:2025-09-08
日本RIO液體粒子計(jì)數(shù)器
日本rio液體粒子計(jì)數(shù)器ke-18fx ( 光散射法),測試粒徑(4個通道):≥0.04μm, ≥0.08μm , ≥0.1μm , ≥0.15μm,
更新時間:2025-09-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀 ks-42d ( 光散射法),大粒子數(shù)濃度:10 000 顆/l (誤差值低于10%),粒徑范圍(8個通道,出廠默認(rèn)):≥2μm, ≥3μm , ≥5μm , ≥7μm, ≥10μm, ≥25μm , ≥50μm , ≥100μm(可選 ≥150μm)
更新時間:2025-09-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器:kl-30ax ( 光散射法),大粒子數(shù)濃度:15 000 顆/l (誤差值低于10%), 粒徑范圍(4個通道,工廠標(biāo)配):≥0.04μm, ≥0.08μm , ≥0.1μm , ≥0.15μm
更新時間:2025-09-08
日本理音RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-30a ( 光散射法), 測純水,可打印。大粒子數(shù)濃度:15 000 顆/l (誤差值低于10%), 粒徑范圍(4個通道,出廠設(shè)置):≥0.05μm, ≥0.1μm , ≥0.15μm , ≥0.2μm
更新時間:2025-09-08
日本理音RION 氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-30b ( 光散射法), 測純水,可打印。大粒子數(shù)濃度:200 000 顆/l (誤差值低于10%),粒徑范圍(4個通道,出廠設(shè)置):≥0.05μm, ≥0.1μm , ≥0.15μm , ≥0.2μm
更新時間:2025-09-08
日本理音RION 手持式粒子計(jì)數(shù)器
日本rion 手持式粒子計(jì)數(shù)器:kc-51( 光散射方式),大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/m³ (誤差值低于10%)
更新時間:2025-09-08
日本理音RION 手持式粒子計(jì)數(shù)器
日本rion 手持式粒子計(jì)數(shù)器:kc-52( 光散射方式),粒徑范圍:5個通道: 0.3μm , 0.5μm , 1.0μm , 2.0μm, 5.0μm, 大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/m³ (誤差值低于10%)
更新時間:2025-09-08
日本理音RION 氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:ka-02( 光散射方式),多點(diǎn)監(jiān)視用粒子計(jì)數(shù)器,測試粒徑(2個通道):≥0.3μm , ≥0.5μm,大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/l (誤差值低于10%)
更新時間:2025-09-08
日本理音RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:ka-03( 光散射方式),多點(diǎn)監(jiān)視用粒子計(jì)數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm , ≥0.5μm ,≥1μm , ≥2μm ,≥5μm ,大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/l (誤差值低于10%)
更新時間:2025-09-08
日本理音RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:ka-82( 光散射方式),多點(diǎn)監(jiān)視用粒子計(jì)數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.1μm , ≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm ,大粒子數(shù)濃度:10 000顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:2025-09-08
綠光納鉆孔設(shè)備
玻璃去油墨設(shè)備,采用訂制紫外納激光器對玻璃表面進(jìn)行去油墨以及油墨微加工, 將產(chǎn)品損傷降至低。
更新時間:2025-09-08

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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